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    自動分析装置及び自動分析方法
    171.
    发明申请
    自動分析装置及び自動分析方法 审中-公开
    自动分析装置及自动分析方法

    公开(公告)号：WO2014013823A1

    公开(公告)日：2014-01-23

    申请号：PCT/JP2013/066483

    申请日：2013-06-14

    Applicant: 株式会社日立ハイテクノロジーズ

    Inventor： 足立　作一郎 ,  山崎　創 ,  飯島　昌彦

    IPC: G01N21/83 ,  G01N21/49 ,  G01N21/77

    CPC classification number: G01N21/49 ,  G01N15/1434 ,  G01N21/253 ,  G01N21/272 ,  G01N21/31 ,  G01N21/51 ,  G01N21/82 ,  G01N35/025 ,  G01N2021/4711 ,  G01N2021/825 ,  G01N2035/00396 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/062 ,  Y10T436/11

    Abstract: 　散乱光測定法による定量結果に対する異物反応の影響の有無を判定可能とする。自動分析装置として、光を反応液に照射する光源と、反応液から発生した散乱光をそれぞれ異なる受光角度で受光する複数の受光器と、いずれか一つの受光器において測定された反応過程データを処理し、反応液内の物質濃度を定量する第１のデータ処理部と、複数の受光器で測定された複数の反応過程データについてそれぞれ算出された複数の演算値の比に基づいて、物質濃度の定量が正常に行われたものか否かを判定する第２のデータ処理部とを有するものを提案する。

    Abstract translation: 本发明能够通过散射光测量方法来确定异物反应对定量确定结果是否有影响。 本发明提出了一种自动分析装置，其具有：用于用光照射反应液的光源; 多个光接收器，用于接收以不同光接收角度从反应液体产生的散射光; 第一数据处理单元，用于处理通过一个光接收器测量的反应过程数据，并用于确定反应液体内的物质浓度; 以及第二数据处理单元，用于基于根据通过每个光接收器测量的反应过程数据计算的多个计算值的比率来确定物质浓度的测量是否正常进行。

    GEMSTONE REGISTRATION SYSTEM
    173.
    发明申请
    GEMSTONE REGISTRATION SYSTEM 审中-公开
    GEMSTONE注册系统

    公开(公告)号：WO2013006677A1

    公开(公告)日：2013-01-10

    申请号：PCT/US2012/045509

    申请日：2012-07-05

    Applicant: GEMOLOGICAL APPRAISAL ASSOCIATION, INC. ,  PALMIERI, Angelo, W. ,  PALMIERI, Donald, A.

    Inventor： PALMIERI, Angelo, W. ,  PALMIERI, Donald, A.

    IPC: G01N21/87

    CPC classification number: G01N21/87 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/0633

    Abstract: A device for producing a reproducible identification pattern of a polished gemstone includes light directing means for directing a focused beam of light onto a gemstone orientated in a particular known manner to produce an output of the internal refraction and reflection characteristics of the gemstone including reflected light beams having particular locations, sizes and intensities. The device also includes automated means for changing a position of the gemstone relative to the focused beam of light; and also a means for recording the output in a manner to record the relative size and location of the reflected light beams.

    Abstract translation: 用于产生抛光宝石的可再现识别图案的装置包括用于将聚焦光束引导到以特定已知方式定向的宝石的光引导装置，以产生包括反射光束的宝石的内部折射和反射特性的输出 具有特定的位置，大小和强度。 该装置还包括用于改变宝石相对于聚焦光束的位置的自动装置; 以及用于以记录反射光束的相对大小和位置的方式记录输出的装置。

    INSPECTION SYSTEM
    174.
    发明申请
    INSPECTION SYSTEM 审中-公开
    检查系统

    公开(公告)号：WO2011153133A1

    公开(公告)日：2011-12-08

    申请号：PCT/US2011/038534

    申请日：2011-05-31

    Applicant: ACKLEY MACHINE CORPORATION ,  ACKLEY, E., Michael ,  FORD, Mark

    Inventor： ACKLEY, E., Michael ,  FORD, Mark

    IPC: G01N21/00 ,  H04N7/18

    CPC classification number: B07C5/3422 ,  B07C5/34 ,  B07C5/3412 ,  B07C5/362 ,  B07C5/363 ,  G01N21/85 ,  G01N21/8806 ,  G01N21/8851 ,  G01N2021/845 ,  G01N2021/8592 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/062 ,  G01N2201/0621 ,  Y10T29/49826

    Abstract: An inspection system is configured for use with a conveyer apparatus including carrier bars. Each carrier bar conveys pellet-shaped articles along a predetermined path. The inspection system includes at least one camera unit for sensing a predetermined characteristic of the pellet-shaped articles, a removal unit, and a controller. The removal unit, downstream from the at least one camera unit, removes selected pellet-shaped article(s) from the carrier bar(s) depending on whether the characteristic is sensed by the at least one camera unit. The controller is in communication with the at least one camera unit and the removal unit. The controller provides a signal to the removal unit in accordance with the sensed characteristic. The removal unit includes a rotatable ejection drum having extended vacuum nozzles along its length, equal to the number of articles conveyed in each earner bar. Each vacuum nozzle selectively removes article(s) from the earner bar(s) by suction.

