OPTICAL INSPECTION FOR CONTAINER LEAN
    143.
    发明公开
    OPTICAL INSPECTION FOR CONTAINER LEAN 有权
    用于检测倾斜的包装材料包装的光学测试

    公开(公告)号:EP1709432A1

    公开(公告)日:2006-10-11

    申请号:EP05712051.1

    申请日:2005-01-25

    CPC classification number: G01N21/9045 G01B11/26 G01N21/90 G01N2201/0635

    Abstract: Apparatus for inspecting lean of a container (34) includes a light source (50) positioned beneath a container (34) for directing light energy (60) onto the container bottom (62) as the container is held in position and rotated around an axis (A). A light sensor (54) positioned beneath the container (34) receives portions of the light energy from the source (50) reflected from the container bottom (62). An information processor (56) is coupled to the light sensor (54) for determining, as a combined function of the reflected light energy and container rotation, departure of the container bottom (62) from a plane perpendicular to the axis (A). The container (34) preferably is held in position and rotated around an axis by a drive roller (24) that urges the container (34) against axially spaced backup rollers (26, 28) so as to define an average axis of rotation as a suction of the geometry of the container (34) and spacing between the backup rollers (26, 28).

    Optical inspection system and method
    144.
    发明公开
    Optical inspection system and method 审中-公开
    OptischePrüfvorrichtungund Verfahren

    公开(公告)号:EP1058111A2

    公开(公告)日:2000-12-06

    申请号:EP00401435.3

    申请日:2000-05-23

    Abstract: An optical inspection system (12, 112) is presented, aimed at detecting defects on a substantially flat workpiece (W) having an axis of symmetry (OP). The workpiece is supported on a stage (18) so as to be in an inspection plane (IP), the stage being mounted for rotation in a plane parallel to the inspection plane. A scanning apparatus (16) is accommodated above the workpiece, and comprises an illumination assembly (24), a plurality of optical assemblies (OA), and a plurality of area sensors (AS). The illumination assembly produces a plurality of incident radiation components for illuminating a strip (S) on the workpiece extending parallel to the axis symmetry between two opposite sides thereof. The optical assemblies are aligned along the axis of symmetry in a spaced-apart parallel relationship, and are mounted for reciprocating movement within a plane parallel to an inspection area (IA) that covers substantially a half of the workpiece. The area sensors are arranged in a predetermined manner, each area sensor being associated with a corresponding one of the optical assemblies for receiving a component of returned radiation and generating data representative thereof. The half of the workpiece is strip-by-strip inspected, then the stage with the workpiece is rotated by 180° and the other half of the workpiece is strip-by-strip inspected.

    Abstract translation: 提出了一种光学检查系统(12,112),其目的是检测具有对称轴(OP)的基本平坦的工件(W)上的缺陷。 工件被支撑在平台(18)上以便处于检查平面(IP)中,该台被安装成在与检查平面平行的平面中旋转。 扫描装置(16)容纳在工件上方,并包括照明组件(24),多个光学组件(OA)和多个区域传感器(AS)。 照明组件产生多个入射辐射部件,用于照射平行于其两个相对侧之间的轴对称的工件上的条带(S)。 光学组件沿着对称轴线以间隔开的平行关系对准,并且被安装用于在平行于覆盖工件的大致一半的检查区域(IA)的平面内往复运动。 区域传感器以预定方式布置,每个区域传感器与相应的一个光学组件相关联,用于接收返回的辐射的分量并产生代表其的数据。 工件的一半被逐条检查,然后将工件的台面旋转180°,另一半工件被逐条检查。

    METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE IMAGE CLARITY OF A SURFACE
    146.
    发明授权
    METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE IMAGE CLARITY OF A SURFACE 失效
    方法和设备用来确定一个表面的图像清晰度。

    公开(公告)号:EP0528915B1

    公开(公告)日:1994-01-05

    申请号:EP91909449.0

    申请日:1991-05-17

    CPC classification number: G01B11/303 G01N21/57 G01N2201/0635

    Abstract: Method for determining the image clarity of a surface of a sheet, strip or similar, comprising reflection of an image on the surface, detection of a virtual image of the image projected onto the surface and the processing of the detected virtual image of the image projected onto the surface into a signal that is presented as a measure for the image clarity of the surface, wherein the image reflected onto the surface is composed of a number of distinctive light spots and wherein the number of distinctive light spots is determined from the virtual image detected, which number determines, at least in part, the magnitude of the signal.

