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公开(公告)号:CN119374720A
公开(公告)日:2025-01-28
申请号:CN202411284596.2
申请日:2024-09-13
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
Abstract: 本发明涉及一种棱镜色散型光谱仪及其空间姿态装调装置、方法,属于光学仪器装调技术领域,解决高光谱成像系统空间姿态调整精度低的技术问题,其棱镜色散型光谱仪的空间姿态装调方法包括曲面棱镜定位、反射镜定位、同轴镜组定位的步骤。其空间姿态装调装置包括气浮平台、干涉仪、光学经纬仪、柔性关节臂、激光跟踪仪、剪切台、五维调节架、靶球。其棱镜色散型光谱仪光学系统包括沿光路依次设置的同轴镜组、曲面棱镜、反射镜。其棱镜色散型光谱仪包括棱镜色散型光谱仪光学系统。该发明用于高光谱成像系统。
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公开(公告)号:CN119197768A
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202411514765.7
申请日:2024-10-28
Applicant: 长光驰宇科技(长春)有限公司
Abstract: 本发明公开了一种光谱成像装置,包括镜头、反射面、分光部以及探测部,镜头用于获取来自外界的光,使获取的光入射至反射面,反射面、分光部以及探测部整体组装,分光部与反射面相对设置,反射面用于将光反射至分光部,分光部用于将光进行分光以产生不同光谱的分光光束,产生的分光光束入射至反射面,反射面将分光光束反射,使反射出的分光光束入射至探测部,探测部基于接收到的光生成电信号。本发明通过设置反射面,使镜头获取的光经过分光部最后到达探测部的传播光路形成了“W”型传播光路,使得光谱成像装置结构紧凑,能够减小体积,并且反射面、分光部及探测部整体组装,有助于使光谱成像装置的稳定性提高。
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公开(公告)号:CN118999788A
公开(公告)日:2024-11-22
申请号:CN202411072136.3
申请日:2024-08-06
Applicant: 中山大学
Abstract: 本发明公开了一种基于梯度渐变超表面的快照式高光谱成像装置及方法,能够对物体表面反射光谱进行精准成像从而可视化光谱测量,梯度渐变超表面被设计具有缺陷容忍、成像单元可重构的特点,所述光谱重建方法具有局部区域匹配及子区域一次成像,成像波段容易拓展且计算量小可集成于智能手机等移动设备;同时本发明简便易行,制造成本低廉且工艺兼容性高,适合大批量、自动化物体表面光谱测量及检测等研究工作。
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公开(公告)号:CN118896687A
公开(公告)日:2024-11-05
申请号:CN202310482816.1
申请日:2023-05-03
Applicant: 吴玉珍
Abstract: 本发明公开了一种新型分光计。它含底座、角度盘、望远镜、准直管、载物台、制动架。载物台处于遮光罩的内部。遮光罩后面有一个后开孔,后开孔与准直管的出光端吻合。遮光罩后面底部的中央开了一个凹口,凹口卡在制动架上,遮光罩的前面开有出光条形孔,出光条形孔上带有可滑动的挡光板,挡光板与遮光罩磁性吸合。望远镜的入光端套有可伸缩式的延长套筒。它可解决现有技术中的分光计无法在明亮环境下观测弱光谱线的缺陷,使分光计的使用不受环境限制,提高了分光计对弱光谱线的检测能力,显著方便了实验教学。它用于高校的大学物理实验或分光计相关的科研、生产领域。
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公开(公告)号:CN118882826A
公开(公告)日:2024-11-01
申请号:CN202410950674.1
申请日:2024-07-16
Applicant: 北京理工大学
Abstract: 本发明公开的基于光谱降维和集成成像的多光谱场景生成装置及方法,属于光电信息技术领域。本发明的多光谱场景生成装置,主要由多或高光谱光源生成模块、波长‑区域映射模块、合像模块、光学投影模块组成。本发明将一宽谱光源分光成单波长光后,将激光信号的不同波长信息与空间光调制器的不同区域建立映射关系,在空间光调制器上形成单波长图像,再将各单波长图像在空间中叠加成像,合成一副多或高光谱图像,实现多或高光谱光源的成像;所成的像经投影系统投射到被测多或高光谱成像设备的接收光学系统,完成多或高光谱场景的生成。本发明能够应用于多或高光谱成像系统的性能测试以及对多或高光谱成像制导系统的半实物仿真试验。
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公开(公告)号:CN118836982A
公开(公告)日:2024-10-25
申请号:CN202410959150.9
申请日:2024-07-17
Applicant: 苏州亿欧特光电科技有限公司
IPC: G01J3/28 , G01J3/12 , G02F1/139 , G02F1/1335 , G02F1/1343