    Abstract translation: 检查系统构造成与包括承载杆的输送装置一起使用。 每个承载杆沿预定路径传送颗粒状物品。 检查系统包括用于感测颗粒状物品的预定特征的至少一个照相机单元，去除单元和控制器。 去除单元，从至少一个照相机单元的下游，取决于该特性是否被至少一个照相机单元感测到，从载体棒移除所选的颗粒状物品。 控制器与至少一个相机单元和拆卸单元通信。 控制器根据感测到的特性向去除单元提供信号。 去除单元包括可旋转的排出滚筒，其具有沿着其长度延伸的真空喷嘴，其等于在每个收纳杆中输送的物品的数量。 每个真空喷嘴通过抽吸选择性地从收纳杆去除物品。

    OPTICAL METROLOGY WITH PURGED REFERENCE CHIP
    177.
    发明申请
    OPTICAL METROLOGY WITH PURGED REFERENCE CHIP 审中-公开
    具有参考芯片的光学计量

    公开(公告)号：WO2016018831A2

    公开(公告)日：2016-02-04

    申请号：PCT/US2015042308

    申请日：2015-07-27

    Applicant: NANOMETRICS INC

    Inventor： KLASSEN ANDREW S ,  HAZELTON ANDREW J ,  BARADA ANDREW H ,  PETIT TODD M ,  TU CHUAN SHENG

    IPC: G01N21/15

    CPC classification number: G01N21/4785 ,  G01N21/01 ,  G01N21/15 ,  G01N2021/151 ,  G01N2201/02 ,  G01N2201/068 ,  G03F7/70933

    Abstract: An integrated metrology module includes a chuck for holding a sample and positioning the sample with respect to an optical metrology device, a reference chip for the optical metrology device, the reference chip being movable to various positions with respect to the optical metrology device, and a reference chip purge device provides a flow of purge gas or air over the reference chip while the reference chip is in the various positions. The reference chip purge device may be static or movable with the reference chip.

    Abstract translation: 综合测量模块包括用于保持样品并相对于光学测量装置定位样品的卡盘，用于光学测量装置的参考芯片，参考芯片可移动到相对于光学测量装置的各个位置，以及 参考芯片清洗装置在参考芯片处于各种位置时提供吹扫气体或空气流过参考芯片。 参考芯片清洗装置可以是参考芯片的静态或可移动的。

    基板の検査装置及び基板の検査方法
    178.
    发明申请
    基板の検査装置及び基板の検査方法 审中-公开
    基板检查装置和基板检查方法

    公开(公告)号：WO2016009920A1

    公开(公告)日：2016-01-21

    申请号：PCT/JP2015/069668

    申请日：2015-07-08

    Applicant: 住友化学株式会社

    Inventor： 藤倉　序章

    IPC: G01N21/956 ,  H01L21/66

    CPC classification number: G01N21/9501 ,  G01N21/94 ,  G01N21/956 ,  G01N2201/02 ,  G01N2223/634 ,  G06T7/0004 ,  G06T2207/30148

    Abstract: 　基板の被検査面上に光を照射する光照射部と、被検査面上に映る光照射部の画像を取得する撮像部と、基板又は光照射部の位置を制御することで、被検査面上に映る光照射部の画像を移動させる移動部と、光照射部から照射された光が被検査面の欠陥部分で散乱することで形成された像であって光照射部の画像の輪郭線よりも外側に形成された像を検出することで、被検査面の検査を行う検査部と、を備える。

    Abstract translation: 本发明提供了一种用于将光照射到基板的检查对象表面上的光照射单元，用于捕获在检查对象表面上反射的光照射单元的图像的成像单元，用于移动的移动单元 通过控制基板或光照射单元的位置，检查对象表面上反射的光照射单元的图像，以及检查对象表面的检查单元， 通过由检查对象表面的缺陷部分散射从光照射单元照射的光的照射单元的图像。

    光学探头
    179.
    发明申请
    光学探头 审中-公开

    公开(公告)号：WO2015096774A1

    公开(公告)日：2015-07-02

    申请号：PCT/CN2014/094954

    申请日：2014-12-25

    Applicant: 同方威视技术股份有限公司

    Inventor： 赵自然 ,  张建红 ,  王红球 ,  林东 ,  张士新 ,  胡斌 ,  易裕民

    IPC: G01N21/01 ,  G01N21/63

    CPC classification number: G02B7/04 ,  G01N21/01 ,  G01N21/63 ,  G01N2201/02 ,  G02B7/022 ,  G02B7/32

    Abstract: 一种光学探头，包括：第一套筒（3），在第一套筒中容纳有透镜（5），第一套筒具有供检测光射入的通光孔（31）；第二套筒（1），第二套筒（1）与第一套筒（3）以可移动方式套接，其中第二套筒设有检测窗（12），供穿过第一套筒并经透镜聚焦的检测光从光学探头射出，第二套筒能够相对于第一套筒从第一检测位置移动至第二检测位置或从第二检测位置移动至第一检测位置；和定位部件（2），所述定位部件用于将第二套筒相对于第一套筒定位于第一检测位置或第二检测位置。上述结构能够通过第一套筒和第二套筒的快捷的移动和定位来实现透镜焦点到检测窗距离的切换，从而提高光学探头对待测物的检测效率和适应范围。

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