Enhanced fluorescence detection and methods
    143.
    发明专利

    公开(公告)号:JP2013511713A

    公开(公告)日:2013-04-04

    申请号:JP2012539852

    申请日:2010-11-17

    Abstract: 本発明は、発光をモニターする状況下での光学的検出及び感度を改善するシステム及び方法に関する。 発光検出の感度の増大を達成する試料担体が提供される。 試料担体は試料担持部分と光反射部分とを含んでおり、光反射部分は、試料担持部分に配置された試料から集光及び検出システムの方向に放出された発光だけでなく、集光及び検出システムから離れる方向に放出されて光反射部分によって集光及び検出システムの方向に反射された発光も集光及び検出システムで集光することができるように配置される。 励起光源が必要とされる場合、光反射部分は、さらに、励起光線が試料を通して光反射部分に当たり、反対方向に反射して戻ることができるようにし、したがって、反射励起光は、さらに、試料を通過する。 さらに、かかる試料担体を使用する方法が提供される。
    【選択図】 図2

    屈折率の計測方法、計測装置、光学素子の製造方法
    148.
    发明专利
    屈折率の計測方法、計測装置、光学素子の製造方法 审中-公开
    折射率的测定方法,测定装置,制造光学元件的方法

    公开(公告)号:JP2017003434A

    公开(公告)日:2017-01-05

    申请号:JP2015117797

    申请日:2015-06-10

    Inventor: 杉本 智洋

    Abstract: 【課題】被検物の位相屈折率を高精度に計測することができる計測方法を提供する。 【解決手段】光源10からの光を参照光と被検光に分割し、参照光と被検物80を透過した被検光を干渉させて参照光と被検光の位相差を計測する。基準被検物の位相屈折率の波長に関する傾きに基づいて、位相差が有する2πの整数倍に対応する未知数を算出し、被検物80の位相屈折率を算出する。 【選択図】図1

    Abstract translation: 提供一种能够测量与高精度测试对象的相位指数的测量方法。 的分割从光源10到参考光和测试光,参考光和通过干涉测量通过所述参考光束和所述测试光之间的相位差发送的测试光的检查对象80的光。 基于与基准测试对象的相位指数的波长的倾斜,计算对应于与相位差2π的整数倍的未知数,并且计算测试对象80的相索引。 点域1

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