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公开(公告)号:CN107727250B
公开(公告)日:2019-06-21
申请号:CN201710793558.3
申请日:2017-09-06
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
CPC classification number: G01J11/00 , G02B27/4233 , G02B27/44
Abstract: 一种光栅波前倾斜色散补偿装置,该装置包括第一闪耀光栅、Offner光学系统和第二闪耀光栅或直角反射镜。本发明补偿了光栅角度色散效应引起的时间展宽和空间展宽,确保光束到达工作面上光束的时空色散为零。与传统的基于光栅波前倾斜获得技术相比,从根本上消除了光栅角色散效应对波前倾斜技术应用效果的影响。
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公开(公告)号:CN109682484A
公开(公告)日:2019-04-26
申请号:CN201910101972.2
申请日:2019-02-01
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种单发次飞秒激光脉冲波形测量装置。被测的单发次飞秒激光脉冲方形光束经衍射光栅衍射后形成脉冲前沿倾斜的光束,该光束再分成三路,第一路与经望远倒像后的第二路从水平方向等光程对称入射到倍频晶体进行倍频转换,产生的倍频光束经过正交旋转后与第三路基频光束在水平面上沿固定角度同时入射到和频晶体进行频率转换,产生携带双延迟三阶相关信息的三倍频光束,该三倍频光束经成像透镜后被CCD记录,从而获得脉冲波形信息。本发明的单发次飞秒激光脉冲波形测量装置采用衍射光栅进行扩束和脉冲前沿倾斜,通过倒像等措施减少了非线性晶体内进行频率转换的光束间的夹角,提高了时间分辨力。该装置结构简单,调节方便。
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公开(公告)号:CN108827477A
公开(公告)日:2018-11-16
申请号:CN201810674557.1
申请日:2018-06-27
Applicant: 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开一种单光子探测器探测效率自动校准装置及方法。所述装置包括电学模块、光学模块及单光子探测器;电学模块包括FPGA芯片和延时器;光学模块包括激光器和光衰减器。所述方法包括:FPGA芯片通过单光子探测器发送相应指令调节单光子探测器工作直流偏压,使得单光子探测器探测效率不为零;激光器在FPGA芯片触发信号控制下,发送固定脉宽的周期光信号,光信号经过衰减器后衰减为平均光子数已知的弱相干脉冲光信号;FPGA芯片控制延时器,调节单光子探测器触发信号的延时,使得计数率最大;FPGA芯片调节单光子探测器的工作直流偏压,使得实际探测效率与目标探测效率一致。本发明可以快速、精确地完成对单光子探测器探测效率的自动校准。
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公开(公告)号:CN108521069A
公开(公告)日:2018-09-11
申请号:CN201810197369.4
申请日:2018-03-11
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所 , 北京理工大学
Abstract: 本发明提出了一种超快激光非相关探测与自稳定方法,利用标准自相关仪标定方法研究脉冲持续时间与多光子光电探测器输出电平的对应函数关系。从而通过实时监测多光子光电探测器的输出电压,便可以间接获得激光脉冲持续时间。利用熔融石英材料制作的棱镜对色散控制系统调节激光脉冲宽度。结合计算机控制技术与多光子光电探测器的脉宽监测系统连接到一起,实行闭环控制,实现脉冲宽度的稳定。建立电动位移平台位置、脉冲宽度以及多光子光电探测器输出电压之间的对应关系,据此开发嵌入式软件系统,实现通过多光子光电探测器输出电压反馈信号有效地控制电动位移平台,进而改变色散补偿量,从而精确地调节、稳定脉冲宽度。
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公开(公告)号:CN104798268B
公开(公告)日:2018-04-20
申请号:CN201280077025.0
申请日:2012-11-14
Applicant: 视乐有限公司
CPC classification number: H01S3/0057 , A61F9/008 , A61F9/0084 , G01J11/00 , H01S3/106
Abstract: 在某些实施方案中,一种系统(10)包括激光源(20)、一个或多个光学元件(24)、监视装置(28)以及控制计算机(30)。所述激光源(20)发射一个或多个激光脉冲。所述光学元件(24)改变所述激光脉冲的脉冲长度,并且所述监视装置(28)测量所述激光脉冲的所述脉冲长度以检测所述脉冲长度的变化。所述控制计算机(30)接收来自所述监视装置(28)的所测量的脉冲长度,确定对所述脉冲长度的所述变化进行补偿的一个或多个激光参数,以及根据所述激光参数控制所述激光源(20)。
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公开(公告)号:CN107806933A
