公开(公告)号：CN106160849A

公开(公告)日：2016-11-23

申请号：CN201510177838.2

申请日：2015-04-15

Applicant: 富士通株式会社

Inventor： 赵颖 ,  窦亮 ,  陶振宁

IPC: H04B10/075

CPC classification number: H04B10/07955 ,  G01J3/00 ,  H04B10/07957

Abstract: 本发明实施例提供一种功率估计方法、频谱特征监测方法、装置和系统，该功率估计方法包括：获取接收信号；从所述接收信号中提取频谱信息，得到所述接收信号的频谱；根据所述频谱中的中央信道的平坦区域的功率值确定中央信道的功率；根据所述频谱中的邻道的平坦区域的功率值确定所述邻道的功率。通过本发明实施例，仅利用单一光接收机得到的频谱信息，对本接收机的中央信道功率和邻道功率进行估计，从而定量评价功率不平衡效应的影响，由此，能够保证功率估计的精度，减小非理想因素对估计值产生的影响。

公开(公告)号：CN106019544A

公开(公告)日：2016-10-12

申请号：CN201610476895.5

申请日：2016-06-27

Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司

Inventor： 郭良贤 ,  吴耀 ,  左腾 ,  耿安兵 ,  熊涛 ,  梁娟 ,  李彪

IPC: G02B17/08 ,  G01J3/00

CPC classification number: G02B17/08 ,  G01J3/00

Abstract: 本发明公开了一种制冷型双波段红外光学系统，从物方到像方依次包括长波红外光学系统和中波红外光学系统，所述的长波红外光学系统依次由主物镜组、分光平板、长波中继透镜组、长波反射镜、长波调焦透镜和长波后固定组组成，所述的中波红外光学系统依次由主物镜组、分光平板、中波中继透镜组、中波反射镜、中波调焦透镜和中波后固定组组成；制冷型中波长波双波段红外光学系统采用二次成像结构型式，利于红外成像光谱仪的光瞳衔接，减小体积和重量，结构简单稳定。

公开(公告)号：CN108760049A

公开(公告)日：2018-11-06

申请号：CN201810450530.4

申请日：2018-05-11

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 杨阳 ,  曹伟伟 ,  王博 ,  白永林 ,  秦文强 ,  陈震 ,  徐鹏 ,  朱炳林 ,  缑永胜 ,  高佳瑞 ,  白晓红 ,  秦君军

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/00 ,  G02B1/00

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/00 ,  G02B1/00

Abstract: 本发明涉及一种基于紫外电子轰击有源像素传感器的紫外成像仪，解决了现有紫外成像仪灵敏度低、噪声大、成本高、结构复杂、体积重量较大等问题。该紫外成像仪包括光机系统、紫外电子轰击有源像素传感器、高压选通脉冲模块、读出电子学系统、图像处理与控制系统；光机系统包括成像镜头和滤波片；高压选通脉冲模块分别与紫外电子轰击有源像素传感器、图像处理与控制系统连接；读出电子学系统分别与紫外电子轰击有源像素传感器、图像处理与控制系统连接；紫外电子轰击有源像素传感器包括阴极窗口、紫外光电阴极、管壳和背照式CMOS芯片；紫外光电阴极设置在阴极窗口的内表面；背照式CMOS芯片设置在管壳内部。

公开(公告)号：CN105510238A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201410508057.2

申请日：2014-09-28

Applicant: 天津先阳科技发展有限公司

Inventor： 徐可欣 ,  刘瑾 ,  张婉洁

IPC: G01N21/25

CPC classification number: G01N33/66 ,  A61B5/0075 ,  A61B5/14532 ,  A61B5/1455 ,  A61B5/7203 ,  A61B5/7239 ,  A61B2562/0238 ,  G01J3/00 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/28 ,  G01J3/4412 ,  G01N21/474 ,  G01N21/49 ,  G01N2021/4747 ,  G02B6/04 ,  G02B6/3624

