公开(公告)号：JP2018080935A

公开(公告)日：2018-05-24

申请号：JP2016221594

申请日：2016-11-14

Applicant: 浜松ホトニクス株式会社

Inventor： 河野 誠

IPC: G01J3/08 ,  G01J3/42

CPC classification number: G01J3/08 ,  G01J3/42 ,  G01N21/01

Abstract: 【課題】光源と分光器とを所望の相対位置に配置でき且つ装置を小型化できる分光計測装置、及び、この分光計測装置を備えた分光計測システムを提供する。 【解決手段】分光計測装置1は、被計測物Sに対して光L1を照射し、当該照射に応じて被計測物Sから出力された計測光L2を計測する。分光計測装置1は、光L1を出射する光源11を収容し、光源11で出射した光L1が通過する第1開口10aが形成され、遮光性を有する第1筐体10と、計測光L2が通過する第2開口20aが形成され、第2開口20aを通過した計測光L2を受光する分光器21を収容し、遮光性を有する第2筐体20と、第1筐体10と第2筐体20との相対位置を変更可能に第1筐体10と第2筐体20とを連結する連結部30と、を備える。 【選択図】図6

公开(公告)号：JP2014512532A

公开(公告)日：2014-05-22

申请号：JP2014502715

申请日：2012-03-27

Applicant: ヌビオ,インコーポレイテッド ,  トレイシー,デイビッド ,  ストークス,ピーター,ルイス ,  キアニ,セペー

Inventor： トレイシー，デイビッド ,  ストークス，ピーター，ルイス ,  キアニ，セペー

IPC: G01N21/27 ,  G01N21/64 ,  G01N21/76

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0248 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/06 ,  G01J3/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/14 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/44 ,  G01J3/4406 ,  G01N15/1434 ,  G01N15/1459 ,  G01N15/1484 ,  G01N21/6456

Abstract: 本発明は、全般的に、試料からの光のスペクトル特性を検出および計測するためのシステム、方法、およびキットに、または複数の試料の中に存在する各試料からの光のスペクトル特性をスケーラブルに、同時に、検出および計測するためのシステム、方法、およびキットに関する。 なお、このシステムは分散要素を備える光学トレインと、撮像センサとを備える。 検出および計測される光は、試料から散乱される光、試料中の化学的プロセスによる化学発光として放出される光、試料により選択的に吸収される光、または励起後に試料から蛍光として放出される光を含み得る。
【選択図】図１

公开(公告)号：JP2012198236A

公开(公告)日：2012-10-18

申请号：JP2012130406

申请日：2012-06-08

Applicant: Olympus Corp ,  オリンパス株式会社

Inventor： YAMAGUCHI MITSUSHIRO ,  HARADA MITSUO

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6452 ,  G01J3/02 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0229 ,  G01J3/0235 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/06 ,  G01J3/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/123 ,  G01N21/6428 ,  G01N21/6445

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To provide an optical measuring device which promptly and efficiently carries out a dynamic optical analysis method of a sample.SOLUTION: An optical measuring device includes a laser light source 1, an object lens 10, an optical detector 2, a sample container 22, an optical element, a beam scanning mechanism 9 composed of an eccentric rotation mirror 40 and a motor 41 for rotating the eccentric rotation mirror 40, and a beam scanning mechanism control portion for generating a control signal and carrying out the drive control of the beam scanning mechanism 9; and carries out measurement corresponding to plural kinds of measuring items about physical properties of a biological sample in a solution held in the sample container. When carrying out FIDA measurement, the eccentric rotation mirror 40 is rotated to optically scan a condensing spot of a laser beam in a generally elliptical shape at a focus position in the solution held in the sample container. When carrying out FCS measurement, a mirror surface of the eccentric rotation mirror is fixed in an orientation in which light passing through an optical axis passes through the object lens along the optical axis, and confocal illumination is carried out in the solution by the light passing through the optical axis.

Abstract translation: 要解决的问题：提供一种能够及时有效地进行样品的动态光学分析方法的光学测量装置。 光学测量装置包括激光光源1，物镜10，光学检测器2，样本容器22，光学元件，由偏心旋转镜40和电动机构成的光束扫描机构9 41，用于旋转偏心旋转镜40;以及光束扫描机构控制部分，用于产生控制信号并执行光束扫描机构9的驱动控制; 并且对于保持在样本容器中的溶液中的生物样品的物理性质的多种测量项目进行测量。 当进行FIDA测量时，偏心旋转镜40被旋转以在保持在样品容器中的溶液中的聚焦位置处以大致椭圆形状的光学扫描激光束的聚光点。 当执行FCS测量时，偏心旋转镜的镜面被固定在通过光轴的光沿着光轴穿过物镜的方向上，并且通过光通过在溶液中进行共聚焦照明 通过光轴。 版权所有（C）2013，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP2011512532A

