公开(公告)号：CN102597964B

公开(公告)日：2015-07-08

申请号：CN201080049869.5

申请日：2010-09-27

Applicant: 高通股份有限公司 ,  株式会社爱德万测试

Inventor： 古斯塔沃·哈维尔·里韦拉·特雷维尼奥 ,  迈克尔·G·巴克 ,  凯利·琼斯

IPC: G06F11/263

CPC classification number: G06F11/263

Abstract: 本发明描述一种用于启用并行测试的方法。所述方法包括在计算装置上产生多个测试对象。所述多个测试对象是使用基于基本测试类的衍生类来产生且所述多个测试对象中的每一者对应于被测装置DUT中的单独块。所述方法还包括将所述多个测试对象添加到队列及将基于所述多个测试对象的信息发送到自动测试设备ATE。所述方法还包括使所述ATE使用所述多个测试对象并行地测试所述DUT中的所述单独块。

公开(公告)号：CN104620094A

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201380047033.5

申请日：2013-08-22

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 桥本昌一 ,  入泽昭好

IPC: G01N21/3581

CPC classification number: G01N21/59 ,  G01J9/00 ,  G01N21/3586

Abstract: 本发明的光测定装置具备主激光器、从激光器、照射光脉冲输出器、以及被测定信号输出器。根据该光测定装置，主激光器输出主激光脉冲。从激光器输出重复频率或相位与上述主激光脉冲不同的从激光脉冲。另外，照射光脉冲输出器接受上述主激光脉冲，输出照射光脉冲。被测定信号输出器接受向被测定物照射上述照射光脉冲而得到的被测定光脉冲，进而在接受了上述从激光脉冲的时刻，输出与上述被测定光脉冲的功率对应的被测定信号。另外，修正上述被测定信号的测定误差。

公开(公告)号：CN104168833A

公开(公告)日：2014-11-26

申请号：CN201380012592.2

申请日：2013-05-02

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 伊田泰一郎 ,  川口康

IPC: A61B8/00 ,  G01N21/00 ,  G01N29/00

CPC classification number: G01N29/38 ,  A61B5/0095 ,  A61B8/4281 ,  A61B8/429 ,  A61B8/5269 ,  G01N21/1702 ,  G01N29/2418 ,  G01N29/343 ,  G01N29/44 ,  G01N2021/1708

Abstract: 本发明的光声波测定装置，从光声波传感器接收电信号，所述光声波传感器具备：(a)脉冲光输出部，其输出脉冲光；(b)配置部件，其使所述脉冲光透过，配置在所述脉冲光输出部的脉冲光输出端与测定对象之间；(c)光声波检测部，其接收通过所述脉冲光在所述测定对象中产生的光声波，并将其转换成所述电信号，其中，所述光声波检测部比所述脉冲光输出端更远离所述测定对象。该光声波测定装置还具备：电信号记录部，其从所述光声波传感器接收所述电信号并记录；噪声定时推定部，其根据所述配置部件的厚度，推定在所述电信号中产生噪声的定时；噪声去除部，其从所述电信号记录部的记录内容中去除被推定的所述定时的所述电信号。

公开(公告)号：CN102077505B

公开(公告)日：2014-01-15

申请号：CN200880130172.3

申请日：2008-07-25

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 藤部亮 ,  须田昌克

IPC: H04L7/00

CPC classification number: H04L7/0338

Abstract: 第二锁存器(24)利用具有与第一时钟(CK1)相同的频率的第三时钟(CK3)锁存第一锁存器(22)的输出数据(Dm1)。第三锁存器(26)利用具有第一时钟(CK1)以及第三时钟(CK3)的N倍(N为自然数)的频率的第二时钟(CK2)锁存第二锁存器(24)的输出数据(Dm2)。第二时钟(CK2)和第三时钟(CK3)处于分频/倍增关系。

公开(公告)号：CN103293459A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201310064591.4

申请日：2013-02-28

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 日下崇 ,  石田雅裕

IPC: G01R31/26 ,  H02J1/02

CPC classification number: G01R31/2832 ,  G01R31/31924 ,  H02M3/156 ,  H02M2001/0019

Abstract: 本发明提供一种试验装置，其电源装置能够以较小耗电对任意的电源电压波形进行仿真。主电源（10）的输出端子Po经由电源线LVDD而与DUT1的电源端子P1连接，反馈控制从输出端子PO输出的输出电源VOUT，以使得与电源端子P1的电源电压VDD相对应的检测值ＶDD’接近目标值VREF’。电源控制部（90）在向DUT1提供测试模式时，前馈控制主电源（10），以使得电源电压VDD接近规定的目标波形VTGT。

