公开(公告)号：CN109425296A

公开(公告)日：2019-03-05

申请号：CN201810970279.4

申请日：2018-08-23

Applicant: 株式会社拓普康

Inventor： 田中康司 ,  齐藤贵昭 ,  吉野健一郎 ,  鹿子木满

IPC: G01B11/00

CPC classification number: G01S7/4817 ,  G01J3/108 ,  G01N2201/0697 ,  G01S7/4813 ,  G01S7/497 ,  G01S17/10 ,  G01S17/42 ,  G01S17/89 ,  G01B11/00 ,  G01B11/002

Abstract: 本发明提供能避免挡板的切换动作并能确保相对广的测量范围的三维测量装置。三维测量装置(1)具备：光源部(31)，射出测距光(35)；投光光学部(33)，向测距光轴(32)上照射测距光(35)；扫描镜(7)，在相对于旋转轴(6)的轴心倾斜的状态下设置成以旋转轴(6)为中心能够旋转，在与旋转轴(6)交叉的面内旋转照射测距光(35)；受光光学部(41)，接收反射测距光(37)；参照光光学部(24)，设置在照射范围中测量范围以外的范围中，将在扫描镜(7)反射的测距光(35)作为内部参照光(36)接收并反射，能改变反射的内部参照光(36)的光量；受光元件(42)，接收反射测距光(37)和从参照光光学部(24)引导的内部参照光(36)。

公开(公告)号：CN107923850A

公开(公告)日：2018-04-17

申请号：CN201680043134.9

申请日：2016-05-20

Applicant: 宽腾矽公司

Inventor： 乔纳森·M·罗斯伯格 ,  杰森·W·希克勒 ,  罗伦斯·C·威斯特 ,  F·艾哈迈德 ,  保罗·E·格伦 ,  杰克·朱厄尔 ,  J·格伦 ,  J·卡马拉 ,  杰里米·克里斯托弗·乔丹 ,  托德·雷亚里克 ,  法席德·加塞米 ,  J·C·舒尔茨 ,  基斯·G·法夫

IPC: G01N21/64 ,  H01S5/06 ,  C12Q1/00

CPC classification number: G01N21/6454 ,  C12Q1/00 ,  C12Q1/68 ,  C12Q1/6869 ,  G01N21/6402 ,  G01N21/6408 ,  G01N2201/0697 ,  H01S3/0092 ,  H01S3/025 ,  H01S3/0405 ,  H01S3/0809 ,  H01S3/0813 ,  H01S3/0815 ,  H01S3/09415 ,  H01S3/109 ,  H01S3/1118 ,  H01S3/1611 ,  H01S3/1653 ,  H01S3/1673 ,  H01S5/042 ,  H01S5/0657 ,  H01S5/14 ,  H01S5/146 ,  C12Q2523/313 ,  C12Q2561/12

Abstract: 本发明阐述用于产生超短光脉冲(1-110)的设备及方法。高功率固态被动锁模激光器(1-110)可制造成紧凑型模块，该紧凑型模块可并入至便携式仪器中以用于生物或化学分析。脉冲激光器可以以与电子数据采集速率相称的重复率产生亚100皮秒(ps)光脉冲。该光脉冲可激发该仪器的反应室中的样本，且用于产生操作该仪器的信号获取及信号处理电子器件的参考时钟。

公开(公告)号：CN105829866A

公开(公告)日：2016-08-03

申请号：CN201480070066.6

申请日：2014-11-14

Applicant: 派克米瑞斯有限责任公司

Inventor： D·奇姆达斯 ,  J·S·怀特 ,  S·威廉姆森 ,  I·杜宁

IPC: G01N21/17

CPC classification number: G01N21/3586 ,  G01B11/06 ,  G01N21/21 ,  G01N21/3559 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/41 ,  G01N21/86 ,  G01N2021/8663 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2201/08

Abstract: 用于使用太赫兹辐射确定片状电介质样本的至少一种性质的系统包括被配置来输出太赫兹辐射脉冲的至少一个太赫兹发射机，被配置来接收太赫兹辐射脉冲的至少一部分的太赫兹接收机，其中太赫兹接收机被配置来基于由太赫兹接收机接收的太赫兹辐射输出测量的波形，和与太赫兹接收机通信的控制单元。其中控制单元被配置来选择测量的波形中关注的至少一个区域，将测量的波形中关注的至少一个区域与模型波形进行比较，改变模型波形的至少一个参数来最小化模型波形与测量的波形之间的差异。

公开(公告)号：CN105518843A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201480050138.0

