公开(公告)号：WO2008147575A2

公开(公告)日：2008-12-04

申请号：PCT/US2008/050926

申请日：2008-01-11

Applicant: RENSSELAER POLYTECHNIC INSTITUTE ,  SCHULKIN, Brian ,  ZHANG, Xi-Cheng ,  TONGUE, Thomas ,  XU, Jingzhou ,  CHEN, Jian

Inventor： SCHULKIN, Brian ,  ZHANG, Xi-Cheng ,  TONGUE, Thomas ,  XU, Jingzhou ,  CHEN, Jian

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G21K5/00 ,  B33Y80/00 ,  G01J4/00 ,  G01N21/211 ,  G01N21/3581 ,  H01S5/02236 ,  H01S2302/02

Abstract: Methods and apparatus (10, 20, 25, 60, 70) for detecting variations in electromagnetic fields, in particular, terahertz (THz) electromagnetic fields, are provided. The methods and apparatus employ polarization detection devices (120) and controllers (224) to maintain or vary the polarization of modulated signals (212, 262) as desired. The methods and apparatus are provided to characterize electromagnetic fields by directing the electromagnetic field (204, 254) and a probe beam (206, 252) upon an electro-crystal (202, 256) and detecting the modulation of the resulting probe beam (212, 262). Detection of the modulation of the probe beam (212, 262) is practiced by detecting and comparing the polarization components (216, 218, 266, 268) of the modulated probe beam (212, 262). Aspects of the invention may be used to analyze or detect explosives, explosive related compounds, and pharmaceuticals, among other substances. A compact apparatus (10), modular optical devices (20, 25, 60, 70) for use with the apparatus, sample holders (400, 402, 500), and radiation source mounts (600, 650, 700) are also disclosed.

Abstract translation: 提供了用于检测电磁场特别是太赫兹（THz）电磁场的变化的方法和装置（10,20,25,60,70）。 所述方法和装置使用偏振检测装置（120）和控制器（224）来根据需要维持或改变调制信号（212,262）的极化。 提供的方法和装置通过将电磁场（204,254）和探针光束（206,252）引导到电晶体（202,256）上并检测所得到的探针光束（212）的调制来表征电磁场 ，262）。 通过检测和比较调制探测光束（212,262）的偏振分量（216,218,266,268）来实现探测光束（212,262）的调制的检测。 本发明的方面可用于分析或检测爆炸物，爆炸性相关化合物和药物等物质。 还公开了一种紧凑装置（10），用于与装置一起使用的模块化光学装置（20,25,60,70），样品保持器（400,402,500）和辐射源安装件（600,650,700）。

公开(公告)号：WO2008115417A1

公开(公告)日：2008-09-25

申请号：PCT/US2008/003396

申请日：2008-03-14

Applicant: J.A. WOOLLAM CO., INC.

IPC: G01J4/00

CPC classification number: G01J3/10 ,  G01J3/447 ,  G01J4/00 ,  G01N21/211 ,  G01N2021/213

Abstract: An ellipsometer or polarimeter system and method for controlling intensity of an electromagnetic beam over a spectrum of wavelengths by applying control (P2) and beam (P) polarizers, optionally in combination with an intervening and control compensator (C).

Abstract translation: 一种用于通过施加控制（P2）和光束（P）偏振器，可选地与中间和控制补偿器（C）组合来控制波长范围上的电磁束的强度的椭圆计或偏振计系统和方法。

公开(公告)号：WO2008019729A1

公开(公告)日：2008-02-21

申请号：PCT/EP2007/005720

申请日：2007-06-28

Applicant: RHEINISCH-WESTFÄLISCH TECHNISCHE HOCHSCHULE AACHEN ,  MAHLMANN, Daniel, Martin

Inventor： MAHLMANN, Daniel, Martin

IPC: G02B21/14 ,  G02B21/00

CPC classification number: G02B21/0056 ,  G01B9/0201 ,  G01B9/02011 ,  G01B9/02024 ,  G01B2290/70 ,  G01J4/00 ,  G01J9/02 ,  G02B21/14

