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    램프의 불량품 선별장치 및 그 선별방법
    121.
    发明授权
    램프의 불량품 선별장치 및 그 선별방법 失效
    用于分拣有缺陷灯的设备和选择它们的方法

    公开(公告)号：KR1019900005117B1

    公开(公告)日：1990-07-19

    申请号：KR1019860006381

    申请日：1986-09-06

    Applicant: 가부시끼가이샤 도시바

    Inventor： 유아사구니오 ,  스기야마하루오 ,  나가이마사오 ,  쓰지하라야스시 ,  기하라구니히꼬 ,  아까이시다까오

    IPC: H01K3/00 ,  H01K3/30

    CPC classification number: G01J3/2889 ,  G01J3/433 ,  G01J3/457 ,  G01N21/67

    Abstract: The lamp quality judgement appts. includes a discharge generator that imposes a high voltage across the bulb of a lamp in which gas and a filament coil of the lamp are sealed and causes producion of a discharge in which a light spectrum of wavelengths in a range of 550- 570 nm is radiated in said lamp. A light spectrum analyser processes the state of the light specturm radiated by the discharge. The repetition frequency of the discharge produced by the generator is made 1 kHz or less. The repetition frequency of the discharge is made that of a commercial line frequency eg. 50Hz. The discharge generator produces a high voltage with repeated quiescent periods.

    Abstract translation: 灯的质量判断appts。 包括放电发生器，其在灯的灯泡上施加高电压，其中灯的气体和灯丝线圈被密封，并且产生其中辐射550-570nm范围内的波长的光谱的放电的产生 在灯中。 光谱分析仪处理由放电辐射的光谱的状态。 由发电机产生的放电的重复频率为1kHz以下。 放电的重复频率为商业线频率，例如。 50赫兹。 放电发生器产生具有重复静止期的高电压。

    分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法
    123.
    发明专利
    分析装置、分析装置用プログラム及び分析方法 审中-公开

    公开(公告)号：JP2018096974A

    公开(公告)日：2018-06-21

    申请号：JP2017193620

    申请日：2017-10-03

    Applicant: 株式会社堀場製作所

    Inventor： 渋谷 享司 ,  福城 顕輔 ,  太田 敏雄 ,  西村 克美

    IPC: G01N21/3504 ,  G01N21/39

    CPC classification number: G01N21/39 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4338 ,  G01N21/3504 ,  G01N2021/399

    Abstract: 【課題】光吸収を利用した分析装置において、測定対象成分の吸光度又は濃度を、簡単な演算で、かつ、光源強度の変動や他物質による干渉の影響等を排除して精度よく測定できるようにする。 【解決手段】所定の変調周波数で波長が変調する光である参照光を射出する光源2と、前記参照光が前記測定対象成分を透過した光である測定対象光の強度及び前記参照光の強度とを検出する光検出器3と、前記測定対象光の強度と前記参照光の強度との比の対数である強度比対数を算出する第1算出部61と、前記強度比対数を前記変調周波数のn倍(nは1以上の整数)の周波数を有する参照信号でロックイン検波する周波数成分抽出部62と、前記周波数成分抽出部62による検波結果に基づいて、前記測定対象成分の濃度又は吸光度を算出する第2算出部63とを具備するようにした。 【選択図】図4

    光学分光法での光学的ノイズ管理のためのシステム、方法、および装置
    127.
    发明专利
    光学分光法での光学的ノイズ管理のためのシステム、方法、および装置 审中-公开
    光学光谱中光学噪声管理的系统，方法和装置

    公开(公告)号：JP2015200654A

    公开(公告)日：2015-11-12

    申请号：JP2015078268

    申请日：2015-04-07

    Applicant: 横河電機株式会社

    Inventor： アナトリー・エー・コステロフ

    IPC: G01J3/02 ,  G01N21/27 ,  G01J3/433

    CPC classification number: G01J3/0297 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G02F1/0131 ,  G02F1/0147 ,  G02F1/19 ,  G02F1/21

