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公开(公告)号：CN111721712A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010209556.7
申请日：2020-03-23
Applicant: 康宁股份有限公司
Inventor： R·C·安德鲁斯 , P·M·博兹 , W·J·弗纳斯 , J·R·雅各布森 , G·A·纽康芒 , E·L·奥尔森 , B·R·拉杰 , R·V·鲁斯夫 , V·斯塔潘诺夫 , N·D·韦特莫尔
Abstract: 本申请涉及用于对化学强化透明基材中的应力进行表征的混合系统和方法。混合测量系统包括渐逝棱镜耦合光谱(EPCS)子系统和光散射偏振(LSP)子系统。EPCS子系统包括通过EPCS耦合棱镜光学耦合到EPCS检测器系统的EPCS光源。LSP子系统包括光学耦合到光学补偿器的LSP光源，所述光学补偿器进而通过LSP耦合棱镜光学耦合到LSP检测器系统。支撑结构支撑了EPCS和LSP耦合棱镜以限定耦合棱镜组合件，其在测量位置支撑了这两个棱镜。结合使用了EPCS和LSP子系统的应力测量来对透明化学强化基材的应力性质进行完整表征。还揭示了进行EPCS和LSP测量以改善测量准确度的方法。
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公开(公告)号：CN111542734A
公开(公告)日：2020-08-14
申请号：CN201880078130.3
申请日：2018-12-10
Applicant: J.A.伍兰牡股份有限公司
Inventor： G·A·P·霍沃尔卡 , J·A·范德斯利斯
Abstract: 快照椭圆偏振仪或偏振计，其不需要时间调制的(一个或多个)元件来测量样品，而是使用一个或多个空间上变化的补偿器(例如，微延迟器阵列和复合棱镜)来改变电磁辐射的测量光束内的偏振状态。在与空间上变化的(一个或多个)补偿器和样品相互作用后，对光束的强度轮廓的分析允许表征样品参数，而无需任何移动光学器件。
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公开(公告)号：CN111443045A
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN202010338391.3
申请日：2020-04-26
Applicant: 深圳市中达瑞和科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种光谱成像分析系统及其成像分析方法，光谱成像分析系统包括成像透镜阵列、光计算芯片和图像传感器；成像透镜阵列获取待测目标的原始图像；光计算芯片包括起偏振器、液晶相位延迟器阵列和检偏振器，光计算芯片先通过起偏振器偏振处理，后通过液晶相位延迟器阵干涉处理，以获得入射光谱和产生一组基频与谐波，液晶相位延迟器阵列根据基频和谐波构建该入射光谱的光谱回归函数，通过检偏振器检测入射光谱的偏振干涉态信息；图像传感器生成一组含有空间信息和偏振干涉态信息的光谱图像序列，并根据光谱回归函数计算出入射光谱的物质物理化学量信息。与相关技术相比，本发明实现了对动态目标进行实时全光谱成像和光谱分析。
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公开(公告)号：CN111426383A
公开(公告)日：2020-07-17
申请号：CN202010303994.X
申请日：2020-04-17
Applicant: 北京理工大学重庆创新中心 , 北京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种机器学习优化稀疏基的高光谱全偏振图像压缩重构方法，采用四分之一波片与具有线偏振特性的器件组合将图像成像于探测器，通过切换四分之一波片的快轴角度和/或具有线偏振特性的器件的透光轴角度实现不同的全偏振调制方式；采用该全偏振调制方式对任一波段的全偏振局部图像进行处理，获得压缩信息；采用粒子群算法优化稀疏基，优化后的稀疏基使得利用压缩信息重构的全偏振局部图像逼近其原图像。应用时，采用上述全偏振调制方式对高光谱全偏振图像进行偏振调制，获得压缩信息，并利用优化稀疏基获得重构的高光谱全偏振图像。采用本发明能够实现高光谱图像四个斯托克斯参量的重构，提高四个斯托克斯参量的重构精度。
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公开(公告)号：CN111272278A
公开(公告)日：2020-06-12
申请号：CN202010024370.4
申请日：2020-01-10
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本发明公开了一种采用反射式相位延迟片阵列的高光谱偏振成像装置及方法，装置包括沿光路方向依次设置的前置成像物镜、光阑、准直物镜、反射式相位延迟片阵列、剪切干涉组件、后置成像物镜和面阵探测器；入射光经前置成像物镜成像在光阑上，之后经准直物镜入射至反射式相位延迟片阵列，该阵列改变准直光束的相位延迟量并将各束光反射到不同方向，所有反射光均依次通过剪切干涉组件和后置成像物镜后在面阵探测器上发生干涉，形成空间分离的若干处于不同偏振状态的光谱干涉图像。方法基于上述装置实现高光谱偏振成像。本发明采用反射式相位延迟片阵列结构，一次推扫过程即可获得目标的高光谱全偏振信息，整体装置结构简单，光通量高，成像质量好。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109141638B