Abstract: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop zur Durchlichtuntersuchung von Objekten mit einem Strahlengang zwischen einer Beleuchtungsvorrichtung und einer Vorrichtung zur Betrachtung/Erfassung eines Objektbildes, insbesondere einer Kamera, bei dem im Strahlengang ein Interferometer angeordnet ist, welches Mittel zur Veränderung der Polarisation (4) und davon unabhängige Mittel zur Veränderung der relativen Phase (6) in wenigstens einem der Teilstrahlen (II) des Interferometers aufweist. Die Erfindung betrifft weiterhin ein Verfahren zur Durchlichtmikroskopie von Objekten (8, 9), bei dem der Strahlengang zwischen einer Beleuchtungsvorrichtung (1 ) und einer Vorrichtung (15) zur Betrachtung/Erfassung eines Objektbildes durch ein Interferometer (II, III) führt, wobei wenigstens ein Abbild eines Objektes (8, 9), insbesondere eine Serie von Abbildern mittels einer Kamera (15) aufgenommen wird, insbesondere in Abhängigkeit von einer Lage der Polarisation und/oder der Phase des Lichtes in wenigstens einem der Teilstrahlen (II, III) des Interferometers.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于具有照明装置和一个对象图像的观看/记录装置之间的光束路径中的物体的透射光检查的显微镜，特别是照相机，干涉仪被设置在在光路中，包括用于改变偏振（4）和独立的其 具有用于在干涉仪的部分光束（II）中的至少一个不同的相对相位（6）的装置。 本发明还涉及一种用于物体的透射光显微镜（8,9），其特征在于，照明装置之间的光路（1）和一个装置（15），用于通过干涉仪观看/对象图像的记录（II，III），其特征在于，至少在 一个对象的图像（8,9），特别是通过一个照相机（15）的一系列图像被接收，尤其是在依赖于偏振和/或光的部分光束中的至少一个的相位的位置（II，III）的 干涉。

公开(公告)号：WO2006047653A2

公开(公告)日：2006-05-04

申请号：PCT/US2005038689

申请日：2005-10-25

Applicant: SAHA PAMELA

Inventor： SAHA PAMELA

IPC: G01B11/16 ,  G01J4/00

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01B11/18 ,  G01J3/0291 ,  G01N21/21

Abstract: A variety of toy polariscopes are simpler in design and less costly than precision instruments used in scientific research and stress analysis of materials and structures. The toy polariscopes are designed for a variety of objects that may exhibit photoelastic properties such as glass, plastic, Plexiglas, gel candle material and other gels, and even edible photoelastic objects. They are specially designed for objects of various sizes with a variety of purposes such as objects to enhance learning in a variety of conditions and experiences. Special objects are designed to go with the toy polariscopes such as edible and inedible photoelastic objects, photoelastic candle material, a variety of photoelastic/ photoplastic stands capable of a variety of displays in interaction with other designed photoelastic objects capable of a variety of interaction and displays. Other optical phenomena may also be observed.

Abstract translation: 各种玩具偏光镜的设计简单，成本低于精密仪器，用于材料和结构的科学研究和应力分析。 玩具偏光镜设计用于可能呈现光弹性的各种物体，如玻璃，塑料，有机玻璃，凝胶蜡烛材料和其他凝胶，甚至可食用的光弹性物体。 它们是专为各种尺寸的物体设计的，具有各种目的，例如增强各种条件和体验中的学习的物体。 特殊物体被设计成与玩具偏光镜一起使用，例如可食用和不可食用的光弹性物体，光弹性蜡烛材料，能够与其他可以进行各种相互作用和显示的设计的光弹体相互作用的各种显示器的各种光弹性/ 。 还可以观察到其他光学现象。

