公开(公告)号：CN108780042A

公开(公告)日：2018-11-09

申请号：CN201780016835.8

申请日：2017-01-13

Applicant: 尼克根合伙IP有限责任公司

Inventor： 苏莱曼·阿什拉斐

IPC: G01N21/59

CPC classification number: G01N21/65 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/1455 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J3/44 ,  G01N21/21 ,  G01N21/3586 ,  G01N2021/6417 ,  G01N2021/655 ,  G01N2201/0675

Abstract: 一种用于检测样品中的物质的装置，包括用于引导至少一个光束穿过样品的发光单元。多个单元接收通过所述样品的所述光束，并基于所述接收的光束来执行所述样品的光谱分析。所述多个单元中的每一个单元分析有关所述样品的不同参数，以提供关于所述分析的单独的输出信号。处理器检测与所提供的单独的输出信号有关的物质。

公开(公告)号：CN105980819A

公开(公告)日：2016-09-28

申请号：CN201580007227.1

申请日：2015-02-03

Applicant: 浜松光子学株式会社

Inventor： 能野隆文 ,  柴山胜己

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/18 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0256 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/18 ,  G01J3/1838 ,  G01J3/24 ,  G01J3/2803

Abstract: 本发明的分光器(1A)具有分光单元(2A)、(2B)、(2C)。分光单元(2A)具有的光通过部(21A)、反射部(11A)、共通反射部(12)、分光部(40A)和光检测部(22A)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL1)排列。分光单元(2B)具有的光通过部(21B)、反射部(11B)、共通反射部(12)、分光部(40B)和光检测部(22B)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL2)排列。分光单元(2C)具有的光通过部(21C)、反射部(11C)、共通反射部(12)、分光部(40C)和光检测部(22C)，从Z轴方向看时，沿着基准线(RL3)排列。基准线(RL1)与基准线(RL2)、(RL3)交叉。

公开(公告)号：CN104501954B

公开(公告)日：2016-06-22

申请号：CN201410756105.X

申请日：2014-12-10

Applicant: 四川大学

Inventor： 冯国英 ,  姚轲 ,  张弘 ,  周寿桓

IPC: G01J3/28 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/2889 ,  G01J11/00

Abstract: 本发明提供的基于脉冲同步测量技术的光谱特性测试仪，包括同步控制器、脉冲光源、高速采集卡、计算机系统、第一光电探测器、第二光电探测器和测试光路系统；所述同步控制器有四个输出端，其中两个输出端一个与脉冲光源相连，另一个与计算机相连。同步控制器的另外两个输出端分别与高速采集卡的两个通道相连，对应输出的两路信号分别作为两个通道的外触发信号，用于控制高速采集卡采集对应两个通道中的信号；所述高速采集卡的两个通道同时分别与第一光电探测器和第二光电探测器连接。该测试仪可以精确测量宽波长范围、宽脉宽范围的光脉冲信号。

公开(公告)号：CN105403943A

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：CN201510551932.X

申请日：2015-09-01

Applicant: 科迪斯有限公司

Inventor： 安德雷·沃克 ,  安德列·斯塔玛沙纳

IPC: G02B5/30

CPC classification number: G02B5/3008 ,  B29D11/00644 ,  C03C14/006 ,  C03C17/09 ,  C03C23/0025 ,  C03C23/007 ,  C03C2214/08 ,  C03C2217/252 ,  C03C2218/33 ,  C03C2218/34 ,  G01J3/0224 ,  G02B5/3058 ,  G02B27/286 ,  G03F7/70

Abstract: 本发明涉及一种结构化偏振器及其制备方法。包括由介电材料形成的一个基板，其中嵌入伸长的金属微粒形成一个偏振层，该偏振层包括具有整体沿一个第一方向对齐的第一伸长金属微粒的多个第一偏振区域和具有第二金属微粒的多个第二区域，其中该第一偏振区域和该第二区域并排排列以确保相互临近，该第一偏振区域的第一金属微粒与该第二区域的第二金属微粒均排列在该偏振层的相同平面内，相对于到该第一偏振区域和该第二区域之间一条边界距离为0.5μm和1μm处的该第一偏振区域内的该第一方向的偏振度大于90％，且相对于到该第一偏振区域和该第二区域之间一条边界距离为0.5μm和1μm处的该第二区域内的该第一方向的偏振度小于10％。

公开(公告)号：CN105209868A

公开(公告)日：2015-12-30

申请号：CN201480016422.6

申请日：2014-01-16

Applicant: 莱顿大学

Inventor： 克里斯托夫-乌利齐·凯勒 ,  法兰斯·斯尼克

IPC: G01J1/04 ,  G01J3/14 ,  G01J4/00 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0224 ,  G01J1/0425 ,  G01J1/4228 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/14 ,  G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  G02F1/0136

Abstract: 一种偏振测量装置，其包括多条柔性光导管和各偏振调制器，每条所述光导管具有第一和第二端，所述偏振调制器与每条光导管相关联，其中每条光导管被配置成经由所述第一端接收来自空间中的不同预定区域的入射光，并且使所述光经由该第二端传输至检测器，其中所述偏振调制器被配置成调制光的偏振，以使得入射光的部分或完全偏振状态能够由针对每条光导管的检测器单元来确定。

公开(公告)号：CN102171544B

公开(公告)日：2014-08-27

申请号：CN200980139151.2

申请日：2009-09-24

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R·A·M·希克梅特 ,  E·J·梅杰尔 ,  T·范伯梅尔

