스펙트럼 광 검출장치
    143.
    发明公开
    스펙트럼 광 검출장치 无效
    光谱光电探测器

    公开(公告)号:KR1020030026326A

    公开(公告)日:2003-03-31

    申请号:KR1020037001176

    申请日:2001-07-05

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0262 G01J3/2803

    Abstract: 본 발명에 따른 스펙트럼 광 검출장치(light spectrum detecting apparatus)는 광 검출기(13; photodetector)와, 상기 광 검출기(13)의 수광면(13a; light receiving surface)을 덮는 광 투과판(13b; light transmitting plate)을 포함하고, 상기 장치에서, 상기 광 투과판(13b)의 전면(S)은 경사지고, 입사광들 중에서 광 투과판(13b)의 후면(T)에 의해 1회 반사된 광은, 그후 광 투과판(13b)의 전면(S) 및 후면(T)에 의해 전체적으로 반사되면서, 상기 광 투과판(13b)의 측면(13d)으로 진행한다. 임의의 미광(stray light)이 상기 광 검출기(13)에 진입하는 것이 방지될 수 있다.

    생물감지기
    145.
    发明公开
    생물감지기 审中-公开
    生物检测器

    公开(公告)号:KR20180019500A

    公开(公告)日:2018-02-26

    申请号:KR20177026653

    申请日:2015-04-22

    Abstract: 본명세서에서개시되는것은장치(200)이며, 이러한장치(200)는, 탐침기들(257)을갖도록구성된복수의위치들(256)(여기서, 복수의위치들(256)에는탐침기들(257)이부착되어있고, 탐침기들(257)과피분석물간의상호작용은신호(258)를발생시킴); 복수의시준기들(295)을포함하는광학시스템(285); 그리고신호(258)를검출하도록구성된복수의픽셀들(270)을포함하는감지기(251)를포함하고, 만약광의전파방향이시준기들(295)의광축으로부터벗어난편차가임계치보다크다면시준기들(295)은광이통과하는것을본질적으로막도록구성된다.

    Abstract translation: 本文公开了一种装置200,其包括被配置为具有探针257的多个位置256,其中多个位置256包括探针 257),并且探针257和围分析物之间的相互作用产生信号258); 一种包括多个准直器(295)的光学系统(285); 以及包括多个像素270的检测器251,其被配置为检测信号258.如果光传播方向与准直器295的光轴的偏差大于阈值, 295被配置为基本上防止光从中通过。

    분광 모듈
    147.
    发明授权
    분광 모듈 有权
    光谱模块

    公开(公告)号:KR101705478B1

    公开(公告)日:2017-02-09

    申请号:KR1020157031223

    申请日:2008-06-05

    Abstract: 분광모듈(1)은본체부(2)가판 형상이기때문에, 본체부(2)의박형화에의해소형화를도모할수 있다. 또한, 본체부(2)가판 형상이기때문에, 예를들어웨이퍼프로세스를이용하여분광모듈(1)을제조할수 있다. 즉, 다수의본체부(2)가되는유리웨이퍼에대해매트릭스형상으로렌즈부(3), 회절층(4), 반사층(6) 및광검출소자(7)를마련하고, 당해유리웨이퍼를다이싱하는것에의해분광모듈(1)을다수제조할수 있다. 이와같이하여, 분광모듈(1)을용이하게대량생산하는것이가능하게된다.

    Abstract translation: 由于分光模块1为板状,因此能够使主体部2小型化而小型化。 此外,由于主体部2为板状,所以能够使用例如晶片工艺来制造分光模块1。 换言之,提供多个主体部(2)在玻璃晶片上的矩阵,它是衍射层4的形式的透镜部3,反射层6和光检测chulsoja 7,和管芯到艺术玻璃晶片切割的 可以制造多个分光模块1。 以这种方式,可以容易地批量生产分光模块1。

    웨이퍼 레벨 분광기
    148.
    发明公开
    웨이퍼 레벨 분광기 审中-实审
    WAFER LEVEL SPECTROMETER

    公开(公告)号:KR1020140044863A

    公开(公告)日:2014-04-15

    申请号:KR1020147001381

    申请日:2012-06-12

    Abstract: 광학 방사선의 특성을 측정하는 센서 장치는 기판, 및 하나 이상의 공간적으로 분리된 위치에서 기판 내에 위치되는 로우 프로파일 스펙트럼 선택적 검출 시스템을 갖는다. 스펙트럼 선택적 검출 시스템은 광학 검출기의 대응하는 어레이에 광학적으로 결합되는 파장 선택기의 일반적인 래머너 어레이를 포함한다. 본 요약은 검색자 또는 다른 독자가 신속하게 기술 발명의 주제를 확인하게 할 요약을 요구하는 규정을 준수하기 위해 제공된다는 것이 강조된다. 이것은 청구항의 범위 또는 의미를 해석하거나 제한하는데 사용되지 않을 것이라는 이해와 함께 제출된다.

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