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    Method for setting amount of illumination light in image measuring apparatus
    143.
    发明专利
    Method for setting amount of illumination light in image measuring apparatus 有权
    在图像测量装置中设置照明光量的方法

    公开(公告)号：JP2009168510A

    公开(公告)日：2009-07-30

    申请号：JP2008004650

    申请日：2008-01-11

    Applicant: Mitsutoyo Corp ,  株式会社ミツトヨ

    Inventor： ASANO HIDEMITSU ,  MATSUMIYA SADAYUKI

    IPC: G01B11/02 ,  G01B11/24 ,  H05B37/02

    CPC classification number: G01B11/24 ,  G01N2201/127

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method for setting the amount of illumination light and capable of easily setting it in such a way as to have the same amount of illumination light as an illumination setting value set for every section to be measured without having to modify the illumination setting value in the case that the amount of light of an illumination means has changed in an image measuring apparatus.
    SOLUTION: The image measuring apparatus is provided with a camera for imaging a plurality of sections to be measured on the basis of preset measuring procedures and an illumination unit 19 for illuminating the sections to be measured, makes reference to an illumination setting value L
    P preset for every section to be measured, and measures the size and shape of an object to be measured as illuminating illumination light of an amount corresponding to this by the illumination unit 19. The method for setting the amount of illumination light is provided with an instruction signal output process for outputting an instruction signal which allows to illuminate with the amount of illumination light corresponding to the illumination set value L
    P set for every section to be measured; an offset value providing process for providing the instruction signal with an offset value L
    0 and providing them for the illumination means; and a setting process for variably setting the offset value L
    0 .
    COPYRIGHT: (C)2009,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：提供一种用于设置照明光量并且能够容易地将其设置为具有与要测量的每个部分设定的照明设定值相同的照明光量的方法 在图像测量装置中在照明装置的光量变化的情况下，不必修改照明设定值。 解决方案：图像测量装置设置有用于基于预设测量程序对待测量的多个部分成像的照相机和用于照亮被测量部分的照明单元19参照照明设定值 L＆lt; SB＆gt; P＆lt; SB＆lt; SB＆gt;预先设定为测量对象的尺寸和形状，并且测量作为照明单元19对应的量的照明照明光。 照明光量设置有用于输出指示信号的指令信号输出处理，该指令信号允许用与要测量的每个部分设置的照明设定值L P 相对应的照明光量照亮; 偏移值提供处理，用于向指令信号提供偏移值L 0 并将其提供给照明装置; 以及可变地设定偏移值L 0 的设定处理。 版权所有（C）2009，JPO＆INPIT

    光学センサ表面における物質移動特性の正規化
    147.
    发明专利
    光学センサ表面における物質移動特性の正規化 审中-公开

    公开(公告)号：JP2017519216A

    公开(公告)日：2017-07-13

    申请号：JP2016574450

    申请日：2015-06-19

    Applicant: ジーイー・ヘルスケア・バイオサイエンス・アクチボラグ

    Inventor： カールソン，オロフ

    IPC: G01N33/543 ,  G01N33/53

    CPC classification number: G01N33/6827 ,  G01N21/274 ,  G01N21/553 ,  G01N2201/127

    Abstract: 本発明は、較正不要濃度分析のための標識不要システムの正規化のための方法に関する。本方法は、(1)既知の濃度の対照高分子粒子を含んでいる前記高分子粒子のpIよりも低いpHおよび低イオン強度の溶液を用意するステップと、(2)前記溶液を負に帯電した光学センサ表面に第1の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第1のセンサグラムを得るステップと、(3)前記溶液を前記光学センサ表面に第2の流量にて接触させて、前記高分子粒子の前記表面への静電的結合を可能にし、第2のセンサグラムを得るステップと、(4)前記センサグラムを結合方程式へとフィッティングし、前記対照の測定濃度を明らかにするステップと、を含んでおり、前記光学センサ表面には、前記対照のためのリガンドが固定されておらず、前記接触させるステップは、物質移動による律速のもとで実行される。さらに、本方法を実行するためにキット、およびアナライトの濃度を明らかにするための方法も提供される。【選択図】図1

    検査装置、及び調整方法
    148.
    发明专利
    検査装置、及び調整方法 有权
    检查装置，及调整方法

    公开(公告)号：JPWO2014109205A1

    公开(公告)日：2017-01-19

    申请号：JP2014556361

    申请日：2013-12-19

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ

    Inventor： 神宮　孝広 ,  孝広 神宮

    IPC: G01N21/93 ,  G01N21/956

    CPC classification number: G01N21/9501 ,  G01N21/93 ,  G01N21/956 ,  G01N2201/127

    Abstract: 使用環境や使用時間に関係なく、正確に校正可能な検査装置が実現される。搬送システム110上に回析格子107が形成された基準基板100が搭載され照明光学系104からの光105による照明領域106が回析格子107上に形成され、検出光学系108に反射光を集光しセンサ111からの出力値を測定する。処理部112内に保存されたシミュレーション値とセンサ111からの出力値との差分が所定の許容範囲以内であるか否かを判断し、許容範囲内となるように光学系を調整する。検査装置の校正を行うための標準データを、回析格子を使用して得るように構成したので、使用環境や使用時間に関係なく、正確に校正可能な検査装置を実現することができる。

    Abstract translation: 无论使用环境和使用时间，准确标定检测系统实现的。 从参考衬底100光栅107形成在输送机系统110上的照明区域106通过光105被安装在衍射光栅107上形成104的照明光学系统，聚焦的反射光检测光学元件108 光并测量来自传感器111的输出值。 从存储在处理单元112和传感器111确定模拟值的输出值之间的差在预定容限内是否与否，来调整光学系统，以在允许范围内。 标准数据，用于校准的测试装置，因为它被配置成使用衍射光栅，无论，能够实现使用环境和时间，可以精确校准测试装置。

    屈折計に対する波長校正
    149.
    发明专利
    屈折計に対する波長校正 审中-公开
    波长校正折射

    公开(公告)号：JP2016212103A

    公开(公告)日：2016-12-15

    申请号：JP2016090457

    申请日：2016-04-28

    Applicant: アントン パール オプトテック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング

    Inventor： オステルメイヤー,ドクター マルティン

    IPC: G01N21/43

    CPC classification number: G01N21/4133 ,  G01N21/274 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/127

    Abstract: 【課題】 提供する本発明の課題は、屈折計の正確な長期運用を可能にすることである。 【解決手段】 試料(19)の屈折率に対する指標となる情報を確認する屈折計(1)の運転波長特性を校正するための校正装置(16)であって、 自己トレーサブルに校正可能な、望ましくは少なくとも部分的に屈折計外にある確認装置(17)を備え、確認装置(17)は屈折計(1)の設定可能な目標運転波長特性と実際運転波長特性との間の不一致に対する指標となる情報を確認するために設置され、この情報に基づいて屈折計(1)を校正することができる。 【選択図】図5

    Abstract translation: 本发明提供的一个目的是为了使折射计的精确长期操作。 解决方案：将样品折射计，以确保在（19）的校准装置的折射率的索引信息，用于校准的（1）（16）在工作波长特性，这可以被校准用于自可追踪，优选 和指标在配备了至少部分地折射计出验证装置之间的差异与一个（17），所述验证设备（17）实际动作波长特性折射设定目标工作波长特性（1） 被安装在以检查服务的信息，能够进行校准的这些信息的基础上，折射计（1）。 点域5

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