公开(公告)日：2019-11-26
申请号：CN201810827464.8
申请日：2018-07-25
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明涉及一种自然光水下偏振成像方法，包括：通过第一偏振图像和第三偏振图像建立第三偏振图像的第一模型；通过第二偏振图像和第四偏振图像建立第四偏振图像的第二模型；根据第三偏振图像的光强度和第三偏振图像的第一模型得到第五偏振图像的光强度；根据第四偏振图像的光强度和第四偏振图像的第二模型得到第六偏振图像的光强度；根据第五偏振图像的光强度和第六偏振图像的光强度得到最终水下图像目标辐射光的光强度。本发明通过研究水下图像颜色失真的原因，得到第五偏振图像的光强度和第六偏振图像的光强度，从而恢复场景的色彩信息，之后利用第五偏振图像的光强度和第六偏振图像的光强度，重建无色彩畸变的清晰的最终水下图像。
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公开(公告)号：CN110231092A
公开(公告)日：2019-09-13
申请号：CN201910638179.6
申请日：2019-07-15
Applicant: 天津大学
Abstract: 本发明提供一种角度分辨显微拉曼光谱探测装置及探测方法，涉及光学测量设备技术领域，角度分辨显微拉曼光谱探测装置包括：拉曼探测机构和倾角控制机构；拉曼探测机构设置有信号出入口，信号出入口与样品相对应，拉曼探测机构能够向样品表面发射激光信号、采集样品表面被激发出的散射信号、并进行拉曼光谱分析；拉曼探测机构与倾角控制机构连接，倾角控制机构用于调节拉曼探测机构与倾角控制机构的连接角度，以调节角度分辨显微拉曼光谱探测装置的探测倾角的角度。通过采集样品表面同一测点不同探测倾角时的散射信号，以获得同一测点不同探测倾角下的光谱数据，以实现对样品的精细化测量。
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公开(公告)号：CN107367329B
公开(公告)日：2019-06-11
申请号：CN201710482098.2
申请日：2017-06-22
Applicant: 西安交通大学
Abstract: 本发明公开了一种图像、光谱、偏振态一体化获取装置及探测方法，沿入射光传播方向，以主光轴方向依次设前置望远系统，消色差波片阵列、起偏器、Savart偏光镜、检偏器、成像镜阵列和面阵列CCD，通过消色差波片阵列对光谱及偏振信息进行四种调制，再通过起偏器、Savart偏光镜和检偏器组成偏振干涉仪得到调制后四个强度光谱干涉图像，通过傅里叶变换精确复原出目标图像、光谱和偏振态信息。克服了通道光谱技术测量Stokes矢量谱中复原光谱分辨率严重降低和复原光谱存在误差畸变的缺点。且偏振光谱信息复原结果对仪器存在高斯噪声及泊松噪声具有免疫作用，提高了获取干涉图数据的信噪比，解决了常规测量方法谱元分时探测信噪比低，时效性差的问题。
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公开(公告)号：CN109798980A
公开(公告)日：2019-05-24
申请号：CN201910002122.7
申请日：2019-01-02
Applicant: 中国电子科技集团公司第十一研究所
Abstract: 本发明公开了一种基于Wollaston棱镜的实时红外偏振双分离成像光学系统，包括：望远红外透镜组、Wollaston棱镜、成像红外透镜组、以及探测器组件；望远红外透镜组，用于将从其大入射口径接收到的平行光进行压缩后，从其小口径输出平行光，并入射到Wollaston棱镜；Wollaston棱镜，用于将平行光分解成两束偏振光；成像红外透镜组，用于将两束偏振光汇聚并分离成像到探测器组件上；探测器组件，包括探测器像面以及探测器冷屏，探测器像面用于探测两束偏振光形成的两幅偏振图像，探测器冷屏用于减少进入探测器组件上的辐射。本发明利用Wollaston棱镜进行偏振分光，可实时获取同一场景的两幅偏振图像；利用同一场景的两幅偏振图像进行图像信息处理，可以提高目标探测效率。
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公开(公告)号：CN109764964A
公开(公告)日：2019-05-17
申请号：CN201910142850.8
申请日：2019-02-26
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明涉及一种推扫式偏振光谱成像微系统、成像方法及制备方法。主要解决现有传统偏振光谱成像系统结构复杂、体积大、质量重等缺点，以及现有的偏振光谱微系统存在光谱及空间分辨率偏低、无法实现全偏振探测的技术问题。推扫式偏振光谱成像微系统包括成像物镜和面阵探测器，面阵探测器的焦面上设置有偏振滤光单元；待测目标的反射光经成像物镜后，通过偏振滤光单元成像在面阵探测器上；偏振滤光单元包括多个依次排列的偏振滤光条带，偏振滤光条带上设置有多个呈规律排布的微纳结构。同时，本发明还提供一种基于上述推扫式偏振光谱成像微系统的成像方法。此外，本发明还提供一种推扫式偏振光谱成像微系统的制备方法。
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