公开(公告)日：2011-04-21

申请号：JP2010546387

申请日：2008-02-15

Applicant: ザ サイエンス アンド テクノロジー ファシリティーズ カウンシルThe Science And Technology Facilities Council

Inventor： ダミアン ヴィードマン

IPC: G01N21/39

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/08 ,  G01J3/427 ,  G01N21/276 ,  G01N21/3518 ,  G01N21/39 ,  G01N2021/399

Abstract: Method and apparatus for detecting, by absorption spectroscopy, an isotopic ratio of a sample, by passing first and second laser beams of different frequencies through the sample. Two IR absorption cells are used, a first containing a reference gas of known isotopic ratio and the second containing a sample of unknown isotopic ratio. An interlacer or reflective chopper may be used so that as the laser frequencies are scanned the absorption of the sample cell and the reference cell are detected alternately. This ensures that the apparatus is continuously calibrated and rejects the baseline noise when phase sensitive detection is used.

公开(公告)号：JP2009532708A

公开(公告)日：2009-09-10

申请号：JP2009504445

申请日：2007-04-04

Applicant: カスタム センサーズ アンド テクノロジー

Inventor： マーガレット， シー． ウエイド， ,  ブライアン， ダブリュー． カスペルスキー， ,  ショーン， エム． クリスチャン， ,  スベン クルーガー， ,  ジェス， ブイ． フォード， ,  エンリケ プラチ， ,  マイク ポンスティングル，

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/36 ,  G01J3/443 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/08 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/1282 ,  G01J2003/1286 ,  G01N21/274

Abstract: A spectroscope designed to utilize an adaptive optical element such as a micro mirror array (MMA) and two distinct light channels and detectors. The devices can provide for real-time and near real-time scaling and normalization of signals.

公开(公告)号：JP2008501966A

公开(公告)日：2008-01-24

申请号：JP2007526415

申请日：2005-06-02

Applicant: ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・アンゲバンター・オプティック,オプトエレクトローニック,クバンテンエレクトローニック・ウント・スペクトロスコピー・アインゲトラーゲナー・フェアアイン ,  ゲゼルシャフト・ツア・フェルデルング・デア・アナリツィシェン・ビッセンシャフテン・アインゲトラーゲナー・フェアアイン

Inventor： オークルス，ミヒャエル ,  フロレック，シュテファン ,  ベーゼマン，ギュンター ,  ベッカー−ロス，ヘルムート

IPC: G01J3/24 ,  G01J3/02 ,  G01J3/08 ,  G01J3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J3/28 ,  G01J3/36

CPC classification number: G01J3/1809 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0202 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0237 ,  G01J3/0286 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/08 ,  G01J3/12 ,  G01J3/2803

Abstract: 本発明は、放射線源からの放射線の第１の波長帯域のスペクトルを検知器（４２）上に作成するスペクトロメータ（１４）から構成されるスペクトロメータ配置（１０）に関する。 この配置はまた、スペクトロメータ配置（１０）に差し込む放射線の主要分散方向（４６）へのスペクトル分解のためのエシェル格子（３６）と；放射線のスペクトル分解を用いて、エシェル格子（３６）の主要分散方向に対して角度をなす横分散方向（４８）に、複数の分離された程度（５２）を有する二次元スペクトル（５０）が作成されることができるように、程度を分離する分散体（３４）と；入射空隙（２０）を通ってスペクトロメータ配置（１０）に差し込む放射線を結像面（４０）に結像する結像光学素子（２４、３８）と；結像面（４０）内の複数の検知素子の二次元配置から構成される面検知器（４２）とから構成される。 発明的配置は、放射線源からの放射線の、第１の波長帯域と異なる第２の波長帯域のスペクトル（６８）を同一の検知器（４２）上に作成するために、少なくとももう１つの分散体（６４）および他の結像光学素子（６０、６６）から構成される他のスペクトロメータ（１２）が備えられることにより特徴づけられる。 スペクトルは検知器上で、空間的、もしくは時間的に分離される。

公开(公告)号：JP2007218787A

公开(公告)日：2007-08-30

申请号：JP2006041082

申请日：2006-02-17

Applicant: Yokogawa Electric Corp ,  横河電機株式会社

Inventor： YAMAMOTO TOMOKAZU

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/42 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/1804 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0297 ,  G01J3/08 ,  G01J3/10 ,  G01J3/28 ,  G01J2003/2873 ,  G01N21/274

Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To calibrate highly accurately an observed wavelength by excluding an effect of the whole non-flatness of light emission intensity ripple included in emitted light from a light emitting diode or a light intensity distribution of the light emitting diode.
SOLUTION: The method comprises processes for: allowing reference light in a prescribed wavelength band emitted from the light emitting diode to pass a gas absorbing cell for absorbing light having a specific wavelength, and determining an observation spectrum of transmitted light after passing; determining a moving averaging observation spectrum by applying moving averaging processing to the observation spectrum; determining a corrected observation spectrum by taking the ratio between the moving averaging observation spectrum and the observation spectrum; and calibrating the observed wavelength based on the difference between an absorbed wavelength by the gas absorbing cell and a known specific wavelength in the corrected observation spectrum.
COPYRIGHT: (C)2007,JPO&INPIT