    Abstract: 【課題】光学分光法のために利用される機器内の光伝搬のための異なる経路間の光学干渉から生じる光学的ノイズを抑制するシステム、方法、および装置を提供する。 【解決手段】光学分光法に利用される機器の1つまたは複数の部品を形成するまたはそれらに含有される媒体の屈折率に対する変更による光学スペクトルでの光学干渉縞の抑制を含む。そのような変更は、媒体の少なくとも1つを通って伝搬する光の光学経路の変化をもたらすことができ、結果として異なる光学経路を通って伝搬する光間の干渉のスペクトル構造の変化が起きる。ある実施形態では、1つまたは複数の部品を形成するまたはそれらに含有される媒体の屈折率は、1つまたは複数の部品の少なくとも1つへの時間依存刺激の適用を通じて変更されてもよい。加えられる刺激は、圧力、機械的歪みもしくは応力、温度、それらの組合せ、または同様のものを含むことができる。 【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题：提供抑制由用于光学光谱的装置中的光学传播的不同路由之间的光学干涉引起的光学噪声的系统，方法和装置。解决方案：一个方面包括抑制光谱中的光学干涉条纹 由于对用于光学光谱的设备的一个或多个组件中形成或包含的介质的折射率的修改。 这种修改可以产生通过至少一个介质传播的光的光路的变化，导致通过不同光路传播的光之间的干涉的光谱结构的变化。 在某个实施方案中，形成或包含在一个或多个组分中的介质的折射率可以通过对一个或多个组分中的至少一个施加时间依赖性刺激来改变。 施加的刺激可以包括压力，机械应变或应力，温度，其组合等。

    Spectrometer
    129.
    发明专利
    Spectrometer 有权
    光谱仪

    公开(公告)号：JP2014013177A

    公开(公告)日：2014-01-23

    申请号：JP2012150346

    申请日：2012-07-04

    Applicant: Seiko Epson Corp ,  セイコーエプソン株式会社

    Inventor： NISHIMURA AKIYUKI

    IPC: G01J3/26

    CPC classification number: G01J3/433 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/26 ,  G02B26/001

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a spectrometer capable of performing quick spectroscopic measurement.SOLUTION: A spectrometer 1 comprises: a fixed substrate having a fixed reflection film; a movable substrate having a movable reflection film; a wavelength variable interference filter 5 provided with an electrostatic actuator for changing a gap amount of an inter-reflection film gap between the fixed reflection film and the movable reflection film; a detection section 11 for detecting light intensity of light taken out by the wavelength variable interference filter 5; a voltage setting section 21 and a voltage control section 15 for applying a continuously varying analog voltage to the electrostatic actuator; a voltage monitoring section 22 for monitoring the voltage applied to the electrostatic actuator; a storage section 30 for storing V-λ data therein; and a light intensity acquisition section 24 for acquiring the light intensity detected by the detection section 11 at timing when the light transmitted through the wavelength variable interference filter 5 has a measuring object wavelength on the basis of the voltage monitored by the monitoring section 22.

    Abstract translation: 要解决的问题：提供能够进行快速光谱测量的光谱仪。解决方案：光谱仪1包括：具有固定反射膜的固定基板; 具有可动反射膜的可动基板; 设置有用于改变固定反射膜和可动反射膜之间的反射膜间隙的间隙量的静电致动器的波长可变干涉滤光器5; 用于检测由波长可变干涉滤光器5取出的光的光强度的检测部分11; 电压设定部21和电压控制部15，用于向静电致动器施加连续变化的模拟电压; 用于监视施加到静电致动器的电压的电压监视部分22; 用于在其中存储V-λ数据的存储部分30; 以及光强度获取部分24，用于在透过波长可变干涉滤光器5的光具有基于由监视部分22监视的电压的测量对象波长的定时获取由检测部分11检测的光强度。

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