申请日：2014-09-10

Applicant: 株式会社神户制钢所

Inventor： 林和志 ,  岸智弥

IPC: H01L21/66 ,  G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6489 ,  G01N22/00 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697 ,  H01L22/12

Abstract: 提供一种以非接触型、正确且使用同一装置简便地测定氧化物半导体薄膜的迁移率和应力耐性来能够进行预测·估计的评价装置。本发明的评价装置具备：对样品的测定部位照射第一激发光而生成电子-空穴对的第一激发光照射单元；对电磁波进行照射的电磁波照射单元；对反射电磁波强度进行检测的反射电磁波强度检测单元；对所述样品照射第二激发光而生成光致发光光的第二激发光照射单元；对所述光致发光光的发光强度进行测定的发光强度测定单元；以及评价迁移率和应力耐性的评价单元，并且，所述第一激发光照射单元和所述第二激发光照射单元为同一或不同的激发光照射单元。

公开(公告)号：CN104998801A

公开(公告)日：2015-10-28

申请号：CN201510040178.3

申请日：2015-01-27

Applicant: ABB技术有限公司

Inventor： J.L.M.范梅彻伦 ,  H.梅博伦

IPC: B05C11/10 ,  G01B11/06

CPC classification number: G01N33/32 ,  B05B12/084 ,  G01B11/0625 ,  G01B11/0683 ,  G01B15/02 ,  G01N21/55 ,  G01N21/59 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697

Abstract: 本发明题为具有用于由THz辐射表征涂覆的传感器系统的涂覆机构。涂覆机构包括：涂覆单元，用于将涂覆层施加到主体(2)；以及传感器系统，用于表征主体(2)的涂覆(4)。传感器系统包括THz系统(1)、处理单元(30)和定位系统(40)。THz系统(1)包括：光源(50)，用于生成源光辐射；柔性第一辐射引导线缆(51)，用于传送源光辐射；THz发射器(10)，包括THz辐射生成器(12)和THz光学系统(14)；以及THz检测器(20)。定位系统(40)包括携带THz发射器(10)的活动单元(42)。光源(50)设置在活动单元(42)外部。处理单元(30)在操作上耦合到THz检测器(20)。

公开(公告)号：CN104395734A

公开(公告)日：2015-03-04

申请号：CN201280074468.4

申请日：2012-05-02

Applicant: 威尔科股份公司

Inventor： L.埃门伊格 ,  J.贾格斯卡 ,  B.图宗

IPC: G01N21/3504 ,  G01M3/22 ,  G01M3/38

CPC classification number: G01N21/3504 ,  G01M3/226 ,  G01M3/38 ,  G01N21/031 ,  G01N33/0036 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2201/0698

Abstract: 本发明涉及一种用于利用尤其在3.30到3.5μm的范围中的激光来检测气态样本中的推进剂气体的存在的方法及系统。推进剂可为丙烷、正丁烷、异丁烷、二甲醚、甲氧基乙烷、HFA 134a、HFA 227，或在所需的波长范围中呈现出吸收的任何其它推进剂。所述推进剂的存在通过将测试激光脉冲的幅值与基准激光脉冲的幅值相比较来检测。本发明还涉及将该方法应用于对含有推进剂的容器如气雾剂罐或燃料罐进行泄漏测试，从而允许能够替换现有的测试方法的高速高准确性的泄漏检测。

公开(公告)号：CN101439443A

公开(公告)日：2009-05-27

申请号：CN200810182338.8

申请日：2008-11-21

Applicant: 株式会社迪思科

Inventor： 浅野健司 ,  森数洋司 ,  高桥邦充

IPC: B23K26/38 ,  B23K26/40 ,  B23K26/067

CPC classification number: G01N21/73 ,  B23K26/032 ,  B23K26/0853 ,  G01J3/443 ,  G01N2021/8416 ,  G01N2201/0697 ,  H01L21/67253

Abstract: 本发明提供一种不会在焊盘上开孔而能在晶片基板上形成到达焊盘的贯通孔的激光加工装置。该激光加工装置具有：保持晶片的卡盘工作台；以及向由卡盘工作台保持的晶片照射脉冲激光光线的激光光线照射单元，该激光加工装置具有等离子体检测单元和控制单元，该等离子体检测单元具有：等离子体受光单元，其接收通过从激光光线照射单元向被加工物照射激光光线而产生的等离子体；以及光谱分析单元，其分析由等离子体受光单元所接收的等离子体的光谱，该控制单元根据来自等离子体检测单元的光谱分析单元的光谱分析信号来判定被加工物的材质，并控制激光光线照射单元。