公开(公告)日:2018-03-16
申请号:CN201711295075.7
申请日:2017-12-08
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明提供一种基于双束时间分辨泵浦探测技术的激光诱导光学材料体内冲击波波速的测量方法。光学材料激光诱导冲击波波速的测量方法,该方法包括以下步骤:1)双束探测成像系统获取泵浦激光脉冲激发待测样品内部冲击波某一时刻的相同位置、设定时间间隔的两幅图像;2)基于图像处理算法,比较两幅图像中冲击波波峰包络位置变化量,计算获取某一时刻的冲击波波速。本发明建立双束探测成像系统,一路泵浦激光脉冲作用于光学材料并激发诱导冲击波现象,双路探测激光脉冲以一定的时间间隔辐照至激发区域,携带冲击波位置信息的双路探测光分别由探测捕获,通过改变泵浦激光脉冲与探测激光脉冲之间的延时量,可精确测得任意时刻的激光诱导冲击波波速。
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公开(公告)号:CN107782456A
公开(公告)日:2018-03-09
申请号:CN201710924018.4
申请日:2017-09-30
Applicant: 中国工程物理研究院激光聚变研究中心
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 本发明公开了一种超短脉冲激光测量装置。所述的测量装置中,被测的水平偏振的空间均匀的超短基频激光脉冲经过分光镜后分成透射光和反射光,透射光再分成两束,以水平对称角度入射到晶体Ⅰ,产生的垂直偏振的自相关倍频信号经导光镜组等比例放大成像并实现90度偏转,偏转的倍频光束与基频光束入射到晶体Ⅱ上进行和频,产生双延迟的三阶强度相关信号,从而获得脉冲波形信息。本发明提高了在超短激光脉冲测量中的时间分辨力,本发明的测量装置结构紧凑,调节方便、成本低。
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公开(公告)号:CN107505056A
公开(公告)日:2017-12-22
申请号:CN201710760271.0
申请日:2017-08-30
Applicant: 浙江九州量子信息技术股份有限公司
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 一种GHz近红外单光子探测器雪崩信号提取系统,门脉冲信号发生器通过电容C1加载在雪崩二极管的阴极,偏置电压单元通过电阻R1加载在雪崩二极管的阴极,雪崩二极管的阳极分别连接电阻R2接地以及差分放大器,差分放大器的两路输出端,分别输出两路大小相等、相位相反的信号,其中一路不经过延时直接输入到合束器,另一路信号经过一个周期的延时后输入到合束器,合束器输出端输出雪崩信号。与现有技术相比,本发明中从雪崩二极管输出的雪崩信号及尖峰信号经过差分放大器差分放大后分束,分束出两路大小相等、相位相反的信号,由于在差分放大器中雪崩信号已经放大,不需要额外添加放大器,降低了噪声耦合进雪崩信号的途径,降低了系统电路的冗杂度。
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公开(公告)号:CN107462335A
公开(公告)日:2017-12-12
申请号:CN201710760284.8
申请日:2017-08-30
Applicant: 浙江九州量子信息技术股份有限公司
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 一种用于单光子探测的热电制冷系统,包括制冷面贴靠单光子探测器的第一热电制冷片,所述第一热电制冷片的发热面贴靠一导热金属板,所述导热金属板分为散热段与发电段,所述散热段贴靠第一热电制冷片的发热面,所述发电段贴靠有第二热电制冷片,所述第二热电制冷片的正负端通过导线连接有稳压器,所述稳压器的输出端连接有用于散热段散热的散热器。与现有技术相比,本发明通过将热电制冷片热面的一部分热量传导至另一片热电制冷片,用于制造温差进行发电;采用该电能驱动风机等散热器,提高了散热段的散热效率;构成了闭合的温度控制环路,可控制热电制冷片热面的温度在一定范围内波动。
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公开(公告)号:CN107121208A
公开(公告)日:2017-09-01
申请号:CN201710427606.7
申请日:2017-06-08
Applicant: 大连创锐光谱科技有限公司
Inventor: 金盛烨
IPC: G01J11/00
CPC classification number: G01J11/00
Abstract: 基于频率计数卡的激发态寿命测量的数据采集装置及激发态寿命测量方法,测量方法包括以下步骤:用高重复频率的脉冲激光激发待测样品以产生光致发光,检测所述样品的光致发光信号,利用频率计数卡测量所检测到的光子脉冲信号与激发光脉冲信号之间的时间间隔把所测到的光子时间差划分成各个时间区间,将具有不同时间差数据的光子分配入相对应的时间区内;对每个时间区间内的光子分别进行计数,可获得其光致发光光子发光强度衰减曲线,对该发光强度曲线进行指数衰减拟合得到待测样品的激发态寿命。相比较其他荧光或磷光寿命测量方法,本发明方法可测量的激发态寿命数据范围更宽,且成本更低;同时还具有很高的时间分辨和检测灵敏度。
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