降低振动噪音的挠曲安装动镜

    公开(公告)号:CN103201604A

    公开(公告)日:2013-07-10

    申请号:CN201180054257.X

    申请日:2011-11-07

    Inventor: J.M.科芬

    CPC classification number: G01J3/453 G01B9/02068

    Abstract: 在此提出一种新型装置,该装置在干涉仪内引入一种混合挠曲安装的动镜部件。特别地,提供与具有该移动光学部件的新型倾斜和速度控制的一种新型挠曲安装组合的一种线性轴承。这样一种安排能够校正镜自身的误差,同时也解决了由在许多常规干涉仪中使用的轴承表面的缺陷造成的、隔离振动和噪音的问题。使用本发明的这样一种偶联的挠曲安装,除了以上的益处还增强了速度控制,这是因为该动镜组件的所产生的低质量使在此披露的系统能够比常规的镜速度控制干涉仪器具更快地响应,并且具有较低的速度误差以便提供来自该分析器具的一个更稳定并且更低噪音的频谱。

    紧凑型菲涅尔双面镜全反射大视场干涉成像光谱仪光路结构

    公开(公告)号:CN101368849B

    公开(公告)日:2010-06-23

    申请号:CN200710120416.7

    申请日:2007-08-17

    Abstract: 一种紧凑型菲涅尔双面镜全反射大视场干涉成像光谱仪光路结构,属于对地观测领域中成像光谱仪的技术范畴。本发明是由反射式前置望远镜、入射狭缝、紧凑型准直结构、菲涅尔双面镜、离轴柱面反射镜、焦平面探测器等部分组成。反射式前置望远镜将目标成像于一维狭缝上;狭缝的像投射到紧凑型准直结构,在准直的光路中加入了菲涅尔双面镜结构,使光束在准直的同时被剪切为两束具有一定交角的相干平行光;这两束光再经过离轴柱面反射镜镜聚焦最后投射到焦平面探测器表面,形成一维干涉条纹分布和另一维的灰度图像分布。本发明具有全反射、准直及干涉结构紧凑、宽视场、高光通量以及光学结构小型化的特点,该结构可应用于航空航天遥感对地观测领域。

    太赫兹成像装置和太赫兹成像方法

    公开(公告)号:CN101566589A

    公开(公告)日:2009-10-28

    申请号:CN200910135979.2

    申请日:2009-05-07

    Abstract: 本发明涉及一种太赫兹成像装置和太赫兹成像方法。所述太赫兹成像装置包括太赫兹脉冲发射装置、分振幅干涉装置、探测器;所述分振幅干涉装置将太赫兹脉冲发射装置发射的太赫兹脉冲分为参考光和信号光;并且使参考光和信号光的光程差小于一个波列长度,此时,参考光和信号光发生分振幅干涉,产生包含有样品信息的太赫兹脉冲分振幅干涉信号;所述探测器接收太赫兹脉冲分振幅干涉信号,产生包含有样品信息的电信号。所述太赫兹成像装置是采用分振幅干涉的手段对样品进行成像,因此可以对样品进行真正的三维成像,并且具有高分辨率和高信噪比的优点。与传统的太赫兹成像技术相比,本发明在光学成像领域可以说是一个开拓性发明。

    一种偏振干涉成像光谱系统

    公开(公告)号:CN205506216U

    公开(公告)日:2016-08-24

    申请号:CN201620024948.5

    申请日:2016-01-12

    Abstract: 本实用新型是一种偏振干涉成像光谱系统。成像光谱系统包括微透镜阵列、准直镜、第一偏振阵列、Savart偏光镜组、第二偏振阵列、成像透镜、CCD探测器、信号处理系统,其中目标光源入射微透镜阵列,经过准直镜形成平行光,再经过第一偏振阵列形成线偏振光,Savart偏光镜组将线偏振光束分成两束线偏振平行光,再经过第二偏振阵列形成偏振方向相同的线偏振光,最后通过成像透镜聚合在CCD探测器上,形成干涉图,CCD探测器上形成的干涉图输入信号处理系统进行处理得到带有偏振信息的光谱图。本实用新型结构简单稳定,没有任何机械运动部件和电调谐器件,能同时获得物体的两维空间信息、一维光谱信息及四维偏振信息,以及同一线偏振态的多个干涉子图像。

    气体成像系统
    137.
    实用新型

    公开(公告)号:CN208060021U

    公开(公告)日:2018-11-06

    申请号:CN201690001093.2

    申请日:2016-06-16

    Abstract: 本文公开了一种气体成像系统。气体成像系统包括小透镜阵列,其配置为接收来自场景的热辐射并且传输热辐射的多个基本相同的子图像;双折射偏振干涉仪,其配置为基于进入双折射偏振干涉仪的每条光线的相应位置来为多个子图像中的每条光线生成光程差,光程差组合形成干涉条纹图案;以及红外焦平面阵列,其配置为通过双折射偏振干涉仪捕获由于光程差而由干涉条纹图案调制的多个子图像的热图像。捕获的热图像可以表示来自场景的热辐射的多个干涉图样本点,并且可以用于构建来自场景的热辐射的多个高光谱图像。

    분광 측정 장치
    139.
    发明公开
    분광 측정 장치 有权
    光谱测量装置

    公开(公告)号:KR1020150045523A

    公开(公告)日:2015-04-28

    申请号:KR1020157008521

    申请日:2013-10-02

    Abstract: 본발명의분광측정장치는피측정물의측정영역내에위치하는복수의측정점으로부터각각발사된측정광속을제1 측정광속및 제2 측정광속으로분할하는분할광학계와, 제1 측정광속및 제2 측정광속을간섭시키는결상광학계와, 제1 측정광속및 제2 측정광속의사이에연속적인광로길이차분포를주는광로길이차부여수단과, 광로길이의연속적인분포에상응하는간섭광의강도분포를검출하는복수의픽셀을포함하는검출부와, 검출부에서검출되는간섭광의광강도분포에기초하여, 피측정물의측정점의인터페로그램을구하고, 이인터페로그램을푸리에변환함으로써스펙트럼을취득하는처리부와, 피측정물과분할광학계의사이에배치된, 그분할광학계와공통의공역면을가지는공역면결상광학계와, 공역면에배치되어복수의측정점으로부터발사된측정광속에공간적인주기변조를주는주기성부여수단을구비한다.

    Abstract translation: 根据本发明的光谱特性测量装置包括:分割光学系统,用于将位于待测物体的测量区域内的多个测量点中的每一个发射的测量光束分成第一测量光束和第二测量 光束; 用于使第一测量光束和第二测量光束彼此干涉的成像光学系统; 光路长度差提供装置,用于提供第一测量光束和第二测量光束之间的光程长度差的连续分布; 用于检测干涉光的光强度分布的检测器; 基于由所述检测器检测出的干涉光的光强度分布获取被测量物体的测量点的干涉图并进行傅立叶变换以获得光谱的处理器; 位于被测量物体与分割光学系统之间的共轭平面成像光学系统,共轭平面成像光学系统具有与分割光学系统共享的共轭平面; 以及位于共轭平面上的周期性提供装置,用于在从多个测量点发射的测量光束之间提供周期性。

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