公开(公告)号：WO2013053683A1

公开(公告)日：2013-04-18

申请号：PCT/EP2012/069928

申请日：2012-10-09

Applicant: ASTRIUM LIMITED

Inventor： SWEENEY, Stephen ,  ZHANG, Yaping

IPC: G02B6/122 ,  G02B6/293

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0259 ,  G02B6/1228 ,  G02B6/29343

Abstract: A spectrometer comprises a substrate and a waveguide on the substrate, the waveguide including an elongate part and a tapered input for guiding electromagnetic radiation to the elongate part. The tapered input includes an input end for receiving the electromagnetic radiation and an output end coupled to the elongate part, the input end being wider than the output end. The spectrometer may further comprise a plurality of resonators coupled to the elongate part of the waveguide.

Abstract translation: 光谱仪包括衬底和衬底上的波导，波导包括细长部分和用于将电磁辐射引导到细长部分的锥形输入。 锥形输入包括用于接收电磁辐射的输入端和耦合到细长部分的输出端，输入端比输出端宽。 光谱仪还可以包括耦合到波导的细长部分的多个谐振器。

公开(公告)号：WO2012162809A1

公开(公告)日：2012-12-06

申请号：PCT/CA2012/000525

申请日：2012-05-30

Applicant: TORNADO MEDICAL SYSTEMS, INC. ,  NITKOWSKI, Arthur ,  HAJIAN, Arsen

Inventor： NITKOWSKI, Arthur ,  HAJIAN, Arsen

IPC: G01B9/02 ,  G01J3/45

CPC classification number: G01J9/02 ,  A61B5/0066 ,  G01B9/02004 ,  G01B9/02044 ,  G01B9/02051 ,  G01B9/02091 ,  G01B2290/40 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/4531 ,  G01J3/4532 ,  G01J2003/451

Abstract: An interferometer comprising a planar substrate is provided. The interferometer has a splitter formed on the planar substrate to split a received optical signal, a sample arm formed on the planar substrate to receive a first portion of the split optical signal and direct the first portion toward a sample, a reference arm formed on the planar substrate to receive a second portion of the split optical signal, and a detector element to receive an interferogram generated by interfering the second portion of the split optical signal with a received sample signal generated by the first portion of the split signal interacting with the sample.

Abstract translation: 提供了包括平面基板的干涉仪。 所述干涉仪具有形成在所述平面基板上以分割接收到的光信号的分离器，形成在所述平面基板上的样本臂，以接收所述分割光信号的第一部分并将所述第一部分引向样本， 平面基板以接收分离光信号的第二部分，以及检测器元件，用于接收通过将分离光信号的第二部分与由样本相互作用的分离信号的第一部分产生的接收采样信号而产生的干涉图 。

公开(公告)号：WO2011134145A1

公开(公告)日：2011-11-03

申请号：PCT/CN2010/072278

申请日：2010-04-28

Applicant: 台湾超微光学股份有限公司 ,  柯正浩

Inventor： 柯正浩

IPC: G01J3/18

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0259 ,  Y10T29/49826

公开(公告)号：WO2010139791A1

公开(公告)日：2010-12-09

申请号：PCT/EP2010/057846

申请日：2010-06-04

Applicant: KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. ,  GOMEZ RIVAS, Jaime ,  GIANNINI, Vincenzo ,  BERRIER, Audrey Anne-Marie ,  MAIER, Stefan Alexander ,  MATTERS-KAMMERER, Marion ,  TRIPODI, Lorenzo

Inventor： GOMEZ RIVAS, Jaime ,  GIANNINI, Vincenzo ,  BERRIER, Audrey Anne-Marie ,  MAIER, Stefan Alexander ,  MATTERS-KAMMERER, Marion ,  TRIPODI, Lorenzo

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/35

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0259 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/3581

Abstract: A THz frequency range antenna is provided which comprises: a semiconductor film (3) having a surface adapted to exhibit surface plasmons in the THz frequency range. The surface of the semiconductor film (3) is structured with an antenna structure (4) arranged to support localized surface plasmon resonances in the THz frequency range.

Abstract translation: 提供一种太赫兹频率范围天线，其包括：具有适于在THz频率范围内显示表面等离子体激元的表面的半导体膜（3）。 半导体膜（3）的表面由布置成支持THz频率范围内的局部表面等离子体共振的天线结构（4）构成。

公开(公告)号：WO2010128325A1

公开(公告)日：2010-11-11

申请号：PCT/GB2010/050737

申请日：2010-05-05

Applicant: ZINIR LTD ,  SWEENEY, Stephen John

Inventor： SWEENEY, Stephen John

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/28

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/2803

Abstract: A spectrophotometer comprising a monolithic semiconductor substrate, one or more wavelength dispersing means, and one or more wavelength detecting means, wherein the monolithic substrate (1) has waveguide means (2) and one or more resonators (3-14) acting as detectors of particular light wavelengths and disposed in proximity to the waveguide means in such a way that evanescent light coupling can occur for said light wavelengths.

