公开(公告)号：CN104798268A

公开(公告)日：2015-07-22

申请号：CN201280077025.0

申请日：2012-11-14

Applicant: 视乐有限公司

Inventor： K·沃格勒 ,  O·柯特泰耳曼 ,  M·佛塞尔 ,  C·多尼斯基

IPC: H01S3/00 ,  G01J11/00 ,  A61F9/008

CPC classification number: H01S3/0057 ,  A61F9/008 ,  A61F9/0084 ,  G01J11/00 ,  H01S3/106

Abstract: 在某些实施方案中，一种系统(10)包括激光源(20)、一个或多个光学元件(24)、监视装置(28)以及控制计算机(30)。所述激光源(20)发射一个或多个激光脉冲。所述光学元件(24)改变所述激光脉冲的脉冲长度，并且所述监视装置(28)测量所述激光脉冲的所述脉冲长度以检测所述脉冲长度的变化。所述控制计算机(30)接收来自所述监视装置(28)的所测量的脉冲长度，确定对所述脉冲长度的所述变化进行补偿的一个或多个激光参数，以及根据所述激光参数控制所述激光源(20)。

公开(公告)号：CN104620260A

公开(公告)日：2015-05-13

申请号：CN201380047152.0

申请日：2013-08-26

Applicant: 罗伯特·博世有限公司

Inventor： P·鲁瑙 ,  L·贝尔根

IPC: G06K9/00 ,  H04N5/353 ,  H04N5/355

CPC classification number: G01J11/00 ,  G01J1/42 ,  G01J2001/4238 ,  G06K9/00825 ,  H04N5/23216 ,  H04N5/23219 ,  H04N5/35581

Abstract: 本发明涉及一种用于识别至少一个脉冲光源(120)的方法(200)，其中通过探测单元(130)检测由所述脉冲光源(120)发射的光。所述方法包括在使用第一曝光时间的情况下检测所述光源(150)的光的第一图像参数(160)以及在使用至少第二曝光时间的情况下检测所述光源的光的至少一个第二图像参数(160)的步骤，其中所述第一曝光时间与所述至少第二曝光时间不同并且在检测所述第一图像参数(160)和检测所述至少第二图像参数(160)之间将所述探测单元(130)设置到一个预先确定的值上，其中所述第一图像参数(160)和所述至少第二图像参数(160)在时间上依次代表同一空间位置。所述方法还包括分析处理所述至少第二图像参数(160)的步骤，以便至少当所述至少第二图像参数(160)满足预先确定的标准时识别脉冲光源(120)。

公开(公告)号：CN102636272B

公开(公告)日：2013-11-20

申请号：CN201210079324.X

申请日：2012-03-22

Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所

Inventor： 刘军 ,  李方家 ,  李儒新

IPC: G01J11/00 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/45 ,  G01J3/18 ,  G01J11/00 ,  G01J2003/1861 ,  G01J2003/451 ,  G02B19/0095 ,  G02B27/0988

Abstract: 一种基于瞬态光栅效应的飞秒激光脉冲测量方法和装置，本发明的实质是采用飞秒激光脉冲经三阶非线性效应介质产生的所述的瞬态光栅信号光波作参考光束对飞秒激光脉冲进行自参考光谱干涉测量。通过测量干涉光谱，利用自参考光谱相干方法来反演计算获得激光光谱和光谱相位，从而可以测量激光脉冲宽度与脉冲形状。本发明具有结构简单，计算速度快的特点，不需要偏振光学元件，减少了入射激光色散，可以测量10-300fs范围内不同波长的激光脉冲；本发明可进行单次脉冲测量，可用于飞秒激光脉冲的实时监测，获得的光谱相位反馈到相关的相位补偿装置，可优化飞秒激光脉冲输出。

公开(公告)号：CN103299174A

公开(公告)日：2013-09-11

申请号：CN201180052287.7

申请日：2011-10-28

Applicant: 气体敏感液有限公司

Inventor： C·J·麦克格 ,  D·R·吉布森

IPC: G01N21/35 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01N21/61 ,  G01J11/00 ,  G01N21/274 ,  G01N21/3504 ,  G01N2201/0696 ,  G01N2201/1211 ,  G01N2201/127

Abstract: 一种用于检测分析物气体的光学吸收气体传感器包括一个气体样本接收室、至少一个发光二极管(LED)及一个光电二极管或其他光电传感器。通过将电流脉冲传过该至少一个LED生成多个光脉冲。穿过该至少一个LED的电流在每个脉冲的过程中被多次测量并在生成一个补偿输出信号时被考虑在内。在每个脉冲过程中多次计算LED电流与光电二极管输出信号之间的传递比。ADC交替测量该LED及光电二极管电流。这些LED脉冲由电感器放电回扫生成，并且选择了在每个脉冲之前向该电感器供应电流的时间段，以便该光电二极管输出电流是在该ADC的输入范围内的最佳区域。至少测量该至少一个LED的温度并在生成该补偿输出信号时被考虑在内。因此，测量这些脉冲使能够提供一个容许温度变化的更简单、更低功率的电路，而不是提供对这些LED脉冲的特别仔细的控制。

公开(公告)号：CN102027345B

公开(公告)日：2012-04-25

申请号：CN200980117708.2

申请日：2009-05-14

Applicant: 日本电信电话株式会社

Inventor： 伊藤文彦 ,  冈本圭司

IPC: G01J11/00 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/2889 ,  G01J11/00 ,  H04J14/0221

