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公开(公告)号：CN108534899A
公开(公告)日：2018-09-14
申请号：CN201810139970.8
申请日：2018-02-09
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447
Abstract: 一种同时偏振光谱成像探测系统，包括成像光谱仪和设于所述成像光谱仪的中间像面处的偏振阵列器；所述偏振阵列器包括在同一基底平面上呈阵列排列的多个偏振单元。上述同时偏振光谱成像探测系统，目标光束入射至成像光谱仪后，经过成像光谱仪的前置光学系统，再经过偏振阵列器，再入射至成像光谱仪的后置光学系统，可以得到偏振光谱图像。同时偏振光谱成像探测系统，可以同时获取被测目标的偏振、光谱、空间等多元信息，有效提高复杂背景中的目标辨识度，且结构简单紧凑，成本较低。
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公开(公告)号：CN108267226A
公开(公告)日：2018-07-10
申请号：CN201810140043.8
申请日：2018-02-09
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 一种同时偏振成像探测系统，包括沿光路依次设置的物镜、偏振阵列器、中继透镜和焦平面阵列，所述偏振阵列器设于所述物镜的成像像面处，所述偏振阵列器经过所述中继透镜成像于所述焦平面阵列处，所述偏振阵列器与所述焦平面阵列共轭成像；所述偏振阵列器包括在同一基底平面上呈阵列排列的多个偏振单元。上述同时偏振成像探测系统可对运动目标进行偏振成像，具有较强的适应性，结构轻小紧凑。
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公开(公告)号：CN108225562A
公开(公告)日：2018-06-29
申请号：CN201711317348.3
申请日：2017-12-12
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
CPC classification number: G01J3/0256 , G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0237 , G01J3/28 , G01J3/447 , G01J3/45 , G01J3/4531 , G01J3/2823 , G01J2003/1291 , G01N21/23
Abstract: 本发明涉及傅里叶变换光谱仪和用于运行傅里叶变换光谱仪的方法。本发明涉及一种具有偏振镜单元（210）的傅里叶变换光谱仪（200），所述傅里叶变换光谱仪由至少两个进行双折射的晶体、一个用于探测光线的探测单元（202）和一个布置在偏振镜单元（210）与探测单元（202）之间的透镜单元（204）构成，所述透镜单元由至少一个用于使光线转向到探测单元（202）上的透镜元件（206）构成。在此，透镜单元（204）具有能借助于透镜元件（206）改变的焦距，以便可以使傅里叶变换光谱仪（200）在不同的运行模式之间转接。
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公开(公告)号：CN106840394A
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201611245112.9
申请日：2016-12-29
Applicant: 中国科学院光电研究院
CPC classification number: G01J3/04 , G01J3/0224 , G01J3/2823 , G01J3/447 , G01J2003/045
Abstract: 本发明公开了一种用于成像光谱仪的偏振多狭缝结构，包括：基底，所述基底上通过激光刻蚀工艺从上到下依次刻蚀有三条狭缝，狭缝的尺寸以及狭缝之间的间距均相等，在三条狭缝结构处通过镀膜工艺实现偏振功能，从上到下，狭缝分别对应0°、45°、90°三个偏振态。该偏振多狭缝结构具有高精度、高平行度、高稳定性以及高可靠性的优点。
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公开(公告)号：CN103900693A
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201410150852.9
申请日：2014-04-15
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/447
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/0224 , G01J3/0256 , G01J3/2823 , G01J3/453 , G01J3/4531
Abstract: 一种差分快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域；该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上，增加了偏振分光器，将传统单光路结构改变为平衡臂和非平衡臂的双光路结构；该成像方法，利用平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103822714A
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201410053286.X
申请日：2014-02-18
Applicant: 哈尔滨工业大学
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/0208 , G01J3/2823 , G01J3/453
