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公开(公告)号：CN118190157A
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN202410452569.5
申请日：2020-01-27
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 本发明提供光检测装置、光检测系统及滤波器阵列。光检测装置具备：滤波器阵列，包括配置在二维平面内的多个滤波器；以及图像传感器，配置在接受透射了滤波器阵列的光的位置，多个滤波器包括第1滤波器、以及透射光谱与第1滤波器不同的第2滤波器，第1及第2滤波器分别包括第1反射层、第2反射层以及该两个反射层之间的中间层，第1反射层包括：第1折射率层；第2折射率层，具有比第1折射率层高的折射率，并且与第1折射率层相邻；第3折射率层；以及第4折射率层，具有比第3折射率层高的折射率，并且与第3折射率层相邻，第1及第2折射率层分别具有第1光学长度，第3及第4折射率层分别具有与第1光学长度不同的第2光学长度。
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公开(公告)号：CN113302464B
公开(公告)日：2024-06-14
申请号：CN201980089437.8
申请日：2019-11-12
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Abstract: 本发明提供一种干涉仪装置（1），该干涉仪装置包括：第一镜装置（SP1）和第二镜装置（SP2），所述第一镜装置和所述第二镜装置以第一间距（d12）彼此被隔开，其中所述第一镜装置（SP1）和/或所述第二镜装置（SP2）是能运动的，使得所述间距（d12）是可变的；基板（2），其中所述第一镜装置（SP1）和所述第二镜装置（SP2）叠置地布置在所述基板（2）的光学区域（OB）中，并且其中所述光学区域（OB）包括用于被所述第一镜装置（SP1）和所述第二镜装置（SP2）允许透过的电磁辐射（L）的第一辐射区域（AB1）和第二辐射区域（AB2），所述第一辐射区域和所述第二辐射区域侧向地并排延伸；滤波装置（F），该滤波装置布置在所述第二辐射区域（AB2）的光路中并且借助于该滤波装置能够确定用于所述电磁辐射（L）的波长的、依赖于第一间距（d12）的透过特征；以及探测器装置（3），该探测器装置具有布置在所述第一辐射区域（AB1）的光路中的第一探测器区域（D1）和布置在所述第二辐射区域（AB2）的光路中的第二探测器区域（D2），其中所述探测器装置（3）被设立用于在所述第一探测器区域（D1）中探测来自所述第一和第二镜装置（SP1、SP2）的第一电磁辐射并且在所述第二探测器区域（D2）中探测来自所述滤波装置（F）的第二电磁辐射（St2）。
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公开(公告)号：CN118168657A
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN202410150339.3
申请日：2024-02-02
Applicant: 上海昊量光电设备有限公司
Abstract: 本发明提供的反射光谱测量用光路系统涉及光谱测量领域，包括第一透镜和置于第一透镜两侧的光源和反射镜，反射镜相对于第一透镜倾斜设置，光源发射的光束穿过第一透镜并照于反射镜的反射区域内，样品待检测部位用于置于反射镜反射的光束的照射范围内，反射镜的反射区域设有通孔，通孔与光谱检测装置连接，待检测部位能反射照射至待检测部位的光束，待检测部位反射的至少部分光线能够照射至通孔内，并被光谱检测装置接收，待检测部件反射的、进入至通孔内的所有光线形成采集光束，采集光束与反射镜反射的光束的中心线共线。本发明还提供了反射光谱测量装置。该发明有利于提高光谱数据的准确性；具有较广的应用范围；提高了光源照明能量的利用率。
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公开(公告)号：CN109855736B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201910274309.2
申请日：2019-04-08
Applicant: 智童时刻(厦门)科技有限公司
Inventor： 郭长琛
Abstract: 本发明提供一种消除表面反光的取色笔笔头及其取色笔，由透光取色球和透光球套组成，所述取色球的一半球面上具有第一光栅线组，所述第一光栅线组由构成纬度排列的光栅线组成；所述球套的前面是一个容纳所述取色球的凹面；所述球套的周向上具有滑轨；所述滑轨能够嵌入笔杆的滑槽中；使用本发明的取色笔，只需在取色时候转动或划动取色笔即可随机调整第一光栅组的角度，当取色电路检测到亮斑是，反馈取色未完成明示或暗示；当第一光栅组正巧垂直于亮斑的偏振方向时，取色电路检测到亮斑消失，反馈取色完成明示。
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公开(公告)号：CN109682471B
公开(公告)日：2024-06-11
申请号：CN201910070456.8
申请日：2019-01-25
Applicant: 奥谱天成(厦门)科技有限公司
