Interferometrisches Analysengerät
    161.
    发明公开
    Interferometrisches Analysengerät 失效
    InterferometrischesAnalysengerät。

    公开(公告)号:EP0413952A1

    公开(公告)日:1991-02-27

    申请号:EP90113548.3

    申请日:1990-07-16

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein interferometrisches Analysengerät zum Nachweis mehrerer Substanzen mit strukturiertem, insbesondere periodischem oder quasiperiodischem Absorptionsspektrum in einem Substanzgemisch. In den Strahlengang einer Lichtquelle (L) ist nacheinander daß zu untersuchende Substanzgemisch (K), ein elektrooptisch oder thermooptisch abstimmbares Fabry-Perot-­Element (E), dessen Dioke den Abstand der Interferenzlinien bestimmt, und ein Detektor (D) angeordnet. Zum Nachweis meherer Substanzen ist die optische Dioke des Fabry-Perot-Elementes (E) so gewählt, daß der sich daraus ergebende Abstand der Interferenzlinien dem Abstand der Absorptionslinien mehrerer Substanzen in ausgewählten Spektralbereichen entspricht. (Fig.1)

    Abstract translation: 本发明涉及用于检测物质混合物中具有结构化吸收光谱,特别是周期或准周期吸收光谱的多种物质的干涉测量分析仪。 在光源(L)的光束路径中彼此放置的是待检查的物质混合物(K),其厚度决定干涉线的间距的电光或热光可调法布里 - 珀罗元件(E),以及 检测器(D)。 为了检测多种物质,法布里 - 珀罗元件(E)的光学厚度被选择为使得干涉线的合成间隔对应于所选光谱范围内的多个物质的吸收线的间隔 。 (图1)... ...

    Interferometrische Einrichtung
    162.
    发明公开
    Interferometrische Einrichtung 失效
    干细胞病毒Einrichtung。

    公开(公告)号:EP0409765A2

    公开(公告)日:1991-01-23

    申请号:EP90710016.8

    申请日:1990-07-04

    CPC classification number: G01J3/26 G01J2003/2886 G01N21/31 G01N2201/067

    Abstract: Die Erfindung betrifft ein interferometrische Einrichtung zum Nachweis einer Substanz mit strukturiertem, insbesondere periodischem oder quasiperiodischem Absorptionsspektrum und besteht aus einer Strahlungsquelle, in deren Strahlengang die zu untersuchende Substanz, ein Interferenzfilter, dessen Dicke den Abstand der Interferenzlinien bestimmt sowie ein Detektor angeordnet sind. Das Interferenzfilter ist ein thermooptisch abstimmbares Filter, welches aus einer Platte aus thermooptisch aktivem Material besteht, deren Stirnseiten teildurchlässig verspiegelt sein können. Eine Verschiebung der Durchlaßcharakteristik des Filters wird mit Hilfe einer Temperaturänderung des Filters erzeugt wird, wobei die Temperaturdifferenz ein Maß für die Verschiebung ist. Die Dicke der Platte ist so gewählt, daß der Abstand der erzeugten Interferenzlinien dem Abstand der Absorptionslinien der zu bestimmenden Substanz entspricht.

    Abstract translation: 用于检测具有其吸收光谱的周期性或准周期性吸收结构的物质的干涉测量装置包括辐射源,包含待研究材料的室和下游检测器,热光学有效和温度受控的干涉滤光器装置 插入,其厚度决定了干扰传输线的间距和温度控制这些线的移动。

    Apparatus and method for measuring dark and bright reflectances of sheet material
    163.
    发明公开
    Apparatus and method for measuring dark and bright reflectances of sheet material 失效
    装置和方法的网状材料的暗和亮的反射的测量。

    公开(公告)号:EP0340437A2

    公开(公告)日:1989-11-08

    申请号:EP89105033.8

    申请日:1989-03-21

    Inventor: Burk, Gary Neil

    Abstract: Apparatus (10) and methods for measuring dark and bright reflectances of translucent sheet material (2) are disclosed. The apparatus (10) comprises first optical means for illuminating one side of the sheet material (2) with a source of electromagnetic radiation. A portion of the radiation is transmitted through the sheet material (2) and another portion of the radiation is reflected by the sheet material. The apparatus (10) also comprises optical gating means (30) that is positioned adjacent the other side of the sheet material (2) in a fixed position relative to the first optical means. The optical gating means (30) absorbs substantially all of the transmitted portion of the radiation when switched to a dark state and reflects substantially all of the transmitted portion of the radiation back through the sheet material (2) when switched to a bright state. The apparatus (10) further comprises second optical means for collecting the reflected portion of the radiation and the portion of the trasmitted portion of the radiation reflected by the optical gating means (30) and retransmitted through the sheet material (2) to provide a total reflectance. The total reflectance has a dark reflectance intensity when the optical gating means (30) is in the dark state and a bright reflectance intensity when the optical gating means is in the bright state. The apparatus also comprises sensing means (60), responsive to radiation collected by the second optical means, for providing a dark signal having a magnitude corresponding to the dark reflectance intensity and a bright signal having a magnitude corresponding the the bright reflectance intensity. The dark and bright signals can be incorporated in known formulae to compute values for quality attributes of the sheet material (2) including opacity and color.

