测量装置与测量方法
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103959045A

    公开(公告)日:2014-07-30

    申请号:CN201280058941.X

    申请日:2012-10-29

    Applicant: 索尼公司

    Inventor: 玉田作哉

    Abstract: 为了提供了一种利用时间分解测量能够高灵敏度地测量分子振动的弛豫时间的测量装置和测量方法。这个测量装置设置具有:光源单元,用于发出脉冲激光,该脉冲激光用作用于激发测量样品中的预定分子振动的泵浦光和斯托克斯光以及与泵浦光或斯托克斯光具有相同波长的探测光,通过预定的参考频率调制该探测光的强度;脉冲控制单元,用于产生由所述光源单元所生成的探测光的时间延迟,并且在其上将泵浦光、斯托克斯光和时间延迟的探测光引导至测量样品;以及检测单元,用于检测透过测量样品的透射光或来自测量样品的反射光。利用测量样品的时间分解受激拉曼增益光谱或时间分解受激拉曼损耗光谱来测量测量样品中的分子振动的弛豫时间。

    基于磁光科尔/法拉第效应的超快光学门控成像系统及方法

    公开(公告)号:CN106198456A

    公开(公告)日:2016-12-07

    申请号:CN201610583744.X

    申请日:2016-07-25

    Applicant: 山西大学

    Inventor: 陈院森 刘晓波

    CPC classification number: G01N21/47 G01N2201/06113 G01N2201/067

    Abstract: 本发明公开一种基于磁光科尔/法拉第效应的超快门控成像系统。基于泵浦-探测(Pump-Probe)超快光学技术,我们采用泵浦光的偏振态来控制磁性薄膜的磁化方向,利用磁光旋转效应,实现对探测光线性偏振态旋转的控制;进一步,通过设计两束泵浦光的时间间隔以及偏振态,对磁性薄膜的磁化方向进行超快控制,实现对探测光时间窗口可调控的超快测量。这种新型磁光门控技术能选择性的对弹道光进行超快测量,可以有效实现混浊介质中的物体成像。

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