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公开(公告)号：CN106289519A
公开(公告)日：2017-01-04
申请号：CN201610616097.8
申请日：2016-07-29
Applicant: 华中科技大学
CPC classification number: G01J3/00 , B23K26/21 , B23K26/705
Abstract: 本发明公开了一种熔池等离子体辐射光谱采集机构，其包括激光辅助对中组件及与所述激光辅助对中组件间隔设置的光纤探头夹持调整组件。所述激光辅助对中组件包括激光发射器，其通过滑动使所述激光发射器的中心与工件的焊缝表面共面；所述激光发射器用于向所述光纤探头夹持调整组件发射激光，所述激光在所述光纤探头夹持调整组件上反射形成激光红色斑点。所述光纤探头夹持调整组件包括光纤探头，其依据所述激光红色斑点的位置滑动相应距离，以使所述光纤探头的中心、所述焊缝的表面及所述激光发射器的中心共面。本发明还涉及具有如上所述的熔池等离子体辐射光谱采集机构的激光焊接装置。
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公开(公告)号：CN106255911A
公开(公告)日：2016-12-21
申请号：CN201580023248.2
申请日：2015-04-09
Applicant: 统雷有限公司
CPC classification number: G02B21/245 , G02B6/102 , G02B7/28 , G02B21/06 , G02B21/26 , G02B21/361
Abstract: 一种自动聚焦装置，能够探测显微镜上样品的位置。所述样品可以包括安装在显微镜载玻片与盖玻片之间的样本或孔板内的样本。所述装置通过识别菲涅耳反射中折射率的界限来追踪样品的位置。折射率的变化可以与盖玻片的上部或底部、载玻片的上部、孔板的底部或孔板里面孔的底部相对应。使用光学相干断层扫描技术(OCT)，这些反射用于形成样品的深度扫描，其给出了相对物镜的这些表面的位置。所述装置通过补偿样品到物镜焦平面的任何位置变量，起到自动聚焦系统的作用。
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公开(公告)号：CN105938015A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610118561.0
申请日：2016-03-02
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 久利龙平
Abstract: 本发明提供了能够实施高精度的测色处理的分光测定装置、图像形成装置以及分光测定方法。打印机(10)包括：包括来自测定对象的光入射的波长可变干涉滤波器的分光仪(17)；以及使分光仪(17)相对于测定对象沿着X方向移动的滑架移动单元(14)。并且，打印机(10)在测定对象为色块的情况下，在使分光仪(17)在X方向上移动期间的第一期间，改变通过波长可变干涉滤波器的光的波长并进行分光测定，并在第一期间中的测定开始时以及测定结束时，使初始波长的光从波长可变干涉滤波器通过，把测定开始时的分光测定的测定值即第一输出值与测定结束时的分光测定的测定值即第二输出值进行比较。
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公开(公告)号：CN104316175B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201410609219.1
申请日：2014-11-04
Applicant: 苏州精创光学仪器有限公司
Inventor： 尚修鑫
IPC: G01J3/00
Abstract: 本发明公开了一种分光光度计测试装置，包括测试用的本体，所述本体连接稳压电源，所述本体的前端一侧设有电源开关以及电源指示灯，还有若干调节旋钮，所述本体的上方设有波长刻度盘，以及透光率显示表，所述本体的上方还设有一用于放置分光光度计的暗箱盖。
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公开(公告)号：CN104094091B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201280068969.1
申请日：2012-03-27
Applicant: 日本先锋公司 , 先锋自动化设备股份有限公司
CPC classification number: G01J1/0266 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0289 , G01J3/504 , G01J2001/067 , G01J2001/4252 , H01L33/0079
Abstract: 本发明提供一种可同时测定各角度的光的波长和发光量的半导体发光元件用测定装置。LED用测定装置(3)具有接收LED(101)半导体发光元件发射的光的光电探测器(105)、可改变LED(101)与光电探测器(105)之间的距离的距离变更机构、以及可测定LED(101)所发射的光之中的一方向的光的波长或强度的测定部(120)，其中，即使通过距离变更机构而改变LED(101)与光电探测器(105)之间的距离，测定部(120)也会接收光电探测器(105)所接收的光的最外周线的光。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102313984B
公开(公告)日：2016-02-10
申请号：CN201110189166.9
申请日：2011-07-06
Applicant: 精工爱普生株式会社
