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公开(公告)号：KR1019970005391B1
公开(公告)日：1997-04-15
申请号：KR1019940027480
申请日：1994-10-26
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R33/00
Abstract: The automatic measuring TEM(transverse electromagnetic cell) including a tested object area part(1) formed asymmetrically to enlarge the internal space into which a tested object is placed; a rotation table area part(4) for performing direction variation for the rotation of the tested object; a coaxial connector sealing part(3) for connecting a coaxial connector and a TEM cell on the both ends thereof to maintain the impedance matching to each other; and a taper area part(2) in which a first driving shaft(32) is installed, for connecting the tested object area part(1) and the coaxial connector sealing part(3), is characterized in that the tested object area part(1) has internal conductors which are not bent to enlarge the internal space, the internal conductors have rotation shafts thereof provided in the tested object area, and a safety device is provided to prevent the damage of the internal conductors.
Abstract translation: 包括测试对象区域部分（1）的自动测量TEM（横向电磁细胞），其不对称地形成，以放大放置测试对象的内部空间; 旋转台区域部分（4），用于执行被测试物体的旋转的方向变化; 用于在其两端连接同轴连接器和TEM单元的同轴连接器密封部分（3），以保持彼此匹配的阻抗; 以及安装有测试对象区域部分（1）和同轴连接器密封部分（3）的第一驱动轴（32）的锥形区域部分（2），其特征在于，被测试物体区域部分 1）具有不弯曲以扩大内部空间的内部导体，内部导体具有设置在被测试物体区域中的旋转轴，并且设置安全装置以防止内部导体的损坏。
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公开(公告)号：KR1019960019965A
公开(公告)日：1996-06-17
申请号：KR1019940030101
申请日：1994-11-16
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: H03H3/00
CPC classification number: G01R29/105
Abstract: 본발명은전송선로내부에서균등전자장이발생되는특성을이용하여, 전자장강도측정기교정용, 안테나교정용및 전기전자장비의불요전자파간섭및 내성(EMI/EMS)측정용등으로사용되는자동측정용광대역전자파발생장치(ABES : Automatic Broadband Electromagnetic Generator)로서피시험체의측방향의방위변화는내부도체를회전시켜보상하고, 피시험체의회전에대한방위변화는전자파누설을방지하면서외부에서동력전달을시킬수 있도록한 회전탁자를구비함으로서모든측정과정을보다간편하게실시하도록한 자동측정용광대역전자파발생장치에관한것이다.
Abstract translation: 用于自动地将本发明的传输线中，通过使用这样的特性是均匀的电子表时，使用电磁场强度测量仪校准用于电气和电子设备的天线校准和不需要的电磁波干扰和免疫（EMI / EMS）的测量，如测量 宽带电磁波产生装置（ABES：自动宽带电磁发生器）之前补偿血液到测试样品方向的横向方向上取向的变化而变化，并且EUT国会转动内导体是sikilsu来自外部的电力传输，同时防止电磁波泄漏 通过使表的旋转涉及宽带电磁波产生设备，用于将被更容易地进行自动测量到所有的测量过程。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：KR1019950014756B1
公开(公告)日：1995-12-14
申请号：KR1019930029386
申请日：1993-12-23
Applicant: 한국전자통신연구원
Inventor： 윤재훈
IPC: G01R33/00
Abstract: a tested material region which is formed to be a cube shape and has a plurality of supporting bars therein; a trapezoid shape of taper region having a first taper radius plate connected to a boundary surface of the tested material region and formed to be a curve to suppress the generation of a flanged wave and a second taper radius plate formed to be a curve to suppress a reflective wave at its maximum; a coaxial connector joint region which is connected between a connector and the end of a taper region and has a cubic shape of connector joint to which a flange is placed to connect and separate the taper region; an internal septum one side of which is inserted to the connector joint, which is placed inside of the tested material region to be supported by the supporting bar and forms an electric field between the tested material region and an external conductor plate; and an opening/shutting unit having shield windows at the upper and lower sides to observe the operation of the tested material.