Abstract: 公开了多位置漫射光谱数据的处理方法、建模方法、预测方法和处理装置。一示例光谱数据处理方法可以包括：使用探测光，对包含特定成分的被测介质进行照射；获得被测介质在第一径向位置处的第一光谱数据以及在第二径向位置处的第二光谱数据，其中所述第一径向位置和所述第二径向位置是任意选择的；以及对第一光谱数据和第二光谱数据进行差分处理。

公开(公告)号：CN101903698A

公开(公告)日：2010-12-01

申请号：CN200880121877.9

申请日：2008-11-07

Applicant: 克里公司

Inventor： J·罗伯斯 ,  尤晨华

IPC: F21K7/00 ,  G09G3/00 ,  H01L33/00 ,  H05B33/08

CPC classification number: G01J3/46 ,  F21K9/00 ,  F21K9/62 ,  G01J3/00 ,  G01J3/462 ,  G01J2001/4247 ,  G01J2003/467 ,  G02F1/1336 ,  G02F1/133602 ,  G09G3/00 ,  G09G3/3406 ,  G09G3/36 ,  H05B33/0803 ,  H05B33/086 ,  H05B33/0863

Abstract: 提供了用于对光发射器以及包括该光发射器的设备进行分组的设备和方法。该方法的实施例可以包括使用被配置为将多个色彩中的每一个表示为至少两个色度坐标的多轴色彩空间的区域来选择一部分光发射器。该区域可以接近多轴色彩空间上的预定的点并且包括具有第一长度的主轴和具有小于第一长度的第二长度的副轴。

公开(公告)号：CN107454936A

公开(公告)日：2017-12-08

申请号：CN201680017434.X

申请日：2016-01-26

Applicant: H2奥普特斯公司

Inventor： 鲁道夫·J·霍夫迈斯特 ,  唐纳德·A·艾斯 ,  斯科特·W·坦迪

IPC: G01N21/25 ,  G01N21/33 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/65 ,  G01N21/01 ,  G01J3/02 ,  G01N23/00 ,  G01N35/10 ,  G01J3/42 ,  B01D46/00 ,  B01D46/42

CPC classification number: G01J3/42 ,  B01D46/0002 ,  B01D46/42 ,  G01J3/00 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0267 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/06 ,  G01J3/10 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/44 ,  G01N1/06 ,  G01N21/01 ,  G01N21/25 ,  G01N21/253 ,  G01N21/33 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/3577 ,  G01N21/65 ,  G01N23/00 ,  G01N33/15 ,  G01N35/10 ,  G01N2021/0106 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/023

Abstract: 示例实施方式可以包括配置成获取样品的信息的高光谱分析子组件。该高光谱分析子组件可包括：一个或多个发射机，其被配置成生成电磁耦接到样品的电磁辐射；一个或多个传感器，其被配置成检测电磁耦接到所述样品的电磁辐射；以及电磁透射窗口。传感器中的至少一个可被配置成经由窗口来检测来自样品的电磁辐射。该高光谱分析子组件可以包括：分析致动子组件，其被配置成在相对于样品的一个或多个移动方向上致动该高光谱分析子组件的至少一部分。

公开(公告)号：CN102455829A

公开(公告)日：2012-05-16

申请号：CN201110345978.8

申请日：2011-11-02

Applicant: 乐金显示有限公司

Inventor： 申载勋 ,  张亨旭 ,  吴俊锡

IPC: G06F3/042

CPC classification number: G06K7/10732 ,  G01J3/00 ,  G01J5/10 ,  G02B19/009 ,  G06F3/0418 ,  G06F3/0428

Abstract: 公开了红外传感器模块及其自动校正方法和使用该红外传感器模块的触摸感测方法，所述触摸感测方法包括导通所述红外传感器，所述红外传感器包括具有光接收区域且布置成与显示面板的表面垂直的传感器块，所述光接收区域被划分为以“m”行乘以“n”列布置的“m×n”个块，每个块都具有沿行方向上布置的多个光接收像素，其中“m”和“n”的每个都是二或更大的自然数；扫描每个块的光信号；相对于每一列的块选择具有最大输出光信号的块；以及将从所述列选择的块的光接收像素的光信号加和。

