线性扫频光信号生成方法及线性扫频光源

    公开(公告)号:CN117537921A

    公开(公告)日:2024-02-09

    申请号:CN202311494961.8

    申请日:2023-11-10

    Abstract: 本发明公开了一种线性扫频光信号生成方法。对可调谐激光器输出光信号进行在线频率监测,并根据监测结果对可调谐激光器的驱动电压进行在线闭环反馈控制,生成线性扫频光信号;所述频率监测的方法具体如下:将可调谐激光器输出光信号的分束信号分为两路,其中一路作为本征光信号,另一路引入延时后作为延时光信号;将本征光信号与延时光信号输入90°光混频器进行相干混频,将90°光混频器输出的四路光信号中相位相差180°的两路分为一组,对所得到的两组光信号分别进行平衡光电探测,得到两路正交电信号;根据这两路正交电信号在线得到输出光信号频率。本发明还公开了一种线性扫频光源。相比现有技术,本发明可得到稳定且高线性的扫频光信号。

    光谱芯片、光谱仪及光谱重建方法
    152.
    发明公开

    公开(公告)号:CN117213628A

    公开(公告)日:2023-12-12

    申请号:CN202311385688.5

    申请日:2023-10-24

    Abstract: 本公开涉及一种光谱芯片、光谱仪及光谱重建方法,光谱芯片包括:滤波组件及探测组件,滤波组件设置在探测组件上,滤波组件用于对入射光进行滤波,探测组件用于对滤波后的入射光进行光强探测,其中,滤波组件包括垂直堆叠的至少两层滤波层,至少两层滤波层包括至少一层纳米晶体薄膜滤波层及至少一层半导体膜层,各层滤波层均包括多个滤波单元,各层滤波层的滤波单元一一对应并垂直堆叠形成滤波组件的光谱滤波单元。本公开实施例通过设置滤波组件包括垂直堆叠的至少两层滤波层,各层滤波层均包括多个滤波单元,各层滤波层的滤波单元一一对应并垂直堆叠形成滤波组件的光谱滤波单元,从硬件结构角度降低光谱重建的病态性,提高光谱芯片的性能。

    用于光谱半宽窄化和准确波长选择的设备

    公开(公告)号:CN116848384A

    公开(公告)日:2023-10-03

    申请号:CN202280014949.X

    申请日:2022-01-19

    Abstract: 本发明涉及用于LED层析侦测器光谱半宽窄化和准确波长选择的设备,其中凹面镜(1)是位于LED(3)后方且位于狭缝(2)后方,凹面镜(1)前方设有衍射光栅(9)和聚焦狭缝(4),其后方设有分束镜(5),用于将光束反射至参考二极管(8),并通过比色槽(6)反射至测量二极管(7)。

    滤波器阵列重构光谱测定
    155.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109073357B

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN201780024303.9

    申请日:2017-02-24

    Inventor: 刘照伟 Q·马 E·黄

    Abstract: 一种光谱测定系统可以包括具有第一标准具和第二标准具的标准具阵列。所述第一标准具可以被配置为对光进行处理,从而至少生成第一透射图案。所述第一透射图案可以至少具有对应于所述光的原始光谱内的第一波长的第一透射峰。所述第二标准具可以被配置为对光进行处理,从而至少生成第二透射图案。所述第二透射图案可以至少具有对应于所述光的原始光谱内的第二波长的第二透射峰。所述第一标准具可以具有不同于所述第二标准具的厚度,从而使所述第一透射图案具有至少一个处于不同于所述第二透射图案的波长上的透射峰。所述第一透射图案和所述第二透射图案可以实现对所述光的原始光谱的重构。

    自校正大气-地表光学辐射特性观测仪

    公开(公告)号:CN105444881B

    公开(公告)日:2019-12-13

    申请号:CN201510934378.3

    申请日:2015-12-14

    Abstract: 本发明公开了一种自校正大气‑地表光学辐射特性观测仪,包括有光学系统、电子学系统,光学系统包括有积分球、地表反射观测镜头、三个分光探测单元、光谱定标器;积分球上入光孔用于观测天空光入射,下入光孔与地表反射观测镜头相连接用于观测地表反射;积分球的两入光孔处分别设有可切换挡光板;积分球内置遮光板;积分球的出光孔处设有光纤束;入射光进入积分球后经过内置的遮光板反射,通过出光口处的光纤束导入到三个分光探测单元;所述地表反射观测镜头内集成了光谱定标器,周期性的检测光谱、像元之间的对应关系;本发明避免了光谱匹配误差和传统测量方式的仪器间系统误差,显著提高现场的观测精度和辐射传输计算精度。

    自动聚焦系统
    160.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106255911B

    公开(公告)日:2019-03-26

    申请号:CN201580023248.2

    申请日:2015-04-09

    Abstract: 一种自动聚焦装置,能够探测显微镜上样品的位置。所述样品可以包括安装在显微镜载玻片与盖玻片之间的样本或孔板内的样本。所述装置通过识别菲涅耳反射中折射率的界限来追踪样品的位置。折射率的变化可以与盖玻片的上部或底部、载玻片的上部、孔板的底部或孔板里面孔的底部相对应。使用光学相干断层扫描技术(OCT),这些反射用于形成样品的深度扫描,其给出了相对物镜的这些表面的位置。所述装置通过补偿样品到物镜焦平面的任何位置变量,起到自动聚焦系统的作用。

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