    Abstract translation: 设备(10)和用于测量透光性片材的黑暗和明亮的反射率的方法(2)是游离缺失盘。 的装置(10)包括第一光学装置,用于使用电磁辐射的源照射所述片材(2)的一侧。 的辐射的一部分是通过所述板材(2)和辐射的另一部分反mitted由片材材料反射。 的装置(10),从而包括光学开关装置(30)没有相对于第一光学装置的固定位置被定位为邻近所述片材(2)的另一侧。 光选通装置(30)基本上吸收所有的反式的在辐射的部分mitted当切换到暗状态,而基本上反射所有的反式的背面通过片材(2)当切换到一个明亮状态mitted在辐射的部分。 的装置(10)还包括第二光学装置,用于收集反射的辐射的和装置(30)部分由所述光学选通反射的辐射的trasmitted部的部分,并通过片材重发(2),以提供完全 反射率。 总反射率有一个黑暗的反射强度在光选通装置(30)是在暗状态和亮的反射强度在光选通装置是在明亮状态。 因此,该设备包括感测装置(60)响应于由所述第二光学装置收集的辐射,用于提供具有大小对应于暗反射强度和具有幅度对应的明亮的反射强度的亮信号的暗信号。 黑暗和明亮的信号可以以已知的公式被并入迎合计算值的片材(2)包括不透明度和颜色的质量属性。

    GAS DETECTOR USING A GOLAY CELL
    164.
    发明申请
    GAS DETECTOR USING A GOLAY CELL 审中-公开
    气体探测器使用高尔夫球

    公开(公告)号:WO2017062617A1

    公开(公告)日:2017-04-13

    申请号:PCT/US2016/055748

    申请日:2016-10-06

    Abstract: Gas detector devices, systems, and methods using a Golay cell are described herein. One device includes a microphone having a front surface with an sound collecting aperture for receiving sound, a substrate, a gas cavity formed in the substrate such that the gas cavity is in gas communication with the sound collecting aperture and the front surface forms a side surface of the gas cavity, and a window abutting the substrate to form a side surface of the gas cavity.

    Abstract translation: 本文描述了使用Golay电池的气体检测器装置,系统和方法。 一个装置包括具有前表面的麦克风,其具有用于接收声音的收集孔,基底,形成在基底中的气体腔,使得气体腔与声音收集孔和前表面形成气体连通, 的气体腔,以及与基板邻接以形成气体腔的侧表面的窗口。

    LOW NOISE, HIGH STABILITY, DEEP ULTRA-VIOLET, CONTINUOUS WAVE LASER
    165.
    发明申请
    LOW NOISE, HIGH STABILITY, DEEP ULTRA-VIOLET, CONTINUOUS WAVE LASER 审中-公开
    低噪音,高稳定性,深层紫外线,连续波激光

    公开(公告)号:WO2015038472A1

    公开(公告)日:2015-03-19

    申请号:PCT/US2014/054547

    申请日:2014-09-08

    Abstract: A laser for generating deep ultra-violet (DUV) continuous wave (CW) light includes a second-harmonic generator and a fourth-harmonic generator. The fourth-harmonic generator includes a plurality of mirrors as well as first and second non-linear optical (NLO) crystals. The first NLO crystal generates the light having the fourth harmonic wavelength, and is placed in operative relation to the plurality of mirrors. The second NLO crystal is placed in operative relation to the first NLO crystal such that the light having the second harmonic wavelength passes through both the first and the second NLO crystals. Notably, the second optical axes of the second NLO crystal are rotated about a direction of propagation of the light within the second NLO crystal approximately 90 degrees relative to the first optical axes of the first NLO crystal. The second NLO crystal provides no wavelength conversion.

    Abstract translation: 用于产生深紫外(DUV)连续波(CW)光的激光器包括二次谐波发生器和四次谐波发生器。 第四谐波发生器包括多个反射镜以及第一和第二非线性光学(NLO)晶体。 第一NLO晶体产生具有第四谐波波长的光,并且与多个反射镜成为可操作的关系。 将第二NLO晶体置于与第一NLO晶体的操作关系中,使得具有二次谐波波长的光通过第一和第二NLO晶体。 值得注意的是,第二NLO晶体的第二光轴相对于第一NLO晶体的第一光轴围绕第二NLO晶体内的光的传播方向大约90度旋转。 第二个NLO晶体不提供波长转换。

    プラズマ分光分析装置
    167.
    发明申请
    プラズマ分光分析装置 审中-公开
    等离子体光谱仪

    公开(公告)号:WO2013132706A1

    公开(公告)日:2013-09-12

    申请号:PCT/JP2012/080524

    申请日:2012-11-20

    CPC classification number: G01N21/67 G01N21/05 G01N2201/067 G01N2201/08

    Abstract:  試料溶液に放電を生じさせ、そのプラズマ中の発光により分析を行うときの検出感度と検出精度及び再現性を向上させる。 狭小部から円錐状に広がり円筒形の主要部をもつ流路100に導電性の試料溶液を満たし、流路100に電界を印加して生じた気泡にプラズマを発生させ、発光を計測する。