CPC classification number: G02B5/288 , G01J3/26 , G02B5/284 , G02B26/001
Abstract: 本发明提供了滤光器、滤光器模块、分光测量仪和光设备。该滤光器具有：第一可变波长带通滤波器，其能够将第一波段(400nm～460nm)分光，并且具有以上述第一波段内的第一波长为中心波长的第一光谱带以及以第一波段内的第二波长为中心波长的第二光谱带；以及第二可变波长带通滤波器，其能够将邻接于第一波段的第二波段(480nm～540nm)分光，并且具有以第二波段内的第三波长为中心波长的第三光谱带以及以第二波段内的第四波长为中心波长的第四光谱带。
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公开(公告)号：CN102466516B
公开(公告)日：2015-12-16
申请号：CN201110259007.1
申请日：2011-09-02
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor： 舟本达昭
CPC classification number: G02B5/28 , G01J3/26 , G02B13/22 , G02B26/001
Abstract: 一种光学装置。其具备波长可变干涉滤光器、远心光学系统以及检测部，波长可变干涉滤光器具备：第一基板；第二基板，具备可动部和保持部；第一反射膜，设置在所述第一基板上；第二反射膜，设置在所述可动部上；以及静电致动器，使可动部位移，其中，在第一反射膜和第二反射膜上设置有测定有效区域，在可动部的位移量变为最大时，能够使以测定中心波长为中心且处于预先设定的容许值以内的波长的光透过，远心光学系统以使入射光的主光线平行且垂直于第一反射膜的方式将入射光导向所述波长可变干涉滤光器，同时使入射光会聚在测定有效区域内。
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公开(公告)号：CN104321637A
公开(公告)日：2015-01-28
申请号：CN201280073284.6
申请日：2012-05-25
Applicant: 福斯分析股份公司
CPC classification number: G01N21/35 , G01J3/027 , G01J3/0291 , G01N21/0303 , G01N21/3577 , G01N21/8507 , G01N2021/036 , G01N2021/0375 , G01N2021/0396 , G01N2201/0668
Abstract: 一种光谱仪(102)包括一个可调节的采样空间(104)，该采样空间具有两个总体上相对的、可相对移动的侧壁(106，108)，这里这些侧壁实质上由光学半透明材料形成并且在这些侧壁之间在使用时填充一种用于分析的样品，以及一个致动器(116)被机械地联接(这里经由蜗杆传动件(118))到这些相对侧壁(108)的一者或两者并且响应一个施加到其上的命令信号可运行以进行它们的相对运动。该光谱仪(102)进一步包括一个光学位置传感器(110，112，114)，该光学位置传感器被适配为用于检测由多次遍历在这些侧壁(106，108)之间的距离的光能所产生的干涉条纹，并且用于依赖于它产生命令信号，并且优选地还被适配为用于产生一个输出，该输出将强度针对波长的指示进行标示，该波长可用于在该采样空间(104)内的样品材料的光谱分析。
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公开(公告)号：CN102353447B
公开(公告)日：2014-11-19
申请号：CN201110206996.8
申请日：2011-07-22
Abstract: 本发明公开了一种用于光谱成像仪的光谱定标装置。宽波段光源(1)发出的光束经光阑(2)和准直透镜(3)后，照射到波长调谐滤光片(4)上，输出呈梳状分布的具有不同波长的多个窄带光信号，经宽波段带通滤光片(5)进行光强调整后，从积分球入射光孔(6)进入积分球(9)进行退偏和空间均匀性处理，积分球出光孔(8)输出面光源；待测光谱成像仪放置在出光孔(8)处进行光谱定标。该装置利用双折射晶体进行光透过率调制，可对通带峰值位置和带宽大小进行调节，能够在宽波段范围内提供随波长变化的多个窄带光强信号，对光谱成像仪光谱定标时不需要波长扫描，可实现一次成像完成波长定标，并适合于大视场、大口径的光谱成像仪定标使用。
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公开(公告)号：CN104094091A
公开(公告)日：2014-10-08
申请号：CN201280068969.1
申请日：2012-03-27
Applicant: 日本先锋公司 , 先锋自动化设备股份有限公司
CPC classification number: G01J1/0266 , G01J1/0425 , G01J3/0218 , G01J3/0289 , G01J3/504 , G01J2001/067 , G01J2001/4252 , H01L33/0079
Abstract: 本发明提供一种可同时测定各角度的光的波长和发光量的半导体发光元件用测定装置。LED用测定装置(3)具有接收LED(101)半导体发光元件发射的光的光电探测器(105)、可改变LED(101)与光电探测器(105)之间的距离的距离变更机构、以及可测定LED(101)所发射的光之中的一方向的光的波长或强度的测定部(120)，其中，即使通过距离变更机构而改变LED(101)与光电探测器(105)之间的距离，测定部(120)也会接收光电探测器(105)所接收的光的最外周线的光。
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