Abstract translation: 一种分光光度计，包括单片半导体衬底，一个或多个波长分散装置和一个或多个波长检测装置，其中所述整体式衬底（1）具有波导装置（2）和一个或多个谐振器（3-14） 特定的光波长并且以这样的方式设置在波导装置附近，使得对于所述光波长可以发生ev逝光耦合。

公开(公告)号：WO2010110504A1

公开(公告)日：2010-09-30

申请号：PCT/KR2009/001597

申请日：2009-03-30

Applicant: 서울옵토디바이스주식회사 ,  사카이시로

Inventor： 사카이시로

IPC: G01J1/02 ,  G01J1/44 ,  H01L31/101 ,  G01J3/42

CPC classification number: B82Y20/00 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/18 ,  G02B1/005 ,  G02B2207/101 ,  H01L27/1446 ,  H01L31/02327

Abstract: 소형화가 가능하고 복잡한 광축 맞춤이 불필요한 광 검출기 및 스펙트럼 검출기를 제공한다. 본 발명의 광 검출기는 기판과 상기 기판 상에 형성되고 복수의 철부를 갖는 반도체를 갖는 광 검출기로, 상기 복수의 철부에 입사한 광 중 상기 복수의 철부를 투과하는 광을 검출한다. 본 발명에 의하면, 회절 격자나 프리즘 등의 광학 부품을 이용하지 않고서도 특정의 피크 파장을 갖는 광을 검출할 수 있어 복잡한 광학계의 광축 조정이 불필요한 소형의 광 검출기를 실현할 수 있다.

Abstract translation: 公开了可以小型化并且不需要复杂的光轴对准的光学检测器和光谱检测器。 本发明的光检测器包括基板和半导体，其形成在基板上并具有多个铁部件，并且检测入射在多个铁部件上的光中透过多个铁部件的光。 根据本发明，即使不使用诸如衍射光栅或棱镜等的光学元件也能检测特定峰值波长的光，因此实现了不需要光学系统的复杂的光轴对准的小型化的光学检测器。

公开(公告)号：WO2009106316A3

公开(公告)日：2009-12-03

申请号：PCT/EP2009001346

申请日：2009-02-25

Applicant: FRAUNHOFER GES FORSCHUNG ,  WEBER NORBERT ,  JUNGER STEPHAN ,  TSCHEKALINSKIJ WLADIMIR

Inventor： WEBER NORBERT ,  JUNGER STEPHAN ,  TSCHEKALINSKIJ WLADIMIR

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/51 ,  H01L27/146

CPC classification number: G01J3/26 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J3/36 ,  G01J2003/1213 ,  H01L27/14621 ,  H01L27/14645 ,  H01L31/02165

Abstract: The invention relates to a multi-spectral image sensor having a two-dimensional array of super-pixels, wherein each super-pixel has at least five sensor elements (11), each comprising a pixel sensor (14), a filter structure (12) having at least one structured layer made of metal or polycrystalline semi-conductor material, which, in response to the electromagnetic radiation of a wavelength region, results in a higher transmission through the filter structure to the pixel sensor (14) than wavelengths surrounding the wavelength region, wherein the at least five sensor elements (12) are jointly integrated on a semi-conductor substrate (16) and are configured on different wavelength regions in pairs.

Abstract translation: 具有超像素的二维阵列阿多光谱图像传感器，每个超像素具有至少五个传感器元件（11）各自具有金属或多晶半导体材料的至少一个图案化层，电磁辐射的响应的像素传感器（14），过滤器结构（12） 波长范围内产生较高的透射率通过过滤器结构的像素传感器（14），比周围的波长，其特征在于，该至少5个传感器元件（12）的半导体衬底（16）共同在被集成并成对地配置在不同的波长范围的波长范围。

公开(公告)号：WO2008017490A2

公开(公告)日：2008-02-14

申请号：PCT/EP2007007075

申请日：2007-08-09

Applicant: OPSOLUTION NANOPHOTONICS GMBH ,  OPSOLUTION GMBH ,  HILLMER HARTMUT ,  KOECHER WOLFGANG ,  KRIEG JUERGEN ,  SANDHAGEN CARL ,  HOHEISEL HARDY ,  WILLEMER WINFRIED

Inventor： HILLMER HARTMUT ,  KOECHER WOLFGANG ,  KRIEG JUERGEN ,  SANDHAGEN CARL ,  HOHEISEL HARDY ,  WILLEMER WINFRIED

IPC: G01J3/28 ,  G02B5/28 ,  G03F7/00 ,  H01L27/146

CPC classification number: G02B5/284 ,  A61B5/0075 ,  B82Y10/00 ,  B82Y40/00 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36 ,  G01J3/4406 ,  G01J3/51 ,  G02B5/201 ,  G02B5/288 ,  G03F7/0002 ,  H01L27/14621 ,  H01L27/14685 ,  Y10T29/49826

Abstract: The invention relates to an optical filter and a method for its production, and to a device for the examination of the spectral and spatial distribution of an electromagnetic radiation irradiated from an object. The invention is based on the task of providing an optical filter of the above described type that is inexpensive to produce, which can be used to detect a plurality of wavelengths, in which, however, tuning of the DBR mirrors by means of displacement is not necessary. Furthermore, a method for the production of such a filter is provided. According to a first aspect of the present invention this task is solved by a method for the production of an optical filter array having two DBR mirrors, and a cavity present between the same, comprising cavity sections having a plurality of different heights, each forming one Fabry Perot filter element, characterized by the following steps: applying a first DBR mirror onto a substrate, forming of a layer comprised of a cavity material on the DBR mirror, wherein this layer is equipped with a plurality of cavity sections forming the filter elements by means of utilizing a nanoimprint method, and applying the second DBR mirror on the cavity material having a structuring that is defined by the different heights of the cavity sections.

