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    APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SEALS OF ITEMS
    151.
    发明申请
    APPARATUS AND METHOD FOR INSPECTING SEALS OF ITEMS 审中-公开
    检查物品密封的装置和方法

    公开(公告)号：WO2014075792A2

    公开(公告)日：2014-05-22

    申请号：PCT/EP2013/003406

    申请日：2013-11-12

    Applicant: FOCALSPEC OY

    Inventor： NIEMELA, Karri ,  KERANEN, Heimo

    IPC: G01N21/95

    CPC classification number: G01N21/9054 ,  G01N21/95 ,  G01N21/9508 ,  G01N2201/061 ,  G01N2201/0683

    Abstract: A measuring apparatus (200) is provided for inspecting a seal (50) of an item (20). The measuring apparatus (200) includes a radiation source (510, 520) for providing radiation for illuminating the seal (50) of the item (20), a detector (530, 540) for receiving radiation from the item (20) for generating a corresponding detected signal, and a processing arrangement (160) for processing the detected signal to generate an output signal indicative of a state of the seal (50). The radiation source (510, 520) is arranged to focus the radiation into a plurality of focal points at the seal (50) of the item (20), wherein the focal points are mutually spatially spaced apart. Moreover, the detector (530, 540) is arranged to image one or more of the focal points and to be selectively sensitive to an intensity of radiation received from the one or more focal points to generate a detected signal. Furthermore, the measuring apparatus (200) includes a processing arrangement (160) for receiving the detected signal and for processing the detected signal to generate the output signal indicative of the state of the seal (50).

    Abstract translation: 设置有用于检查物品（20）的密封件（50）的测量装置（200）。 测量装置（200）包括用于提供用于照射物品（20）的密封件（50）的辐射的辐射源（510,520），用于接收物品（20）的辐射的检测器（530,540），用于产生 相应的检测信号，以及处理装置（160），用于处理检测信号以产生指示密封状态的输出信号（50）。 辐射源（510,520）被布置成将辐射聚焦在物品（20）的密封件（50）处的多个焦点中，其中焦点在空间上相互间隔开。 此外，检测器（530,540）布置成对一个或多个焦点进行成像，并且对从一个或多个焦点接收的辐射强度选择性敏感以产生检测信号。 此外，测量装置（200）包括处理装置（160），用于接收检测到的信号并处理检测信号以产生指示密封状态的输出信号（50）。

    SIMPLE SUGAR CONCENTRATION SENSOR AND METHOD
    152.
    发明申请
    SIMPLE SUGAR CONCENTRATION SENSOR AND METHOD 审中-公开
    简单的葡萄糖浓度传感器和方法

    公开(公告)号：WO2014062795A1

    公开(公告)日：2014-04-24

    申请号：PCT/US2013/065228

    申请日：2013-10-16

    Applicant: K SCIENCES GP, LLC

    Inventor： KORMAN, Valentin

    IPC: G01N33/48

    CPC classification number: A61B5/14532 ,  A61B5/1455 ,  A61B5/14558 ,  A61B5/6815 ,  A61B5/7225 ,  A61B2560/0443 ,  A61B2562/0238 ,  G01N21/21 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0683

    Abstract: A glucose sensor comprising an optical energy source having an emitter with an emission pattern; a first polarizer intersecting the emission pattern; a second polarizer spaced a distance from the first polarizer and intersecting the emission pattern, the second polarizer rotated relative to the first polarizer by a first rotational amount Θ; a first optical detector intersecting the emission pattern; a second optical detector positioned proximal to the second polarizer, the first polarizer and the second polarizer being positioned between the optical energy source and the second optical detector, the second optical detector intersecting the emission pattern; a compensating circuit coupled to the second optical detector; and a subtractor circuit coupled to the compensating circuit and the first optical detector.

    Abstract translation: 一种葡萄糖传感器，包括具有发射器的光能源，其具有发射图案; 与发射图案相交的第一偏振片; 与第一偏振器间隔开一定距离并与发射图案相交的第二偏振器，第二偏振器相对于第一偏振器相对于第一偏转器旋转第一旋转量Θ; 与发射图案相交的第一光学检测器; 位于第二偏振器附近的第二光学检测器，第一偏振器和第二偏振器位于光能源和第二光学检测器之间，第二光学检测器与发射图案相交; 耦合到所述第二光学检测器的补偿电路; 以及耦合到所述补偿电路和所述第一光学检测器的减法器电路。

    欠陥検査装置および欠陥検査方法
    154.
    发明申请
    欠陥検査装置および欠陥検査方法 审中-公开
    缺陷检查装置和缺陷检查方法

    公开(公告)号：WO2013161912A1

    公开(公告)日：2013-10-31

    申请号：PCT/JP2013/062139

    申请日：2013-04-24

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ

    Inventor： 本田　敏文 ,  浦野　雄太 ,  神宮　孝広 ,  浜松　玲

    IPC: G01N21/956 ,  G01B11/30

    CPC classification number: G01N21/8806 ,  G01J1/0474 ,  G01J1/44 ,  G01N21/9501 ,  G01N21/956 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/068 ,  G01N2201/0683 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2201/10 ,  G01N2201/12

