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公开(公告)号：KR1020000022934A
公开(公告)日：2000-04-25
申请号：KR1019990037681
申请日：1999-09-06
Applicant: 닛뽕덴끼 가부시끼가이샤
Inventor： 히로사와이찌로
IPC: G01N21/21
Abstract: PURPOSE: A thin particle alignment estimation method perceives a particle alignment state of organic thin film having anisotropy, automatically measures a distribution on a particle alignment state by using a sample stage, makes a shape of infrared rays applied on the sample as a circle shape, and reduces an irregularity of a measured value. CONSTITUTION: A thin particle alignment estimation method rotates a sample thin film on a parallel surface on a surface of the sample thin film, analyzes incidence direction dependence of a polarization state of a reflection infrared rays generated when an infrared rays of constant polarization state is applied to a sample thin film. Based on the incidence direction dependance, the method determines an optical anisotropy. Based on the optical anisotropy, the method determines a particle alignment state on the sample thin film. Thereby, the thin particle alignment estimation method perceives a particle alignment state of organic thin film having anisotropy, automatically measures a distribution on a particle alignment state by using a sample stage, makes a shape of infrared rays applied on the sample(9) as a circle shape, and reduces an irregularity of a measured value.
Abstract translation: 目的：薄粒子对准估计方法感知具有各向异性的有机薄膜的粒子取向状态，通过使用样品台自动测定粒子取向状态的分布，将作为圆形的样品的红外线的形状， 并减少测量值的不规则性。 构成：薄片对准估计方法使样品薄膜的表面上的平行表面上的样品薄膜旋转，分析当施加恒定偏振态的红外线时产生的反射红外线的偏振状态的入射方向依赖性 到样品薄膜。 基于入射方向依赖性，该方法确定光学各向异性。 基于光学各向异性，该方法确定样品薄膜上的粒子取向状态。 因此，薄粒子对准估计方法感知具有各向异性的有机薄膜的粒子取向状态，通过使用样品台自动测定粒子取向状态的分布，将作为红外线的形状施加在样品（9）上，形成为 圆形，并减少测量值的不规则性。
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132.发明专利
公开(公告)号：KR20210024830A
公开(公告)日：2021-03-08
申请号：KR1020190104490A
申请日：2019-08-26
Applicant: 주식회사 케이티
Abstract: C-OTDR(Coherent optical time domain reflectometry) 기반의 분포형 음향 센서에서 외부 진동 신호를 추출하는 데 있어서, 별도의 광 소자 추가, 위상 래핑 및 스펙트럼 왜곡 없이, 간단한 신호 처리 과정을 통해 위상을 검출할 수 있는 위상 검출기 및 위상 검출 방법이 개시된다. 일 실시예에 따른 위상 검출기는, 광 섬유로 입사되어 후방 산란된 광 신호의 In-phase 성분과 Quadrature-phase 성분을 수신하는 수신부; 상기 In-phase 성분 및 상기 Quadrature-phase 성분의 포락선을 검출하는 제 1 검출부; 상기 In-phase 성분 및 상기 Quadrature-phase 성분의 미분을 통해 위상 변화량에 비례하는 신호를 검출하는 제 2 검출부; 및 상기 포락선과 상기 위상 변화에 비례하는 신호를 이용하여 위상 변화량을 산출하는 산출부를 포함한다.
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公开(公告)号：JP6336710B2
公开(公告)日：2018-06-06
申请号：JP2013073146
申请日：2013-03-29
Applicant: アントン パール ゲーエムベーハー , Anton Paar GmbH
Inventor： マルティン オスターマイヤー , ゲルハルト フェイファー
IPC: G01N21/21
CPC classification number: G01N21/21 , G01J4/04 , G01J2004/001 , G01N21/211 , G01N21/29 , G01N21/59 , G01N21/8803 , G01N21/8806 , G01N21/90 , G01N21/9027 , G01N21/94 , G01N2021/8848
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公开(公告)号：JP6314232B2
公开(公告)日：2018-04-18
申请号：JP2016538559
申请日：2014-12-01
Applicant: レイセオン カンパニー
Inventor： ドルスチナー,テリー
CPC classification number: G01J1/0429 , G01J1/42 , G01J3/0224 , G01J3/18 , G01J3/2823 , G01J4/04 , G02F1/13473
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公开(公告)号：JP6068783B2
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：JP2011151357