Abstract translation: 要解决的问题：通过排除来自发光二极管的发射光中包含的发光强度波动的整体非平坦性或发光二极管的光强度分布的影响，来高精度地校准观测波长。 解决方案：该方法包括以下处理：使从发光二极管发射的规定波长带中的参考光通过用于吸收具有特定波长的光的气体吸收单元，并确定通过后的透射光的观测光谱; 通过对观测光谱应用移动平均处理来确定移动平均观测光谱; 通过考虑移动平均观测光谱和观察光谱之间的比例来确定校正的观测光谱; 并且基于在气体吸收单元的吸收波长与已校正观察光谱中的已知特定波长之间的差异来校准观测波长。 版权所有（C）2007，JPO＆INPIT

公开(公告)号：JP3591427B2

公开(公告)日：2004-11-17

申请号：JP2000176480

申请日：2000-06-13

Applicant: 株式会社島津製作所

Inventor： 佳澄 横田

IPC: G01J3/08 ,  G01J3/42 ,  G01N21/27

CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/08

公开(公告)号：JPS5965228A

公开(公告)日：1984-04-13

申请号：JP17570782

申请日：1982-10-06

Applicant: Matsushita Electric Ind Co Ltd

Inventor： NAKAGAWA YASUO ,  OOKUBO KAZUAKI

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/08

CPC classification number: G01J3/08

Abstract: PURPOSE:To perform spectral photometry in a short time with sufficient measuring accuracy being maintained, by modulating the emissions from (n) pieces of light sources by different frequencies of (n-1), thereby performing the spectral photometry of the emissions at the same time. CONSTITUTION:Light beams emitted from first and second light sources 1 and 2 having different color temperatures are guided to a double monochrometer 7 through rotary sectors 3 and 4 having different frequencies, a BaSO4 diffusing plate 5, and a mirror 6. The light beams, whose spectrums are divided by the monochrometer 7, which is set at a specified wavelength, are inputted to a photoelectric multiplier tube 8. Its output signals pass through first and second bandpass filters 10 and 12 corresponding to the frequencies of the rotary sectors 3 and 4 and separated into several signal components, which are in turn detected by a synchronous detecting circuit 11 and a detecting circuit 13. By sequentially moving and setting the wavelength of the monochrometer 7, the distribution of the spectral emissions of the visual parts from the two light sources 1 and 2 can be simultaneously obtained. Thus the spectral photometry can be performed in a short time, with sufficient measuring accuracy being maintained.

Abstract translation: 目的：通过调节来自（n）个光源的发射（n-1）的不同频率，在短时间内进行光谱测光，并保持足够的测量精度，从而对相同的发射进行光谱测光 时间。 构成：具有不同色温的第一和第二光源1和2发射的光束通过具有不同频率的旋转扇区3和4，BaSO 4扩散板5和反射镜6被引导到双单色仪7。 其光谱被设置在指定波长的单色器7分频，被输入到光电倍增管8.其输出信号通过与旋转扇区3和4的频率对应的第一和第二带通滤波器10和12 并分成若干信号分量，这些信号分量又由同步检测电路11和检测电路13检测。通过依次移动和设置单色仪7的波长，从两个光线中观察视觉部分的光谱发射分布 可以同时获得源1和2。 因此，光谱测光可以在短时间内进行，并保持足够的测量精度。

公开(公告)号：US20190041323A1

公开(公告)日：2019-02-07

申请号：US15670550

申请日：2017-08-07

Applicant: The Boeing Company

Inventor： Mark D. Rogers ,  Loyal Bruce Shawgo ,  Jeffery Thomas Murphy

IPC: G01N21/359 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/47 ,  G01N21/85 ,  G01J3/50 ,  G01J3/51

CPC classification number: G01N21/359 ,  G01J3/0232 ,  G01J3/0254 ,  G01J3/08 ,  G01J3/28 ,  G01J3/42 ,  G01J3/506 ,  G01J3/513 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/474 ,  G01N21/85

Abstract: Systems and methods are provided for measuring spectral hemispherical reflectance. One embodiment is a system that includes a laser that emits a beam of light, and an optical chopper disposed between the laser and a sample. The chopper blocks the beam while the chopper is at a first angle of rotation, redirects the beam along a reference path while the chopper is at a second angle of rotation, and permits the beam to follow a sample path through the chopper and strike the sample while the chopper is at a third angle of rotation. The system also includes a hollow sphere that defines a slot through which the sample path and reference path enter the sphere. The hollow sphere includes a spectral hemispherical reflectance detector, a mount that receives the sample at the sphere, and an actuator that rotates the sphere about an axis that intersects the sample.