    Abstract translation: 本发明在样品溶液中产生放电,并且当通过在其等离子体中发射的光进行分析时,提高检测灵敏度,检测精度和再现性。 将导电性样品溶液填充到具有圆锥形状的主要部分的流路(100)中,所述主体部分从圆锥形状的狭窄部分扩展; 在通过向流路(100)施加电场而产生的气泡中产生等离子体,并且测量发光。

    ガス濃度推定装置
    168.
    发明申请
    ガス濃度推定装置 审中-公开
    气体浓度估算装置

    公开(公告)号:WO2013099923A1

    公开(公告)日:2013-07-04

    申请号:PCT/JP2012/083607

    申请日:2012-12-26

    Inventor: 池田 裕二

    Abstract:  本発明は、分析ガスのプラズマから発せられる光を分析することにより分析ガス中の対象成分の濃度を推定するガス濃度推定装置において、汎用性のあるガス濃度推定装置を実現することを課題とする。本発明は、分析ガスをプラズマ状態にするプラズマ生成装置と、プラズマ生成装置により生成されたプラズマから発せられるプラズマ光を分析して、分析ガス中の対象成分の濃度を推定する分析装置とを備えたガス濃度推定装置において、分析装置が、プラズマ光のうち、対象成分とは異なる原子構成で、その対象成分から分離した原子又は分子を含む所定のラジカルの発光に対応する波長成分の発光強度に基づいて、対象成分の濃度を推定するガス濃度推定装置である。

    Abstract translation: 本发明解决了通过分析从用于分析的气体的等离子体产生的光来提供用于估计用于分析的气体中的目标成分的浓度的通用气体浓度估计装置的问题。 本发明是一种气体浓度估计装置,其具有用于将用于分析的气体转换为等离子体状态的等离子体产生装置和用于分析由等离子体产生装置产生的等离子体产生的等离子体光的分析装置,以及 然后估计用于分析的气体中的目标成分的浓度,其中分析装置基于对应于具有不同原子结构的特定基团的发光的波长成分的发光强度来估计目标成分的浓度 并且包括从目标组分分离的原子或分子。

    MICROSCOPE A PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION AVEC INTERFEROMETRE HETERODYNE EN POLARISATION RADIALE
    170.
    发明申请
    MICROSCOPE A PLASMON DE SURFACE A HAUTE RESOLUTION AVEC INTERFEROMETRE HETERODYNE EN POLARISATION RADIALE 审中-公开
    径向极化模式下高分辨率表面等离子体显微镜的异方差干涉测量

    公开(公告)号:WO2009080998A2

    公开(公告)日:2009-07-02

    申请号:PCT/FR2008/052279

    申请日:2008-12-11

    CPC classification number: G01N21/553 B82Y20/00 B82Y35/00 G01B9/04 G01N2201/067

    Abstract: La présente invention concerne un microscope à plasmon de surface à balayage à haute résolution comportant une source (LG) de lumière cohérente, et un milieu de couplage et de confinement d'un plasmon de surface comportant un objectif (O, 0 M ) à grande ouverture numérique, une huile à immersion (Hi) et une lamelle de verre (G s ). Une couche métallique (M s ) recouvre une surface de la lamelle de verre (G s ). le microscope comporte également un interféromètre de Twyman-Green en mode hétérodyne est placé entre la source lumineuse et le milieu de couplage ainsi que des moyens de balayage (PL 1 , PL 2 , EC) de la couche métallique à l'aide d'un faisceau lumineux, et des moyens de détection (PD) du faisceau issu de l'interféromètre reliés à des moyens de traitement (S, F, D Tec , COMP) et de formation d'une image à partir de ce faisceau. Conformément à l'invention, au moins un convertisseur de polarisation linéaire en polarisation radiale (CP) des faisceaux lumineux (L) émis par la source lumineuse (LG) est disposé entre la source lumineuse et l'interféromètre.

    Abstract translation: 本发明涉及高分辨率扫描表面等离子体激元显微镜,其包括相干光源(LG)和用于耦合和限制表面等离子体激元的介质,包括大数值孔径的物镜(O,OM),浸没油 (Hi)和一个载玻片(Gs)。 金属层(Ms)覆盖载玻片(Gs)的一个表面。 该显微镜还包括以外差模式操作的Twyman-Green干涉仪,其被放置在光源和耦合介质之间,并且还包括用于使用光束扫描金属层的装置(PL1,PL2,EC) ),用于检测由干涉仪输出的光束,所述装置连接到用于处理和形成来自该光束的图像的装置(S,F,DTec,COMP)。 根据本发明,用于将由光源(LG)发射的光束(L)的线偏振转换成径向偏振的至少一个偏振转换器(CP)放置在光源与干涉仪之间。

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