Abstract: 本发明提供了一种高精多维度光谱仪探测器调节结构，包括壳体、聚焦反射装置、反射装置、光检测装置、光栅、可调固定机构，所述壳体上设有狭缝，所述聚焦反射装置、反射装置、光检测装置、光栅顺时针安装在壳体内，所述狭缝位于光栅和聚焦反射装置之间，所述狭缝朝向反射装置，所述狭缝、反射装置、光栅、聚焦反射装置、光检测装置组成光谱路径，光线可依次通过狭缝、反射装置、光栅、聚焦反射装置的反射射入光检测装置，所述可调固定机构包括总固定块、角度调节装置，所述总固定块上具有固定侧面、安装侧面，总固定块固定侧面通过角度调节装置安装在壳体上，光检测装置安装在总固定块安装侧面上。本发明调节结构具有结构简单，调节方便的优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118149970A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202211558210.3
申请日：2022-12-06
Applicant: 北京与光科技有限公司
Abstract: 本申请提出一种光谱传感器、光谱传感器模组和电子设备。光谱传感器包括光谱芯片和光学组件。光谱芯片包括光调制层和光电探测层，光调制层在光电探测层的感测路径上设置于光电探测层的入光面一侧并包括用于对入射光进行调制的至少一个调制单元。光电探测层被配置为获得经过至少一个调制单元所调制的光信号。光学组件设置于光谱芯片的感测路径上，接收来自被摄目标的光信号并将光信号导引至光谱芯片的光调制层。通过光阑形成照射到光调制层的光斑，其覆盖光调制层的至少一个调制单元。由此改善光谱传感器的光电性能，例如显著提高光谱传感器模组恢复光谱的准确性和稳定性，而且能够实现以优化的光电和机械结构带来制造和组装工艺上的诸多优点。
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公开(公告)号：CN118149969A
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202211557890.7
申请日：2022-12-06
Applicant: 北京与光科技有限公司
Abstract: 本申请提出一种光谱传感器、光谱传感器模组和电子设备。光谱传感器包括光谱芯片和光学组件。光谱芯片包括光调制层和光电探测层，光调制层在光电探测层的感测路径上设置于光电探测层的入光面一侧并包括调制单元。光电探测层被配置为获得经过至少一个调制单元所调制的光信号。光学组件接收来自被摄目标的光信号并将光信号导引至光谱芯片的光调制层。通过光阑形成的光斑分别覆盖光调制层的至少一个调制单元，其是用于获取恢复所述被摄目标的入射光的光信号的光谱信息的最小单元。由此改善光谱传感器的光电性能，例如显著提高光谱传感器模组恢复光谱的准确性和稳定性，而且能够实现以优化的光电和机械结构带来制造和组装工艺上的诸多优点。
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公开(公告)号：CN112179493B
公开(公告)日：2024-06-07
申请号：CN202011072270.5
申请日：2016-05-12
Applicant: 西默有限公司
Inventor： J·J·索内斯
Abstract: 本公开的实施例涉及脉冲光束的光谱特征量测。一种量测系统，包括：光学频率分离装置，其处于脉冲光束的路径中并且被配置为与脉冲光束相互作用并且输出对应于脉冲光束的光谱分量的多个空间分量；接收并感测输出空间分量的多个感测区域；以及连接到每个感测区域的输出的控制系统。控制系统被配置为：针对每个感测区域的输出，测量来自光学频率分离装置针对一个或多个脉冲的所输出的空间分量的属性；分析所测量的属性，包括对所测量的属性进行平均来计算脉冲光束的光谱特征的估计；以及确定脉冲光束的估计光谱特征是否在光谱特征值的可接受范围内。
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公开(公告)号：CN118129908A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410561617.4
申请日：2024-05-08
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 本发明涉及光谱成像技术领域，尤其涉及一种基于偏振光栅分光的偏振成像光谱仪及偏振图谱重建方法，基于偏振光栅分光的偏振成像光谱仪包括望远系统、第一消色差偏振光栅、第二消色差偏振光栅、四通道成像物镜和成像光谱芯片，基于超表面的第一消色差偏振光栅和第二消色差偏振光栅对入射光场进行调制完成偏振态的分光，采用基于超表面的成像光谱芯片的亚波长结构配合多模式空分复用实现多模态光谱调制，使得光谱采样点数增多，有效提升光谱分辨率；提出的偏振图谱重建方法采用光谱编码孔径配合基于神经网络的偏振图谱信息解调技术，有效提升空间分辨率，实现光场光谱信息、图像信息及偏振信息快照式集成高分辨率探测。
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公开(公告)号：CN118129899A
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202410288703.2
申请日：2024-03-13
Applicant: 西安交通大学
IPC: G01J3/02
Abstract: 公开了一种基于三光栅结构的窄带波长过滤光谱仪装置，装置中，第一透镜采集来自测量光对象的光束，第一转90°反射镜组位于第一透镜的光路上且将光束进行像转动90°反射，第二透镜位于第一转90°反射镜的光路上且采集光束，第二转90°反射镜位于第二透镜的光路上且将光束转动90°反射；日字型挡板位于第四透镜的光路上以过滤光束，第二光栅位于第五透镜的光路上且沿其波长光谱合束，狭缝位于第六透镜的光路上以通过光束并过滤展宽光，第三光栅采集来自第七反射镜的光束且沿其波长光谱二次展开，第八透镜位于第三光栅的光路上且聚焦来自第三光栅的光束，ICCD位于第八透镜的光路上以接收光束。
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