    Abstract: 　微小な欠陥を検出し、検出した欠陥の寸法を高精度に計測し、試料を非破壊で検査し、検出欠陥の個数、位置、寸法、欠陥種に関して実質的に一定の検査結果が得られるようにし、一定時間内に多数の試料を検査できるようにするために、欠陥検査装置を、試料の表面に線状の領域に照明光を照射する照射手段と、照射手段により試料上の光が照射された線状の領域から反射・散乱した光を検出する検出手段と、反射・散乱した光を検出して得た信号を処理して試料上の欠陥を検出する信号処理手段とを備えて構成し、検出手段は、試料から反射・散乱した光を一方向に拡散させて一方向と直角な方向に結像させる光学系と、検出画素を二次元に配置したアレイセンサを有して光学系により一方向に拡散させ一方向と直角な方向に結像させた反射・散乱光を検出して反射・散乱光を拡散させた方向に並ぶ各検出画素の出力信号を加算して出力する検出系とを備えた。

    Abstract translation: 为了检测无限小的缺陷，高度精确地测量检测到的缺陷的尺寸，非破坏性地检查样品，允许获得与检测到的缺陷的数量，位置，尺寸和类型相关的基本恒定的检查结果，并允许检查多个 在一个恒定时间内的样本中，缺陷检查装置被配置为包括：投影装置，用于将样本的表面中的线性区域中的照明光投射; 检测装置，用于检测来自线性区域的反射/散射光，由此通过投影装置将光投射在样本上; 以及信号处理装置，用于处理通过检测反射/散射光并检测样本上的缺陷而获得的信号。 检测装置还包括：光学组件，其将来自样品的反射/散射光在一个方向上扩散，并沿与该一个方向正交的方向形成图像; 以及具有阵列传感器的检测组件，其中检测像素被二维地定位，其检测在一个方向上扩散的反射/散射光和通过光学组件沿与该一个方向正交的方向形成的图像， 增加在反射/散射光漫射的方向上排列的每个检测像素的输出信号，并输出。

    CHIRAL DETERMINATION USING HALF-FREQUENCY SPECTRAL SIGNATURES
    155.
    发明申请
    CHIRAL DETERMINATION USING HALF-FREQUENCY SPECTRAL SIGNATURES 审中-公开
    使用半频谱签名来确定手语

    公开(公告)号：WO2013144673A1

    公开(公告)日：2013-10-03

    申请号：PCT/IB2012/001499

    申请日：2012-08-06

    Applicant: UNIVERSITY OF CALCUTTA ,  DASGUPTA, Anjan Kr. ,  ROY, Sarlta

    Inventor： DASGUPTA, Anjan Kr. ,  ROY, Sarlta

    IPC: G01N21/64 ,  G01N21/21 ,  G01N15/14

    CPC classification number: G01N21/64 ,  B01D59/00 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/21 ,  G01N21/6445 ,  G01N21/6486 ,  G01N33/15 ,  G01N33/582 ,  G01N2015/0038 ,  G01N2015/149 ,  G01N2201/0683

    Abstract: A technique for determining whether or not a fluorescent material exhibits a directionally dependent property, such as anisotropy or chirality, involves illuminating the particle at its excitation wavelength to stimulate fluorescent emission at both a full-frequency (fundamental) wavelength and a half-frequency wavelength. The ratio of the full-frequency signal strength to the half-frequency signal strength provides an indication of the sample's directionally dependent property. This half-frequency spectral analysis can be used to sort anisotropic particles suspended in fluid flowing through a flow cytometer. For instance, the present technique may be used to separate racemic mixtures of chiral enantiomers of cells, pharmaceutical compounds, and other samples.

    Abstract translation: 用于确定荧光材料是否表现出诸如各向异性或手性的方向依赖特性的技术包括照射处于其激发波长的粒子以在全频（基波 ）波长和半频率波长。 全频信号强度与半频信号强度的比率提供了样本的方向依赖特性的指示。 这种半频谱分析可用于分选悬浮在流过流式细胞仪的流体中的各向异性颗粒。 例如，本技术可用于分离细胞的手性对映体的外消旋混合物，药物化合物和其他样品。

    KR20210034001A - Detection device and detection method
    159.
    发明专利
    KR20210034001A - Detection device and detection method 审中-公开

    公开(公告)号：KR20210034001A

    公开(公告)日：2021-03-29

    申请号：KR1020217002930A

    申请日：2019-07-08

    Applicant: 스카이버스 테크놀로지 씨오., 엘티디.

    Inventor： 루 첸 ,  유웨이 후앙 ,  가오젱 추이 ,  티미 왕

    IPC: G01N21/21 ,  G01N21/88 ,  G01N21/95

    CPC classification number: G01N21/21 ,  G01N21/88 ,  G01N21/9501 ,  G01N2021/8848 ,  G01N2201/0683

    Abstract: 본 발명은 검출 장치 및 검출 방법을 제공한다. 검출 장치는 검출될 부품의 표면에 반사된 제 1 및 제 2 에코 광의 간섭에 의해 형성된 신호 광을 사용하여 제 1 검출 장치에 의해서 검출될 부품상의 샘플링 위치에 대응하는 신호 광의 제 1 광 세기 분포 정보를 얻고 세기 분포에 따라서 신호 광의 위상 분포를 얻고 검출될 부품의 결함 분포 데이터를 얻는다. 이들 중, 제 1 검출 기구는 2 개 초과의 편광 검출기 또는 비-편광 검출기 및 적어도 1 개의 편광 검출기를 포함한다. 본 발명은 신호 광의 편광 상태 분석을 효과적으로 달성하고, 종 방향으로 검출될 부품의 고정밀 검출을 달성하고, 우수한 신뢰성, 높은 안정성 및 신속한 검출 속도의 장점을 가질 수 있다.

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