公开(公告)号：WO2005078778A1

公开(公告)日：2005-08-25

申请号：PCT/JP2005/000744

申请日：2005-01-21

Applicant: 株式会社ニコン ,  廣田 弘之 ,  水野 恭志

Inventor： 廣田 弘之 ,  水野 恭志

IPC: H01L21/027

CPC classification number: G03F7/70566 ,  G01J4/00 ,  G02B5/001 ,  G03F7/70058

Abstract: 　光源部１からの光で被照射面Ｍを照明する照明光学装置において、前記光源部１と前記被照射面Ｍとの間の光路を進行する光束の偏光状態を検出するための偏光状態検出手段５０を備え、前記偏光状態検出手段５０は、錐体形状または錐体の一部の形状を有する光学面を備える光学素子と、前記光学素子を介した光の強度を検出する光強度検出器とを備える。

Abstract translation: 1.一种照明用于照射来自光源（1）的光的表面（M）的照明光学装置，其中，用于检测沿着光源（1）的光路前进的光束的偏光状态的偏振状态检测装置（50） 提供光源（1）和被照射的表面（M），并且偏振状态检测装置（50）包括设置有具有棱锥形状或部分金字塔形状的光学表面的光学元件，以及 光强检测器，用于检测经由光学元件行进的光的强度。

公开(公告)号：WO2004042967A3

公开(公告)日：2004-07-08

申请号：PCT/GB0304747

申请日：2003-11-03

Applicant: BOOKHAM TECHNOLOGY PLC ,  GIBSON MATTHEW

Inventor： GIBSON MATTHEW

IPC: G01J4/00 ,  H04B10/61 ,  H04B10/155

CPC classification number: H04B10/61 ,  G01J4/00

Abstract: An Optical communications apparatus, comprising: (a) an optical integrated device comprising an input, one or more integrated optical component(s) and an output, arranged such that light received by the input is propagated by the optical component(s) and exits the device as an output light beam; (b) a light beam diverter arranged to divert a sample portion only of the power of the output light beam; (c) a light detector arranged to detect the sample portion of the output light beam; and (d) a polariser located between the light beam diverter and the light detector and/or between the output of the optical integrated device and the light beam diverter, the polariser being arranged such that if light of a predetermined polarisation is received by the optical integrated device, the polariser propagates light of that polarisation only, thereby substantially to prevent light other than of the predetermined polarisation being detected by the light detector.

Abstract translation: 一种光通信设备，包括：（a）光集成装置，包括输入端，一个或多个集成光
部件和输出端，布置成使得由输入端接收的光由光部件传播并退出 该设备作为输出光束; （b）光束分流器，其被设置为仅转移输出光束的功率的样本部分; （c）光检测器，用于检测输出光束的样本部分; （d）位于光束分流器和光检测器之间和/或位于光学集成装置的输出端和光束分流器之间的偏振器，偏振器被布置成使得如果预定偏振的光被光学接收器 偏振器只传播该偏振光，从而基本上防止光检测器检测到预定偏振以外的光。

公开(公告)号：WO2003021822A1

公开(公告)日：2003-03-13

申请号：PCT/JP2001/007568

申请日：2001-08-31

Applicant: FUJITSU LIMITED ,  RASMUSSEN, Jens, C. ,  ISHIKAWA, George ,  TERAHARA, Takafumi ,  OOI, Hiroki

Inventor： RASMUSSEN, Jens, C. ,  ISHIKAWA, George ,  TERAHARA, Takafumi ,  OOI, Hiroki

IPC: H04B10/18

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  H04B10/2569

Abstract: The degree of polarization of an optical signal is measured by a polarimeter and used for providing a feedback signal to adjust adaptive optics of a polarization mode dispersion compensator. The polarization properties of the polarimeter are determined with high accuracy to match the polarimeter through calibration and used to produce the feedback signal.