    検査装置及び検査装置の制御方法
    148.
    发明专利
    検査装置及び検査装置の制御方法 有权
    检验装置检测装置及检验装置的控制方法

    公开(公告)号:JP2016130663A

    公开(公告)日:2016-07-21

    申请号:JP2015004253

    申请日:2015-01-13

    Abstract: 【課題】物体にパターン画像を投影した状態で撮像した画像を用いて物体の検査を行う検査装置において、2次反射ノイズを抑制し、信頼性の高い計測及び検査を可能にするための検査装置及び検査装置の制御方法を提供する。 【解決手段】他の物体の反射面で反射した光に起因する2次反射を生じ得る2次反射物体が存在する場合に、制御装置は、反射面に光が当たらないように投影装置から投影するパターン画像の投影範囲を変更するか、反射面が投影装置から投影するパターン画像の投影範囲から外れるようにパターン画像の投影位置を設定する制御を行う。 【選択図】図4

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种检查装置,其通过使用通过拍摄对象而获得的图像来对物体进行投影,从而对物体进行检查,所述检查装置用于抑制二次反射噪声并能够进行可靠的测量和检查; 以及检查装置的控制方法。解决方案:当存在可能由在另一物体的反射表面上反射的光引起的二次反射的次级反射物体时,控制装置执行将图案图像的投影范围改变为 从投射装置投影,使得光不会落在反射面上,或者设置图案图像的投影位置,使得反射面从投影装置突出的图案图像的投影范围落下。选择 图4:

    試料測定装置および試料測定プログラム
    149.
    发明专利
    試料測定装置および試料測定プログラム 审中-公开
    样品测量设备和样品测量程序

    公开(公告)号:JP2016038222A

    公开(公告)日:2016-03-22

    申请号:JP2014159917

    申请日:2014-08-05

    Abstract: 【課題】見る角度で異なる色に見える光輝材を含む塗料の総合的な定量評価を、一度に実行可能な試料測定装置を提供する。 【解決手段】計算式によって指定される範囲に設置された複数の角度から試料61に照明15a〜15eを順次照射し、その反射光をワンショットで、分光情報の取得が可能な2次元の分光カメラ装置1で撮像する。また、試料61の2次元の分光情報が、分光カメラ装置1で撮像された2次元画像内のX軸方向およびY軸方向の画素毎の照明方向と撮像方向の光学幾何条件の変化を利用して偏角分光情報を得る。そして、面内を一様の試料として捉え、測定範囲として定めた角度範囲の偏角分光情報、偏角測色情報、BRDF情報を得ると共に、光輝感、粒子感、光沢、ヘーズ、写像性、オレンジピール等の質感を算出する。 【選択図】図14

    Abstract translation: 要解决的问题:提供一种样品测量装置,其可以一次执行包括根据视角看起来像不同颜色的发光材料的涂料的总体定量评估。解决方案:样品61是 从由计算公式指定的范围设定的多个角度依次照射照明15a-15e,并且用能够获得光谱仪信息的二维光谱仪相机装置1一次性地拍摄反射光。 此外,通过利用在样品61上具有二维光谱仪信息的二维图像内的X和Y轴方向上的每个像素的照明和图像拍摄方向上的光学几何条件的变化来获得偏角光谱仪信息 然后,在将平面内的假定为均匀的样本的情况下,得到作为测定范围确定的角度范围的倾斜光谱仪信息,偏角比色信息和BRDF信息, 作为亮度感觉,颗粒感,光泽,雾度,图像清晰度,橙皮等。选择图:图14

    改良された表面プラズモン共鳴方法
    150.
    发明专利
    改良された表面プラズモン共鳴方法 有权
    改进的表面等离振子共振法

    公开(公告)号:JP2015509597A

    公开(公告)日:2015-03-30

    申请号:JP2014560342

    申请日:2013-03-05

    Abstract: 本開示は、表面プラズモン共鳴(SPR)信号の処理に関し、特に、導電性表面に二つの波長で光を照射することにより得られる信号の処理に関する。実施の形態は、SPRが生じる導電層から得られる光強度を示す第1および第2の信号を、当該層における入射、反射または回折(入射光線を記録する検出器によって導電層からの反射または透過のいずれが得られるかによる)の角度の関数として処理することを含む。第1および第2の信号のそれぞれは、二つの凹みと二つの凹みの間に位置するピークとを有し、二つの凹みは各波長にて表面プラズモン共鳴が生じるそれぞれの角度における光の各波長に対応する。この処理は、ピークの領域における信号の大きさを示す量である第1および第2の値の導出を含む。この方法は、その結果、第1および第2の値を比較し、第1の信号の取得後、第2の信号の取得前における導電層の屈折率変化の検出を提供する。【選択図】図2

    Abstract translation: 本发明涉及对治疗的表面等离子体共振(SPR)信号的,特别是,它涉及通过照射光在两个波长的导电表面所获得的信号的处理。 该实施例中,指示从该SPR由其中记录了入射光的检测器时,入射在该层中,反射或衍射(从导电层反射或透射导电层所获得的光强度的第一和第二信号 包括处理为一个的角度的函数是由于或产生)的。 每一个第一和第二信号,并且位于两个凹陷和两个凹口,光的每个波长之间的每个角度的表面等离子体共振的峰的出现在两个缺口每个波长 对应。 该方法包括在第一和第二值的推导是表示信号中的峰值的区域的大小的量。 该方法中,作为结果,比较所述第一值和第二值,获取所述第一信号之后,并提供一个检测的采集所述第二信号之前在导电层的折射率的变化。 .The

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