公开(公告)号：CN104775908B

公开(公告)日：2019-05-14

申请号：CN201510012813.7

申请日：2015-01-09

Applicant: 福特环球技术公司

Inventor： D·R·马丁 ,  K·J·米勒

IPC: F02B77/08 ,  F02P23/04

CPC classification number: F02P23/04 ,  F02D35/022 ,  F02D41/009 ,  F02D41/22 ,  F02P17/00 ,  G01M15/06 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697 ,  G01S7/497 ,  G01S17/06 ,  G01S17/10 ,  G01S17/88 ,  Y02T10/40

Abstract: 本申请涉及基于激光点火系统的诊断，公开了提供以使用发动机激光点火系统执行发动机的可视检查并且根据发动机方位测量诊断不同汽缸组件和状况的方法和系统。激光脉冲可以在进气冲程和/或排气冲程期间以较低的功率水平发射，以便照明汽缸内部，同时光电探测器捕获汽缸内部的图像。此外，激光脉冲可以较高的功率水平发射以便起始汽缸燃烧，同时光电探测器使用汽缸燃烧期间生成的光来捕获汽缸内部的图像。

公开(公告)号：CN102939160B

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201180029599.6

申请日：2011-04-15

Applicant: 欧普科诊断有限责任公司

Inventor： 文森特·林德 ,  大卫·施泰因米勒 ,  詹森·泰勒

IPC: B01L3/00

CPC classification number: B01L3/502746 ,  B01L3/5027 ,  B01L3/502715 ,  B01L3/50273 ,  B01L3/502738 ,  B01L7/52 ,  B01L2200/025 ,  B01L2200/026 ,  B01L2200/027 ,  B01L2200/028 ,  B01L2200/0673 ,  B01L2200/0684 ,  B01L2200/143 ,  B01L2200/146 ,  B01L2200/147 ,  B01L2300/021 ,  B01L2300/023 ,  B01L2300/027 ,  B01L2300/04 ,  B01L2300/0654 ,  B01L2300/0816 ,  B01L2300/0867 ,  B01L2300/12 ,  B01L2300/14 ,  B01L2300/16 ,  B01L2300/168 ,  B01L2300/1827 ,  B01L2300/1894 ,  B01L2400/0475 ,  B01L2400/049 ,  B01L2400/0666 ,  B01L2400/082 ,  G01N21/05 ,  G01N21/59 ,  G01N21/64 ,  G01N21/76 ,  G01N33/54313 ,  G01N33/54366 ,  G01N33/57434 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/0612 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0621 ,  G01N2201/0697 ,  G01N2333/96433 ,  Y10T137/0324 ,  Y10T436/12

Abstract: 描述了用于样本分析的系统和方法，并且在某些实施例中，微流体样本分析器被配置为容纳其中包含样本的盒子，以进行样本分析。微流体样本分析器可用于控制各种微流体系统、例如微流体即时监护诊断平台中流体流动、混合以及的样本分析。优选地，在一些实施例中，相比于传统的实验室台上系统，微流体样本分析器可以是廉价和尺寸更小的，并且易于使用。此外描述了可通过样本分析器操作的盒子。

公开(公告)号：CN104220919B

公开(公告)日：2016-10-05

申请号：CN201380019934.3

申请日：2013-02-14

Applicant: 奥林巴斯株式会社

Inventor： 藤沼贤 ,  高桥晋太郎

IPC: G02B21/06 ,  G02B21/36 ,  G02B23/24

CPC classification number: G01N21/17 ,  G01J1/44 ,  G01J2001/4242 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0697 ,  G02B21/002 ,  G02B21/0084 ,  G02B21/16 ,  G02B23/24

Abstract: 提供如下的激光扫描型观察装置：针对不同观察条件，不用进行烦杂的调整，就能够在最适于图像构成的定时对检测信号进行采样，能够使检测信号的对比度最大化，能够降低暗噪声并提高画质。激光扫描型观察装置具有对被检体(30)进行照射的脉冲激光振荡单元(11)、接收来自被检体的光并输出检测信号的检测部(12)、检测脉冲激光的振荡并输出同步信号的单元(13)、使同步信号延迟任意时间并输出触发信号的电路部(14)、与触发信号同步地对检测信号进行采样的单元(15)、蓄积所采样的检测信号的存储器部(16)、能够将延迟时间在同步信号的1个周期以内设定为2个以上的阶段的设定部(17)、使用各延迟阶段的检测信号的强度数据判定最适于图像构成的延迟阶段的判定部(18)，设定部将与判定部判定出的延迟阶段对应的时间固定为电路部(14)延迟的延迟时间。