Abstract: 一种基于偏振分光器的高空间分辨率快照式成像光谱仪与成像方法属于快照式成像光谱技术领域；该光谱仪在传统成像光谱仪的基础上，在准直镜和微透镜阵列之间设置有偏振分光器一，增加了成像臂光路；在光谱臂光路上，通过设置偏振分光器二，将传统单光路结构改变为平衡光谱臂和非平衡光谱臂的双光路结构；该成像方法，利用平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号减去非平衡光谱臂光电探测器及信号处理部件得到的干涉信号，再经过去直流、切趾、相位校正和傅里叶变换处理，得到目标的图像和光谱信息；本发明不仅可以快速地捕捉运动目标的图像和光谱信息，而且可以大幅提高系统的空间分辨率和信噪比，有利于在精细测量领域中应用。
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公开(公告)号：CN103238048A
公开(公告)日：2013-08-07
申请号：CN201180058099.5
申请日：2011-11-30
Applicant: 威廉马什赖斯大学
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/02 , G01J3/0224 , G01J3/2823 , G01J4/04
Abstract: 基于影像测绘的旋光分光成像技术。一种用于样品成像的方法。该方法包括，在单次探测事件中，从样品上的采样点接受该点对应的包含偏振编码的电磁场，并按照各个对应的预先设定好的方向将这些电磁场重定向色散成像仪上。该方法还包括：将这些包含偏振编码的电磁场进行谱域分散，获得对应的光谱，并将这些光谱在探测器上重新成像，最后使用探测器对这些光谱进行检测。
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公开(公告)号：CN101681033B
公开(公告)日：2011-10-05
申请号：CN200880018332.5
申请日：2008-05-21
Applicant: 株式会社尼康
Inventor： 胜沼淳
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0224 , G01J3/0229 , G01J3/32 , G01J3/447 , G01J2003/1213 , G01J2003/1282 , G01J2003/1286 , G02B27/0018 , G02B27/283 , G02F1/13 , G02F1/13363 , G02F1/29 , G02F2001/3528 , G02F2203/055 , G02F2203/06
Abstract: 本发明提供一种可调谐滤光器，其具备：偏振光分支元件，其将输入光分支为具有相互正交的振动方向的2个直线偏振光；波长色散型分光元件，其将由偏振光分支元件分支了的2个直线偏振光与2个直线偏振光对应地分支为就一个方向而言在空间上具有展宽的2个光谱像；反射型空间调制元件，其对于2个光谱像相互独立地将各波段的直线偏振光调制而反射，通过将由反射型空间调制元件反射的调制光再输入波长色散型分光元件及偏振光分支元件，分支地输出调制光中的由反射型空间调制元件调制了的波段的输出光和未被调制的波段的输出光，朝向偏振光分支元件的输入光及再输入光、以及朝向波长色散型分光元件的输入光及再输入光为平行光束。
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公开(公告)号：CN101487738B
公开(公告)日：2011-03-30
申请号：CN200910001104.3
申请日：2009-01-22
Applicant: 北京高光科技有限公司 , 通用光讯光电技术(北京)有限公司
Inventor： 姚晓天
CPC classification number: G01J3/447 , G01J3/1895
Abstract: 本发明涉及基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置，属于光谱分析技术领域，该方法包括：使被测光进入DGD装置，产生在相互垂直的偏振模式有不同差分群时延的输出光；测量输出光与DGD值相对应的光偏振态和偏振度；对测得的输出光偏振态和偏振度处理，生成被测光的光谱。该装置包括：一个DGD装置，通过改变DGD值，接收被测光并产生不同的群时延；一个光探测器，接收经过DGD装置的光信号，同时去测量输出光的偏振态和偏振度；一个数据处理装置，通过处理来自探测器的光偏振态和偏振度信息，获得被测光的光谱。本发明可以实现很快的测量速率，用来测量与时间函数有关的快速扫描激光。可以通过控制差分群时延值，获得最小频率间隔，提高光谱分辨率。
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公开(公告)号：CN1841030A
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200610068280.5
申请日：2006-03-27
Applicant: 欧姆龙株式会社 , 国立大学法人北海道大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明提供一种分光偏振测定法。在该沟槽分光偏振测定法中，有效消除了表示试样分光偏振特性的参数的测量误差，该误差是由于延迟器基于试样状态的各种延迟变化而引起的。关注的焦点是通过稳定透射过延迟器的光的入射方向可保持延迟器的延迟恒定；相对于该试样，该延迟器设置在光源这一侧，从而可有效消除与测量误差相关的影响，例如由于试样引起的光线方向变化。
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