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公开(公告)号：CN103185849A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201210574183.9
申请日：2012-12-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 山下毅
IPC: G01R31/00
CPC classification number: G01R1/0416 , G01R1/0466 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种不需要精准器的用于有效利用电子元件操作装置内部空间的电子元件测试装置。所述电子元件测试装置1，用于测试具有端子101的DUT100，包括：具有与DUT100电连接的插座201的测试头2和将DUT100搭载搬送至测试托盘120并将DUT100推压至插座201的处理器10；所述的测试头2，以朝向下方的姿势将插座201安装在处理器10上；所述的处理器10，在将DUT100搭载于测试托盘120的同时，以朝向上方的姿势从下方推压端子101至插座201；所述的插座201具有以端子101为基准使DUT100相对于插座201定位的定位板203。
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公开(公告)号：CN103185813A
公开(公告)日：2013-07-03
申请号：CN201210569791.0
申请日：2012-12-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种在托盘间的DUT的移载能力优良的，用于在托盘110、120之间移换DUT100的电子元件移载装置，包含具有用于保持DUT100的多个梭子51，用于为梭子51提供导向的无端的导轨521，以及用于使所述梭子51在第一导轨521上移动的第1～第3送出装置53～55的器件搬送装置50。梭子51可在第一导轨521上绕该导轨的全周移动。
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公开(公告)号：CN100403043C
公开(公告)日：2008-07-16
申请号：CN02830149.8
申请日：2002-12-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 山下毅
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R31/2887 , G01R31/2891 , G01R31/2893 , G01R31/31905
Abstract: 一种按压部件，其在靠压向Z轴方向的支持部件(51)和加热块(53)之间设置第一弹簧(54)，靠压支持部件(51)和加热块(53)向互相隔离的方向。还在按压IC组件(8)的台(81)的第一按压块(55)和按压IC组件(8)的基板(82)的第二按压块(56)之间设置第二弹簧(57)，靠压第一按压块(55)和第二按压块(56)向互相隔离的方向。根据具有这种结构的电子部件处理装置，能够应对电子部件的种变更，同时改善面重合，能够以正确的负荷均匀按压电子部件。
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公开(公告)号：CN1201159C
公开(公告)日：2005-05-11
申请号：CN01122028.7
申请日：2001-06-22
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/01 , G01R31/2851
Abstract: 本发明提供使被试验IC与接触部接触的接触臂，该接触臂备有保持头、浮动机构和隔膜压缸。上述保持头用于保持被试验电子零件。上述浮动机构，设在可接近或远离上述接触部的驱动机构与上述保持头之间，将保持头可摆动地支承在上述驱动机构上。上述隔膜压缸，设在上述驱动机构与上述保持头之间，调节从驱动机构对保持头的相对推压力。对一个保持头设有多个隔膜压缸。
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公开(公告)号：CN103185813B
公开(公告)日：2016-05-11
申请号：CN201210569791.0
申请日：2012-12-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种在托盘间的DUT的移载能力优良的，用于在托盘110、120之间移换DUT100的电子元件移载装置，包含具有用于保持DUT100的多个梭子51，用于为梭子51提供导向的无端的导轨521，以及用于使所述梭子51在第一导轨521上移动的第1～第3送出装置53～55的器件搬送装置50。梭子51可在第一导轨521上绕该导轨的全周移动。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1329740C
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN02813836.8
申请日：2002-07-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 山下毅
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2868 , G01R31/2867 , G01R31/2874
Abstract: 一种推杆30，由能够直接接触待测试的电子元件的推杆主体31和33，在推杆主体31、33上提供的热吸收及辐射体35，在推杆主体31上提供的、能够直接或者间接接触待测试的电子元件2加热器311，以及在推杆主体31、33和加热器311之间提供的绝热材料312组成。依照这种推杆30，能够执行对电子元件的温度控制，以便使电子元件接近用于测试的目标规定温度。
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公开(公告)号：CN1226635C
公开(公告)日：2005-11-09
申请号：CN98801238.3
申请日：1998-07-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893 , G01R31/01 , G01R31/2851 , G01R31/2867
Abstract: 一种IC测试器，能够减少完成对所有要测试的IC的测试需要的时间。恒温室(4)和退出室(5)的深度(在Y轴方向的长度)，扩充了大致对应于矩形测试盘(3)的横边的长度(短边的长度)，在从恒温室(4)中的保温室(41)经恒温室(4)中的测试部分(42)伸展到退出室(5)的通道的部分中，提供了两条基本平行的测试盘输送通道或者加宽的测试盘输送通道，能够沿着两条输送通道或加宽的测试盘输送通道同时输送两个测试盘，这两个测试盘在横过两条平行的测试盘输送通道的方向上并列安排。
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公开(公告)号：CN104678285B
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201510040831.6
申请日：2012-12-25
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/28
CPC classification number: B65G17/12 , B65G35/06 , G01R31/2893
Abstract: 本发明提供一种搬送载体以及具有该种搬送载体的器件搬送装置；其中在用于搬送器件的器件搬送装置的导轨上至少设置有一个上述的搬送载体，所述搬送载体包括：用于保持器件的器件保持部，以及基部；所述基部安装有所述器件保持部，并沿所述导轨进行导向。
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公开(公告)号：CN1853111A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200480026769.5
申请日：2004-08-18
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/31905 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 使具有与基于测试图的被试验电子部件(2)的温度变化特性相等或相似的温度变化特性的加热器(112)与被试验电子部件接触，同时把被试验电子部件向接触端(132a、132b)按压，在该状态下向被试验电子部件发送测试图，并且控制加热器的消耗电力以使基于该测试图的被试验电子部件的消耗电力和加热器的消耗电力的总和为一定值。
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公开(公告)号：CN1720460A
公开(公告)日：2006-01-11
申请号：CN02830149.8
申请日：2002-12-04
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 山下毅
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2851 , G01R31/2887 , G01R31/2891 , G01R31/2893 , G01R31/31905
Abstract: 一种按压部件，其在靠压向Z轴方向的支持部件(51)和加热块(53)之间设置第一弹簧(54)，靠压支持部件(51)和加热块(53)向互相隔离的方向。还在按压IC组件(8)的台(81)的第一按压块(55)和按压IC组件(8)的基板(82)的第二按压块(56)之间设置第二弹簧(57)，靠压第一按压块(55)和第二按压块(56)向互相隔离的方向。根据具有这种结构的电子部件处理装置，能够应对电子部件的种变更，同时改善面重合，能够以正确的负荷均匀按压电子部件。
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