Abstract: 对被测定光(L)与采样脉冲光(LSP)分别进行M分路，并对M分路后的各个采样脉冲光附加0，T，2T，...，(M-1)T的时间延迟，在此基础上通过M个光90度混合器，与M分路后的被测定光分别合波，根据利用各平衡型受光元件接收各光90度混合器的出射光而得到的M组输出电流，算出被测定光的每时间T的M个电场振幅，并对这些电场振幅进行傅里叶变换，从而算出被测定光所包含的各个波长的光信号的振幅。对于采样脉冲光，使用具有覆盖被测定光的全频带的频谱宽度的脉冲光。在被测定光的全频带是Δftotal，被测定光所包含的光信号的频率间隔是Δf时，设定有T≤1/Δftotal且1/(MT)≤Δf。

公开(公告)号：CN101957239A

公开(公告)日：2011-01-26

申请号：CN200910254052.0

申请日：2009-12-15

Applicant: 浜松光子学株式会社 ,  国立大学法人东京大学

Inventor： 藤原弘康 ,  川添忠 ,  大津元一

IPC: G01J11/00

CPC classification number: G01J11/00

Abstract: 本发明的信号波形测定装置(1A)由信号光学系统(11)、参照光学系统(16)、设定信号光(L1)与参照光(L2)的时间差的时间差设定手部(12)、包含染料分子结晶的结合体并以与入射到结晶集合体的入射光强度的r次方(r＞1)成比例的强度生成波长被变换为比入射光的波长短的变换光(L5)的波长变换元件(20)、在元件(20)中检测以与信号光(L1)的强度和参照光(L2)的强度以及与两者的时间差相对应的强度生成的变换光(L5)的光检测器(30)、对变换光(L5)的检测结果进行解析从而获得信号光(L1)的时间波形的信号波形解析部(40)构成。由此，可以实现以简单的结构高精度地检测信号光的时间波形的信号波形测定装置以及测定方法。

公开(公告)号：CN101750154A

公开(公告)日：2010-06-23

申请号：CN200810188555.8

申请日：2008-12-17

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 贺俊芳 ,  王屹山 ,  王飚 ,  刘卉洁

IPC: G01J11/00

CPC classification number: G01J11/00

Abstract: 本发明涉及一种激光信噪比探测装置，包括光源、分束镜、扩束器、单脉冲光延迟器、光克尔介质以及探测器；分束镜设置于光源的输出光路上，并将光源分为快门光以及信号光；扩束器设置于分束镜所分出的信号光的输出光路上；单脉冲光延迟器设置于扩束器的输出光路上；光克尔介质设置于单脉冲光延迟器的输出光路和分束镜所分出的快门光的输出光路在空间相交叉的位置上；探测器和光克尔介质相连。本发明提供了一种可探测激光主脉冲之前和之后上百皮秒的信噪比、可对单脉冲激光信噪比进行探测、可进行重复频率的激光脉冲信噪比测量的激光信噪比探测装置。

公开(公告)号：CN1925369A

公开(公告)日：2007-03-07

申请号：CN200610128083.8

申请日：2006-09-01

Applicant: 日立通讯技术株式会社

Inventor： 菊池信彦

IPC: H04B10/08

CPC classification number: G01J9/02 ,  G01J11/00

Abstract: 本发明提供一种可适用于相位调制信号或现有强度调制信号等所有的高速调制光信号的光电场波形的简易观测法。以高的时间倍率来精密测定光信号的电场波形。在分支激光光源(101)的输出光，用光调制器(108)调制一个输出光，由延迟线同量延迟另一输出光后，输入到相位分散电路(113)，构筑零差干涉仪。光输入采样示波器测试头(120－1)以图案同步信号(109)为基准，稳定化可变光移相器(110)，使特定时刻的光相位变为一定值，另一方面，光输入采样示波器测试头(120－2)取得光波形，重复实施平均化，CPU(122)三维显示去除噪声后的光电场波形。

公开(公告)号：CN1829909A

公开(公告)日：2006-09-06

申请号：CN200480022028.X

申请日：2004-06-18

Applicant: 日本独立行政法人情报通信研究机构

Inventor： 斋藤伸吾 ,  饭田胜 ,  芦田昌明

IPC: G01N21/35 ,  G01J11/00

CPC classification number: G01J11/00 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/359

Abstract: 本发明涉及光波形测定装置和其测定方法，及复折射率测定装置及其测定方法，及记录其程序的计算机程序记录介质，其目的在于：对于近红外线波段的电磁波的波长短的光波段的电磁波测定电场，并输出其时间变化的波形；及以光的电场波形的测定结果为基础，容易地求得物质的复折射率。本发明装置选通脉冲光产生装置，测定光产生装置，和对测定光进行检测的光检测装置，选通脉冲光及测定光都是相干性光，测定光是波长比近红外线波段短的相干性光，选通脉冲光的脉冲宽度比测定光的周期短，对基于使测定光和选通脉冲光照射到光检测装置而产生的载流子的物理量进行测定，并基于该物理量对该测定光的电场进行测定。

公开(公告)号：CN1575412A

公开(公告)日：2005-02-02

申请号：CN02821207.X

申请日：2002-08-22

Applicant: 雷西昂公司

Inventor： J·B·埃伦

IPC: G01J11/00 ,  G01S7/48 ,  G01R23/17

CPC classification number: G01J11/00

Abstract: 光学/模拟/数字脉冲检测器接收输入信号并驱动受准直光束照射的布拉格光电管，布拉格光电管空间调制准直光束，出射时，布拉格光电管就由光学网络的透镜成像到隔光板平面。二元光板复制隔光板上的布拉格光电管图像。隔光板包含各种长度的缝隙，这些缝隙位于复制布拉格光电管图像的位置。为获取各图像在隔光板上的功率谱，合成透镜位于通过隔光板的光路中。通过合成透镜的光由一检测器阵列检测，该检测器阵列的输出端耦合至焦面处理器，后者将来自检测器阵列的模拟输出处理成初始调谐命令，用于检测与表征输入信号里的脉冲。