申请日：2011-07-08
Applicant: オーエフエス ファイテル,エルエルシー
Inventor： ヴィタリー ミックハイロヴ , ポール エス. ウエストブルック
IPC: G01J4/04
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：JP5906464B2
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：JP2013556272
申请日：2013-02-01
Applicant: パナソニックIPマネジメント株式会社
CPC classification number: G02B13/22 , G01J1/0411 , G01J1/0429 , G01J1/4228 , G01J4/04 , G03B11/00 , H04N5/2254 , H04N9/045
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公开(公告)号：JP5897056B2
公开(公告)日：2016-03-30
申请号：JP2014050087
申请日：2014-03-13
Applicant: オーエフエス ファイテル,エルエルシー
Inventor： ヴィタリー ミハイロフ , ポール エス.ウェストブルック
IPC: G01J4/04
CPC classification number: G01J4/04
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公开(公告)号：JPWO2013175686A1
公开(公告)日：2016-01-12
申请号：JP2013548518
申请日：2013-03-13
Applicant: パナソニック株式会社
CPC classification number: H04N7/18 , A61B1/00186 , A61B1/05 , A61B1/051 , A61B1/07 , G01J1/0209 , G01J1/0411 , G01J4/04 , H04N5/2254 , H04N5/2256 , H04N5/2354 , H04N9/045
Abstract: 本開示の実施形態において、撮像処理装置は、照明光で被写体(111)を照明した状態で偏光画像を取得する撮像素子(115)を含む撮像部と画像処理部(画像プロセッサ110)とを備える。照明光の光軸と撮像素子(115)の光軸とは略同軸の関係を形成する。画像処理部は、撮像素子(115)の出力に基づいて輝度画像を生成する輝度画像生成部312と、撮像素子(115)の出力に基づいて画素ごとに偏光度を算出し、偏光度画像を生成する偏光画像生成部(314)と、被写体(111)の表面における凹凸部の凹部で偏光度画像の偏光度を強調し、かつ、色相、彩度、および明度の少なくとも1つを補正して加工偏光画像を生成する偏光画像加工部(316)と、加工偏光画像と輝度画像とを合成する画像合成部(320)とを備える。
Abstract translation: 在本公开的实施例，成像设备包括用于与照明光获得偏振图像而照射所述物体（111）的成像单元，并且包括成像装置（115）的图像处理单元（图像处理器110） 。 以形成具有光轴和照明光（115）的成像元件的光学轴的大致同轴的关系。 图像处理单元包括亮度图像生成单元312，用于基于所述图像传感器（115）的输出的亮度图像，基于所述图像拾取装置（115），偏振图像的输出为每个像素的偏振度 要生成的偏振图像生成单元（314），以强调偏振图像的偏振由所述对象（111）的表面上的不平坦部分的凹部的程度，并且校正色调，饱和度和亮度中的至少一个 包括其生成处理偏振图像和（316）的偏振图像处理单元，处理所述偏振图像和所述图像的亮度图像和（320）结合组合单元。
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公开(公告)号：JP2015155896A
公开(公告)日：2015-08-27
申请号：JP2015014628
申请日：2015-01-28
Applicant: ザ・ボーイング・カンパニー , The Boeing Company
Inventor： ティロットソン, ブライアン ジェー. , ベアニー, ジェニファー ケー.
CPC classification number: G01J4/04 , B64D47/08 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/2823 , G01J2003/2826
Abstract: 【課題】偏光フィルターを有する又は有しない単一のカメラを使用して、偏光データを取得できるシステムを提供する。 【解決手段】偏光フィルターが使用される場合、データ取得方法は、画像が捉えられる場合、様々な角度の方向付けを有する偏光フィルター(及びカメラ)に向かうように航空機(又は他のビークル)を誘導すること、(2)様々な画像を互いに登録すること、及び(3)画像の中の興味のポイントに対する(ストロークパラメータなどの)偏光値を計算することである。偏光フィルターが使用されない場合、データ取得方法は、画像が捉えられる場合、様々な角度の方向付けを有するカメラに向かうように航空機(又は他のビークル)を誘導すること、及びその後、同じオペレーション(2)及び(3)を実行することを含み、種々の角度において複数のカメラ画像を取得することによって、与えられた情景の中の偏光の量を測定する。 【選択図】なし
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公开(公告)号：JP2013522643A
公开(公告)日：2013-06-13
申请号：JP2013500657
申请日：2011-03-24
Applicant: イエダ・リサーチ・アンド・デベロツプメント・カンパニー・リミテツド
Inventor： ニール・ダヴィッドソン , アッシャー・フリーゼム , モティ・フリドマン
Abstract: 光学ビームの偏光を測定する際に使用するためのシステムおよび方法が提示される。 本システムは、入力光学ビームの横断面に沿って偏光プロファイルを決定するように構成され、動作可能であり、光学システムおよび画素行列を備える。 この光学システムは、前記入力光学ビームを所定の偏光関係を互いに有する所定の数のビーム構成要素に分割するように構成され、動作可能な偏光ビーム分割アセンブリであって、前記入力光学ビームの光学経路内に、前記入力光学ビームを一定の偏光関係を互いに有する第１の複数のビーム構成要素に分割する第１の偏光ビームスプリッタを備える偏光ビーム分割アセンブリと、前記第１の複数の前記ビーム構成要素の光学経路内に、前記ビーム構成要素のそれぞれを通常偏光および異常偏光を有するビームの対に分割するための複屈折素子とを備え、それによって、前記所定の数の出力ビーム構成要素が生成される。 画素行列は、前記出力ビーム構成要素の実質的に交差しない光学経路内に位置付けられ、前記出力ビーム構成要素内の強度分布をそれぞれ示す対応する数の出力データピースを生成し、前記データピースに含まれているデータは、入力光学ビームの横断面に沿って偏光プロファイルを示す。
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