Abstract translation: 测试材料区域，其被形成为立方体形状并且在其中具有多个支撑杆; 锥形区域的梯形形状，具有与测试材料区域的边界面连接的第一锥形半径板，并且形成为抑制法兰波的产生的曲线，以及形成为曲线的第二锥形半径板，以抑制 反射波最大; 连接在连接器和锥形区域的端部之间的同轴连接器接头区域，并且具有立方体形式的连接器接头，法兰布置到该连接器接头以连接和分离锥形区域; 其内隔板一侧插入到连接器接头中，该连接器接头被放置在待测材料区域内以由支撑杆支撑并在测试材料区域和外部导体板之间形成电场; 以及在上侧和下侧具有屏蔽窗口的开/关单元，以观察被测材料的操作。
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公开(公告)号：KR1019950019760A
公开(公告)日：1995-07-24
申请号：KR1019930029385
申请日：1993-12-23
Applicant: 한국전자통신연구원
Inventor： 윤재훈
IPC: G01R33/00
Abstract: 본 발명은 불요 전자파 내성(EMS)측정용으로 사용되는 곡선형 스트립 라인 셀에 관한 것으로, 상기 시험영역부(1)의 상단도체판(6)과 하단도체판(7)의 경계부분에 일체로 연결된 제1곡선반경판(8) 및 제2곡선반경판(9)으로 이루어진 테이퍼영역부(2);및 상기 테이퍼영역부(2)의 제2곡선반경판(9)이 삽입되도록 코넥터이음매(3a)가 구비도니 동축 코넥터이음매 영역부(3)를 구비하며, 상기의 구성에 하단도체판(6)을 넓은 평판으로 이루어진 테이퍼영역부(2);로 구성하여 전체 길이를 소형의 소정길이를 제작할수 있고, 정재파비(VSWR)가 GHz 이상의 고주파 대역에서 크게는 50% 이하로 줄일 수 있다. 또한, 광대역의 EMP 내성 시험이 가능하고, 모서리파의 발생이 억제되어 보다 넓고 균일한 균등장이 확보되며, 종래의 스트립 라인 셀보다도 수배 이상의 고전력 전송이 가능한 효과가 있다.
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公开(公告)号：KR1019940015523A
公开(公告)日：1994-07-21
申请号：KR1019920024178
申请日：1992-12-14
Applicant: 한국전자통신연구원
IPC: G01R29/00
Abstract: 본 발명은 전기.전자 장비에 대한 불요 전자파 간섭 및 내성(EMI/S)을 측정하는 조립식 원통형 티이엠(TEM) 샐에 관한 것이다.
본 발명은, 외부측 도체의 형상이 원통형으로 형성되되 일부면에 피시험체를 내부에 넣을 수 있도록 설치된 문(7)을 형성시킨 피시험체 측정부(1)와, 외부측 도체의 형상이 원통형으로 형성되며 상기 피 시험체 측정부(1)의 양단에 각각 조립 고정되는 테이퍼부(2)와, 외부측 도체의 형상이 원통형으로 형성되며 상기 테이퍼부(2)의 양단에 각각 조립 고정되는 동축 코넥터 이음매부(3)와, 상기 동축 코넥터 이음매부(3)에 조립 고정되는 N형 코넥터(4)와, 얇은 직각 도체판으로 구성되어 상기 피시험체 측정부(1)와 테이피부(2)의 내측에 설치되되 동축코넥터 이음매부(3)에 양단이 회전가능하도록 고정되는 샙텀(septum)(5)과, 일단은 상기 셉텀(5)의 양측단에 각각 연결 고정되고 타단은 상기 피시험체 측정부(1)를 관통하여 외부로 노출되게 설치되는 셉텀회전구(8) 를 구비한다. -
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