Abstract: 本发明公开了一种基于电控液晶相位调制的光谱成像方法,包括偏置电压编码宽谱探测成像系统以及波分复用光谱重构算法。所述偏置电压编码宽谱探测成像系统由电控液晶相位调制器、起偏片、检偏片、分光棱镜以及光电探测器组成。不同波长入射光照射到液晶相位调制器产生不同的相位延迟,改变调制器的偏置电压,还可以对不同波长入射光的相位延迟产生调制。通过适当的偏振片设置,将入射光通过液晶相位调制器的相位变化转化为输出光的强度变化,并通过光电探测器获得调制器偏置电压编码的一系列非线性相关的宽谱相应去向。利用光电探测器所获得的非相关宽谱响应曲线,通过波分复用方法重构入射光谱,最终实现光谱成像。
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公开(公告)号:CN118805068A
公开(公告)日:2024-10-18
申请号:CN202380023117.9
申请日:2023-02-24
Applicant: 特里纳米克斯股份有限公司
IPC: G01J3/10 , G01J3/26 , G01J3/42 , G01J3/12 , G01N21/31 , G01N21/35 , G01N21/359 , G01J3/02 , G01N21/27 , G01J3/433 , G01N21/47
Abstract: 本发明涉及一种用于分析样品(111)的光谱仪装置(110)。光谱仪装置(110)包括至少一个发光元件(112),该至少一个发光元件被配置用于发射在测量光谱中的光;至少一个参考发光元件(114),该至少一个参考发光元件被配置用于发射在参考光谱中的光。进一步,光谱仪装置(110)包括至少一个接口元件(116),该至少一个接口元件被配置用于接收测量光谱的光并将测量光谱的光传输到至少一个检测器阵列(122),其中,接口元件(116)进一步被配置用于阻挡参考光谱的参考光。进一步,光谱仪装置(110)包括至少一个分段式光阑(118),该至少一个分段式光阑被配置用于充当角度滤波器和杂散光滤波器中的一个或多个。进一步,光谱仪装置(110)包括至少一个光学分离元件(120)。进一步,光谱仪装置(110)包括至少一个检测器阵列(122),该至少一个检测器阵列包括多个检测器元件(124),其中,检测器阵列(122)被配置用于根据测量光谱和参考光谱中的一个或多个对多个检测器元件(124)的照射来生成至少一个检测器信号,其中,每个检测器元件(124)被配置用于接收测量光谱和参考光谱中的一个或多个的至少一部分。进一步披露了一种光谱仪系统(146)、一种用于利用光谱仪装置(110)来确定与样品(111)的光谱有关的至少一种信息的方法、以及光谱仪系统(146)的各种用途。
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公开(公告)号:CN118730298A
公开(公告)日:2024-10-01
申请号:CN202310342614.7
申请日:2023-03-31
Applicant: 上海巨哥科技股份有限公司
Abstract: 本发明提出了一种用于光谱测试的多路复用装置及光谱测试设备及测试方法,多路复用装置主要是由密闭的壳体、沿壳体的周向布局设置的入射耦合透镜、设置于壳体内的转动部件,聚焦耦合透镜,以及反射器件等构成。其中,入射耦合透镜用于将接收的光线,例如从待测环境反射的探测光线耦合形成输入光线。聚焦耦合透镜用于与外部的测试仪器,例如光谱测试仪形成光纤耦合连接。其中,当反射器件跟随转动部件依次转动至对应的预设工位后,用于将对应的入射耦合透镜射出的输入光线,反射至聚焦耦合透镜内形成聚焦光线。与现有技术相比,本申请不仅可简化结构,而且可实现多个待测物品的测量点的测量,并适应各种应用场景,以降低制造成本。
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公开(公告)号:CN117553916B
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202311509940.9
申请日:2023-11-13
Applicant: 散裂中子源科学中心 , 中国科学院高能物理研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于连续双缝扫描的束流发射度测量仪及测量方法,测量仪包括数据处理模块、狭缝模块和荧光采集模块;数据处理模块和荧光采集模块电连接;狭缝模块包括第一狭缝板和第二狭缝板,第一狭缝板包括第一狭缝;第二狭缝板包括第二狭缝,第一狭缝和第二狭缝依次位于束流前进方向上,束流经第一狭缝后分割成n个子束团,子束团经第二狭缝后分割成m个子子束团;荧光采集模块包括荧光屏和图像采集装置,图像采集装置用于采集荧光屏上子子束团的荧光图像;数据处理模块用于根据子子束团的荧光图像,确定束流在第一狭缝处的相空间分布。利用两个纵向连续狭缝进行发射度测量,可以抑制空间电荷效应造成的测量误差,可以精准获得束流发射度。
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公开(公告)号:CN112304431B
公开(公告)日:2024-08-16
申请号:CN201910686320.X
申请日:2019-07-26
Applicant: 中国科学院上海微系统与信息技术研究所
Abstract: 本申请实施例涉及太赫兹应用技术领域,采用本申请实施例公开的成像系统及成像方法,通过机械联动组件与光学组件配合传输光源发射的第一光信号实现对不可移动物体的逐点移动扫描,并基于光学组件反射带有待成像物体信息的第二光束,基于机械联动组件反馈待成像物体的位置信息,再通过数据采集处理模块接收第二光束和物体的位置信息,进行图像还原。
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