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/51 ,  G01J3/02 ,  G02B5/30 ,  G01J3/12 ,  G02F1/137

CPC classification number: G01J3/2803 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/12 ,  G01J3/32 ,  G01J3/36 ,  G01J3/505 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/1213 ,  G02B5/3016 ,  G02F1/13718 ,  G02F2001/133541 ,  G02F2001/13775

Abstract: 本发明涉及用于测量电磁频谱部分上的光特性的光谱检测器，所述光谱检测器包含胆甾型液晶材料和切换装置，所述切换装置能够改变胆甾型液晶材料的螺距，使得响应于所述切换装置而调整所述透射波长带的位置。光谱检测器可进一步包含至少一个光方向选择结构，用于选择入射到光谱检测器上的具有一定入射角度的光。本发明还涉及包括本发明的光谱检测器的发光系统。

公开(公告)号：CN102829870B

公开(公告)日：2014-07-16

申请号：CN201210326081.5

申请日：2012-09-05

Applicant: 天津奇谱光电技术有限公司

Inventor： 高培良

IPC: G01J3/45 ,  G02F1/1347 ,  G02F1/1333 ,  G02F1/11

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/1256 ,  G01J3/32 ,  G02B26/001 ,  G02F1/33 ,  G02F2001/213 ,  G02F2201/58

Abstract: 本发明涉及一种光学频谱分析设备，其技术特点是：包括一个可调谐法布里-珀罗滤波器、一个可调谐声光滤波器、第一光电探测器、第二光电探测器以及系统控制和数据分析系统；入射光首先通过可调谐法布里-珀罗滤波器滤波，其输出光束通过可调谐声光滤波器滤波，其输出的两束偏振态相互垂直并具有一定分离夹角的线偏振光束分别由第一光电探测器和第二光电探测器接收；所述的系统控制和数据分析系统用于实现光学频谱分析设备对入射光的功率和光谱的检测功能。本具有无机械移动部件、性能稳定可靠、尺寸小、易于安装及生产等特点，满足了小尺寸和极端环境下的需求，可广泛用于激光器、光学测试、光纤通讯、生物、医疗器械和光纤传感器网络等领域中。

公开(公告)号：CN103292901A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310057156.9

申请日：2013-02-22

Applicant: 索尼公司

Inventor： 辰田宽和 ,  田中英一 ,  堂胁优

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/04 ,  G01J3/18 ,  G01J3/02 ,  G02B17/02 ,  G02B27/42

CPC classification number: G01J3/18 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0213 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/10 ,  G01J3/44 ,  G02B5/1814 ,  G02B27/0905 ,  G02B27/0927 ,  G02B27/0933

Abstract: 本发明涉及光谱测定光学系统和使用该光谱测定光学系统的光谱测定仪。所述光谱测定光学系统包括：反射部件，其具有沿第一圆形形成的凹面；衍射光栅，其具有边缘部和沿第二圆形形成的凸面，所述第二圆形与所述第一圆形同心地布置，在所述反射部件的所述凹面处被反射的光入射到所述衍射光栅上；以及输入元件，其相对于所述反射部件及所述衍射光栅布置在预定位置处，使得衍射光在输入至所述光谱测定光学系统的输入光与所述衍射光栅的所述边缘部之间穿过。所述衍射光自所述衍射光栅射出、具有不小于600nm且不超过1100nm的波长区域、并且在所述凹面处被反射。根据本发明的光谱测定光学系统和光谱测定仪，能够用于检测具有特定波长范围的光。

公开(公告)号：CN103162832A

公开(公告)日：2013-06-19

申请号：CN201110427910.4

申请日：2011-12-19

Applicant: 中国科学院微电子研究所 ,  北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 李国光 ,  刘涛 ,  赵江艳 ,  郭青杨 ,  艾迪格·基尼欧 ,  马铁中 ,  夏洋

IPC: G01J3/447 ,  G01J3/02 ,  G01B11/06 ,  G01B11/24 ,  G01N21/21 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01J3/447 ,  G01B11/02 ,  G01B2210/56 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/42 ,  G01N21/21 ,  G01N2021/213 ,  G02B27/14 ,  G02B27/40

Abstract: 本发明提供的一种包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪包括光源、第一反射单元、第一聚光单元、第二聚光单元、偏振器、第一曲面反射镜、第一平面反射镜、第二反射单元和探测单元。本发明还提供一种光学测量系统。本发明提供的包含参考光束的垂直入射宽带偏振光谱仪实现了分光后的光束的完整结合，在提高光通效率的同时，还能保持光束的偏振状态，而且系统的复杂程度比现有技术低。

公开(公告)号：CN102269859A

公开(公告)日：2011-12-07

申请号：CN201010531837.0

申请日：2010-11-04

Applicant: 北京智朗芯光科技有限公司

Inventor： 李国光 ,  严晓浪 ,  马铁中 ,  艾迪格·基尼欧 ,  刘涛

IPC: G02B7/182 ,  G02B7/198 ,  G02B27/28 ,  G02B5/10 ,  G01N21/01 ,  G01N21/21 ,  G01B11/06

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0224 ,  G01N21/21

Abstract: 本发明涉及一种聚焦系统、聚焦方法和光学测量设备。该聚焦系统包括用于改变会聚光束传播方向，将光束会聚于样品表面的至少一个平面反射镜。使用本发明的聚焦系统不仅可以通过简单的操作调节聚焦，而且还可保持会聚光束的偏振状态，即，可以保持任意偏振光的偏振特性。