Abstract translation: 本发明涉及一种光学滤波器及其制造方法，以及一种用于研究从物体发出的电磁辐射的光谱和空间分布的装置。 本发明的目的是提供上述类型的成本可生产的光学滤波器，其中可以检测多个波长，但是其中不需要通过移动DBR镜来进行调谐。 另外，应该提出生产这种过滤器的方法。 根据本发明，该目的是通过产生一种光学滤光器阵列具有两个DBR镜的方法来实现的第一方面和其具有多个不同的高度，这取决于一个法布里 - 珀罗滤光器元件上包括形成腔部，这些腔之间的现有， 其特征在于以下步骤：在衬底上施加第一DBR镜，形成由上DBR镜的腔的材料层组成的组中，所述过滤器元件的层是通过使用纳米压印法的成型模腔部，与所述多个提供， 以及将所述第二DBR反射镜施加到所述腔体材料，所述腔体材料具有由所述腔体部分的不同高度预先确定的结构。

公开(公告)号：WO2008014983A1

公开(公告)日：2008-02-07

申请号：PCT/EP2007/006777

申请日：2007-07-31

Applicant: JACOBS UNIVERSITY BREMEN GGMBH ,  KNIPP, Dietmar

Inventor： KNIPP, Dietmar

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/12 ,  H01L31/0224 ,  H01L31/0232

CPC classification number: G01J3/12 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0259 ,  G01J2003/1213 ,  H01L27/14643

Abstract: Die Erfindung bezieht sich auf einen Optischer Spektralsensor zur Bestimmung der spektralen Information von einfallendem Licht insbesondere im sichtbaren und infraroten Spektralbereich mit mindestens einer optoelektronischen Halbleiteranordnung und mindestens einem Metallfilm, welcher von einem Dielektrikum umgeben ist, wobei der Metallfilm eine periodische Struktur aufweist, wobei die mindestens eine optoelektronische Halbleiteranordnung und der mindestens eine strukturierte Metallfilm so angeordnet sind, dass zu detektierendes Licht zunächst den strukturierten Metallfilm durchsetzt und dann auf die optoelektronische Halbleiteranordnung trifft, wobei der optische Spektralsensor so ausgebildet ist, dass die spektrale Empfindlichkeit, im Wesentlichen von den optischen Eigenschaften des strukturierten Metallfilms bestimmt wird.

Abstract translation: 本发明涉及一种光学光谱传感器，用于确定入射光的光谱信息，特别是在可见光和红外光谱范围内具有至少一个光电子半导体器件和至少一个金属膜，其由电介质包围，其中，所述金属膜具有周期性结构，其中，所述至少 的光电子半导体器件和至少一个结构化的金属膜被配置成要由图案化的金属薄膜，然后入射到光电子半导体器件，其中，所述光谱光学传感器被设计成在第一个检测到的光的光谱灵敏度基本上上的光学特性 图案化的金属薄膜被确定。

公开(公告)号：WO2006102618A3

公开(公告)日：2007-09-07

申请号：PCT/US2006010899

申请日：2006-03-23

Applicant: DATACOLOR HOLDING AG ,  SHANNON COLMAN ,  SLOCUM DAVID ,  VRHEL MICAEL

Inventor： SHANNON COLMAN ,  SLOCUM DAVID ,  VRHEL MICAEL

IPC: H04N1/46

CPC classification number: G01J3/51 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0251 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/465 ,  G01J3/501 ,  G01J3/513 ,  G01J2003/467

Abstract: A tristimulus colorimeter for measuring reflective or transmissive materials is provided. The colorimeter measures a sample under a calibrated light source, receives inputs to detectors, and determines CIE tristimulus values of the same sample as they would occur under a reference light source. The colorimeter includes a calibrated light source and a single silicon chip that includes three or more detectors. Each detector is permanently coated by a different mix of dyes or other colorants that form a wavelength-selective filter. A single silicon chip embodies all the detectors and electronics, with each detector coated over by deposited filter layers.

Abstract translation: 提供了用于测量反射或透射材料的三刺激色度计。 色度计测量校准光源下的样品，接收检测器的输入，并确定与参考光源下发生的相同样品的CIE三刺激值。 色度计包括校准光源和包括三个或更多个检测器的单个硅芯片。 每个检测器由形成波长选择性过滤器的染料或其它着色剂的不同混合物永久地涂覆。 单个硅芯片体现了所有的检测器和电子元件，每个检测器被沉积的过滤层覆盖。