公开(公告)号：CN102066962B

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN200880129912.1

申请日：2008-07-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 矢野刚之

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2887

Abstract: 本发明公开了一种测试头移动装置(10)，包括使测试头(100)升降的升降臂(15)、使测试头(100)在水平方向上移动的框架(11)和根据测试头(100)的高度禁止框架(11)的水平移动的连锁机构(20)，连锁机构(20)具有检测出测试头(100)位于最低限的限制开关(23)和可使按压单元(50)抵接于地面的制动装置(30)。

公开(公告)号：CN102971638A

公开(公告)日：2013-03-13

申请号：CN201080067916.9

申请日：2010-07-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 津藤胜

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G06F17/00 ,  G01R31/2601 ,  G01R31/31726 ,  G01R31/31908

Abstract: 同步模式生成部（12）生成同步模式SYNC_PAT，所述同步模式是为了保持内置在DUT中的时钟再生部（54）与外部的链接而需要的同步模式。门信号生成部（16）生成门信号FGATE，在需要向DUT供给矢量模式VECT_PAT的期间，所述门信号有效。在第一模式下，在门信号FGATE有效的期间，模式选择部（18）输出矢量模式VECT_PAT；在门信号无效的期间，模式选择部（18）固定输出电平。在第二模式下，在门信号FGATE有效的期间，模式选择部（18）输出矢量模式VECT_PAT，在门信号无效的期间，模式选择部（18）输出同步模式SYNC_PAT。

公开(公告)号：CN102841250A

公开(公告)日：2012-12-26

申请号：CN201210212089.9

申请日：2012-06-21

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 饭田实 ,  木村卓史

IPC: G01R23/16

CPC classification number: G01R23/16 ,  G01R35/005

Abstract: 本发明提供信号测定装置以及信号测定方法。本发明的信号测定装置具备多个混频器、单一本地信号源、差分测定部、电平相位测定部以及差分修正部。根据上述那样构成的信号测定装置，多个混频器输出与两个输入的频率的差相等的频率的信号，单一本地信号源对所述多个混频器赋予共用的本地信号。此外，差分测定部测定对所述多个混频器赋予了共用的修正信号输入时的所述多个混频器的输出间的电平差以及相位差，电平相位测定部测定在对所述多个混频器赋予了共用频率的被测定信号输入时，所述多个混频器的输出的电平以及相位。差分修正部根据所述差分测定部的测定结果修正对所述多个混频器赋予了共用的被测定信号输入时的所述电平相位测定部的测定结果。

公开(公告)号：CN102823148A

公开(公告)日：2012-12-12

申请号：CN201180017327.4

申请日：2011-03-31

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 古川康夫

IPC: H04B5/00 ,  H02J5/00

CPC classification number: H04B5/0037 ,  H02J5/005 ,  H02J50/12 ,  H04B5/0087 ,  H04B5/0093

Abstract: 无线电力接收装置300接收从无线电力供给装置发来的电力信号S1，所述电力信号S1包括电场、磁场或电磁场中的任一种。接收线圈L2被配置成接收所述电力信号S1。电力存储电容器C3被布置成具有设置为固定电位的第一端子。第一开关SW1和第二开关SW2串联连接以形成包括所述接收线圈L2的闭合环路。连接所述第一开关SW1和所述第二开关SW2的连接点N1连接到所述电力存储电容器C3的第二端子。第三开关SW3和第四开关SW4依次串联布置以形成与包括所述第一开关SW1和所述第二开关SW2的路径并联布置的路径。连接所述第三开关SW3和所述第四开关SW4的连接点N2被设置成固定电位。

公开(公告)号：CN101617241B

公开(公告)日：2012-10-03

申请号：CN200880005585.9

申请日：2008-01-18

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山下毅

IPC: G01R31/26

CPC classification number: G01R31/2891

Abstract: 本发明提供一种能够分别管理对电子部件的裸片和基板的按压载荷、能够根据需要细致地管理此时对电子部件的裸片的按压载荷、并且能够提高按压部件相对于电子部件的裸片的紧贴度的电子部件按压装置等。本发明是一种用于将被试验电子部件的端子压在测试头的接触部上的电子部件按压装置，具备：按压IC器件(8)的裸片(81)的第一按压部件(51)；按压IC器件(8)的基板(82)的第二按压部件(52)；以及当第一按压部件(51)按压IC器件(8)的基板(82)时使第一按压部件(51)与该裸片(81)紧贴的万向支架机构(54)。四个气压缸(56)对万向支架机构(54)赋予按压载荷，同时，能够任意地设定该按压载荷或者对其进行微调。