公开(公告)号：CN101922969A

公开(公告)日：2010-12-22

申请号：CN201010266381.X

申请日：2010-08-30

Applicant: 南通北极光自动控制技术有限公司

Inventor： 丁峰 ,  刘混海 ,  周峰 ,  杜伟 ,  李志杰

IPC: G01J3/42 ,  G01N21/25 ,  G01N21/47

CPC classification number: G01J3/28 ,  G01J3/00 ,  G01J3/18

Abstract: 本发明公开了一种紫外、可见、近红外在线检测漫反射光谱分析仪，包括壳体，所述壳体内部设有照明系统、探头、光学分光系统、信号采集系统、校正系统和光谱处理系统，所述照明系统、信号采集系统、校正系统和光谱处理系统共同连接有供电系统。所述照明系统用于发射紫外、可见、近红外波段的光线，照明被测物体，所述探头用于收集被测物体漫反射后的光线，并将收集后的光线传送给光学分光系统，利用光栅将光线分光形成不同波长的光，通过信号采集系统将光信号转换成数字信号并进行采集，通过校正系统校正后的光谱，交给光谱处理系统处理、分析和显示，从而确定检测结果。本发明具有应用领域广、测量精确的优点。

公开(公告)号：CN100367468C

公开(公告)日：2008-02-06

申请号：CN03807422.2

申请日：2003-03-26

Applicant: 兰姆研究有限公司

Inventor： V·卡茨 ,  B·米切尔

IPC: H01L21/306 ,  B24B49/12 ,  G01B11/28

CPC classification number: B24B49/12 ,  B24B37/013 ,  G01B11/0625 ,  G01B11/0683 ,  G01J3/00

Abstract: 公开了一种用于在化学机械抛光制程中检测终点的系统与方法，包括利用第一宽频带光束(132)照射晶片(300)表面的第一部分。接收第一反射光谱数据。第一反射光谱数据(308)对应于从晶片表面的第一照射部分反射的第一光谱的光。利用第二宽频带光束照射晶片表面的第二部分。第二反射光谱数据对应于从晶片表面的第二照射部分反射的第二光谱的光。将第一反射光谱数据和第二反射光谱数据标准化，基于标准化的第一光谱数据与第二光谱数据之间的差别来确定终点。

公开(公告)号：CN108700509A

公开(公告)日：2018-10-23

申请号：CN201780014888.6

申请日：2017-03-24

Applicant: 科磊股份有限公司

Inventor： 安德鲁·希尔 ,  阿姆农·玛纳森 ,  欧哈德·巴沙尔

IPC: G01N21/31

CPC classification number: F21V9/40 ,  G01J3/00 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/06 ,  G01J3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J2003/1828 ,  G02B5/1828 ,  G02B5/22 ,  G02B5/26 ,  G02B26/0825 ,  G02F1/33 ,  G02F2201/305 ,  G02F2203/055

Abstract: 一种可调谐光谱滤波器包含第一可调谐色散元件、第一光学元件、位于焦平面处的空间滤波元件、第二光学元件及第二色散元件。所述第一可调谐色散元件利用可调整色散将光谱色散引入到照明光束。所述第一光学元件将所述照明光束聚焦于焦平面处，其中所述经光谱色散照明光束的光谱在所述焦平面处的分布可通过调整所述第一可调谐色散元件的所述色散而控制。所述空间滤波元件基于所述照明光束的所述光谱在所述焦平面处的所述分布而将所述照明光束的所述光谱滤波。所述第二光学元件收集从所述空间滤波元件透射的所述经光谱色散照明光束。所述第二可调谐色散元件从所述照明光束移除由所述第一可调谐色散元件引入的所述色散。