Abstract:
L'invention concerne un procédé d'écriture par bloc dans une mémoire non volatile programmable électriquement, un bloc à écrire dans la mémoire comprenant au moins un mot. Selon l'invention, le procédé comprend des étapes de détermination d'une durée d'écriture d'un mot en divisant une durée fixée d'écriture d'un bloc par le nombre de mots du bloc à écrire, et de commande de la mémoire pour écrire successivement chaque mot (D) dans la mémoire pendant la durée d'écriture.
Abstract:
L'invention concerne un procédé de configuration d'un espace mémoire (MEM) , comprenant des étapes de : lecture dans l'espace mémoire (MEM) d'une information de configuration (SZ3) , détermination d'une division d'au moins une partie de l'espace mémoire en zones mémoire (Z1-Z4) en fonction de l'information de configuration lue ; et d'attribution à chacune des zones mémoire d'un numéro d'accès (NBK) à utiliser pour accéder à un emplacement de donnée dans la zone mémoire, en combinaison avec une adresse logique de l'emplacement dans la zone mémoire. Application de l'invention aux puces RFID.
Abstract:
Le dispositif radiofréquence comprend un élément électriquement conducteur associé à au moins un premier élément magnétique continu comportant un substrat recouvert d'un film magnétique possédant une structure granulaire avec des grains inclinés par rapport à la normale au substrat ou une texture fibreuse inclinée par rapport à la normale au substrat.
Abstract:
L ' invention concerne un procédé et un circuit de protection d'une quantité numérique (d) contenue dans un circuit intégré (1) sur un premier nombre de bits (n) , dans un calcul d'exponentiation modulaire d'une donnée (M) par ladite quantité numérique, consistant à : sélectionner au moins un deuxième nombre (j) compris entre l'unité et ledit premier nombre moins deux ; diviser ladite quantité numérique en au moins deux parties, une première partie (d(j-l, 0)) comprenant, depuis le bit de rang nul, un nombre de bits égal audit deuxième nombre, une deuxième partie (d(n-l, j)) comprenant les bits restants ; pour chaque partie de la quantité, calculer une première exponentiation modulaire (32, 33) de ladite donnée par la partie concernée et une deuxième exponentiation modulaire (36, 34) du résultat de la première par le chiffre 2 élevé à la puissance du rang du premier bit de la partie concernée ; et calculer (35) le produit des résultats des deuxièmes exponentiations modulaires.
Abstract:
An electronic circuit assembly (A1) comprises a casing (1) having two opposite outer faces (S1 sup , S1 inf ) and an inner space (V1) separate from each outer faces by a respective closing portion (4, 5), and a single die (10) incorporating an integrated circuit. The casing (1) includes integrated electrically conducting elements (21) connecting terminals of the die (11) to pads of the casing (31 sup ). The electrically conducting elements also connect sets of pads respectively located on each one of the opposite outer face of the casing (31 sup , 31 inf ). Such electronic circuit assemblies (A1-A4) are suitable for being stacked with bonding means (300, 303) arranged between respective sets of pads (31 sup , 32 inf ) of two successive electronic circuit assemblies in a stack.
Abstract:
L'invention concerne un processeur d'exécution d'un algorithme Rijndeal, effectuant plusieurs tours de chiffrement d'une matrice composée de blocs de données pour obtenir une matrice de même taille, chaque tour impliquant une matrice de blocs de clés et une table de substitution des blocs de données, le processeur comportant : un premier registre d'entrée (102) pour contenir une colonne de blocs de données d'entrée ; un registre de sortie (111) pour contenir une colonne de blocs de données de sortie ou une colonne de blocs intermédiaires ; un deuxième registre d'entrée (101) pour contenir une colonne de blocs de clés ou les blocs de données intermédiaires ; un élément (104) de substitution de blocs recevant les données bloc par bloc après sélection (103) dans le premier registre et fournissant, pour chaque bloc, une colonne de blocs ; un élément (109) de permutation circulaire des blocs de la colonne du circuit de substitution ; et un élément (110) de combinaison OU-Exclusif de la colonne de blocs du circuit de permutation avec le contenu du deuxième registre, le résultat de la combinaison étant chargée dans le registre de sortie.
Abstract:
L'invention concerne un procédé permettant d'une part de tester, au moyen de signaux de test (St), des puces électroniques (11 à 13) réalisées sur une même plaquette (100) de matériau semi-conducteur, et d'autre part de discriminer les puces opérationnelles des puces défaillantes. Selon l'invention, chaque puce de la plaquette est dotée d'un module de réception (2) de signaux transmis sans contact, d'un module d'autotest (3) relié au module de réception (2) de cette même puce (11 à 13), et d'un révélateur optique d'état (4) commandé par le module d'autotest, de sorte que les signaux de test (St) peuvent être adressés en parallèle à toutes les puces de la plaquette, et que chaque puce ayant passé le test avec succès est directement identifiée par un changement d'état optique du révélateur d'état (4) commandée par le module d'autotest de cette puce.
Abstract:
L'invention concerne un procédé de démodulation COFDM d'un signal reçu depuis un canal de transmission, comprenant les étapes consistant à effectuer la transformée de Fourier rapide du signal reçu dans une fenêtre correspondant à un symbole, chaque symbole étant accolé à un intervalle de garde reproduisant une partie du symbole ; à fournir un ensemble de valeurs estimées de la réponse impulsionnelle en module ; à déterminer des coefficients, chaque coefficient étant obtenu à partir du produit dudit ensemble et d'une fonction de filtrage (FE) pour une position relative déterminée de la fonction de filtrage par rapport audit ensemble ; à déterminer le coefficient maximum et la position relative correspondante ; et à positionner ladite fenêtre en fonction de ladite position relative, la fonction de filtrage comprenant une partie centrale d'amplitude constante (LMAX) et de durée égale à la durée de l'intervalle de garde, entourée de flancs décroissants non nuls.
Abstract:
L'invention concerne une couche monocristalline d'un premier matériau semiconducteur (5) comportant des nanostructures monocristallines d'un second matériau semiconducteur (3), les nanostructures étant réparties selon un réseau cristallographique régulier à maille tétragonale centrée.
Abstract:
L'invention concerne un procédé pour stabiliser le fonctionnement d'un oscillateur contrôlé en tension (VCO) piloté par une boucle à verrouillage de phase (PLL), l'oscillateur contrôlé en tension délivrant un signal RF et recevant par l'intermédiaire d'au moins un chemin parasite une composante harmonique de fréquence égale ou proche de celle du signal RF, susceptible de perturber son fonctionnement par effet d'accrochage en fréquence. Selon l'invention, le procédé comprend une étape d'injection dans l'oscillateur contrôlé en tension d'un signal de compensation de l'effet d'accrochage en fréquence, dont la phase et l'amplitude sont ajustées de manière à neutraliser les effets de la composante harmonique parasite. Application notamment aux circuits de modulation de phase IQ en radiotéléphonie.