Abstract translation: 光信号的偏振度由偏振计测量，用于提供反馈信号以调整偏振模色散补偿器的自适应光学元件。 以高精度确定偏光仪的偏振特性，以通过校准匹配偏光计，并用于产生反馈信号。

公开(公告)号：WO01042750A1

公开(公告)日：2001-06-14

申请号：PCT/US2000/032652

申请日：2000-12-01

IPC: G01J4/00 ,  G01N21/23 ,  G01N21/53 ,  G01N21/55 ,  G01N21/84

CPC classification number: G01N21/534 ,  G01J4/00 ,  G01N21/23

Abstract: An apparatus for making automated measurements of an optical property of a sample includes a first stage (36) which is movable along a predetermined line, a second stage (50) for holding the sample, as a third stage which is movable along a predetermined line, correspondingly to the motion of the first stage. A light source (18) is mounted on the first stage, and a light detector is mounted on the third stage. The second stage rotates the sample to a selected rotary position. The apparatus also includes a controller for coordinating movement of the first, second, and third stages such that the light source, the sample, and the light detector are optically aligned.

Abstract translation: 用于对样品进行自动测量的装置包括可沿预定线移动的第一级（36），用于保持样品的第二级（50），作为可沿着预定线移动的第三级 ，对应于第一阶段的运动。 光源（18）安装在第一平台上，光检测器安装在第三平台上。 第二阶段将样品旋转到选定的旋转位置。 该装置还包括用于协调第一，第二和第三级的运动的控制器，使得光源，样品和光检测器被光学对准。

公开(公告)号：WO00068656A1

公开(公告)日：2000-11-16

申请号：PCT/US2000/012008

申请日：2000-05-03

IPC: G01B11/06 ,  G01J3/447 ,  G01J4/00 ,  G01J4/04 ,  G01N21/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/27 ,  G01N21/41 ,  G01N21/47 ,  H01L21/66

CPC classification number: G01N21/211 ,  G01B11/065 ,  G01J4/00

Abstract: The surface of a doped semiconductor wafer (12) is heated locally by means (14) of a pump beam whose intensity is modulated at a first frequency (18). The heated area (12a) is sampled by a probe beam (42) whose intensity is modulated at a second frequency (46). After the probe beam (42) has been modulated (reflected or transmitted) at the first frequency by the wafer (12), the modulated probe beam (50) is detected at a frequency equal to the difference between the harmonics of the first and second frequencies to determine dose of the dopants in the wafer (12). Such or similar type of instrument for measuring dose may be combined with an ellipsometer (100), reflectometer or polarimeter for measuring dose as well as thickness(es) and/or indices of refraction in a combined instrument for measuring the same sample (12).

Abstract translation: 掺杂半导体晶片（12）的表面由其强度以第一频率（18）调制的泵浦光束的装置（14）局部加热。 加热区域（12a）由其强度以第二频率（46）调制的探测光束（42）进行采样。 在晶片（12）已经以第一频率调制（反射或传输）探测光束（42）之后，以等于第一和第二像素的谐波之间的差异的频率来检测调制探测光束（50） 以确定晶片（12）中掺杂剂的剂量的频率。 用于测量剂量的这种或类似类型的仪器可以与用于测量相同样品（12）的组合仪器中的用于测量剂量以及厚度和/或折射率的椭偏仪（100），反射计或偏振计组合， 。

公开(公告)号：WO99037980A1

公开(公告)日：1999-07-29

申请号：PCT/US1999/001350

申请日：1999-01-22

IPC: G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/49 ,  G01N33/48

CPC classification number: G01J4/00 ,  G01N21/21 ,  G01N21/49

Abstract: A video imaging device includes a light source (2), a detector (36), and an optical polarization system (6, 38) for video imaging of superfical biological tissue layers (26, 32). The device relies on taking a set of measurements at different polarization orientations so as to render a new image that is independent of the light (22) reflected from the surface (12) of a tissue sample (14) and that is independent of the light (34) scattered from deep tissue layers (32).

Abstract translation: 视频成像装置包括光源（2），检测器（36）和用于超微生物组织层（26,32）的视频成像的光学偏振系统（6,38）。 该装置依赖于以不同的偏振方向进行一组测量，以便渲染独立于从组织样本（14）的表面（12）反射并且独立于光的光（22）的新图像 （34）从深层组织层（32）散射。