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公开(公告)号:CN101617219B
公开(公告)日:2012-11-21
申请号:CN200880005951.0
申请日:2008-02-22
Applicant: 塞莫尼根分析技术有限责任公司
CPC classification number: G01J3/12 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0256 , G01J3/0264 , G01J3/0272 , G01J3/0283 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/0297 , G01J3/2803 , G01J3/36 , G01J3/443 , G01N21/33 , G01N21/67 , G01N21/718 , G01N2201/0221
Abstract: 用于分析样本的成分的手持、自容式、电池供电的测试仪器包括用于激发样本的至少一部分的激发器、用于接收来自样本被激发部分的光信号的交叉色散光谱仪和用于处理关于来自光谱仪的光信号的光谱数据的处理器。激发器可包括火花发生器和反电极、激光或其他用于从样本的一部分生成光信号的设备。光谱仪具有足够宽的波长范围以使测试仪器能够探测并确定碳、磷、硫、锰、硅、铁和其他识别常见合金所必要的元素的相对含量。光谱仪包括由重量轻的材料制成的结构件,这种材料具有小的热膨胀系数(CTE)。光谱仪在期望的环境温度范围内结构稳定,不需要控制光谱仪的温度。
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公开(公告)号:CN102680094A
公开(公告)日:2012-09-19
申请号:CN201210071529.3
申请日:2012-03-16
Applicant: 精工爱普生株式会社
Inventor: 中村纪元
CPC classification number: G02B5/20 , G01J3/0205 , G01J3/0256 , G01J3/0289 , G01J3/28 , G01J3/36 , G01J2003/1226 , H01L27/1462 , H01L27/14623
Abstract: 本发明涉及分光传感器以及角度限制滤光器,所述角度限制滤光器包括:第一遮光层,其包含第一遮光性材料,且设置有第一开口部;第二遮光层,其包含第二遮光性材料,且位于至少部分包围第一遮光层的区域内;第三遮光层,其包含第一遮光性材料,且设置有至少部分与第一开口部重合的第二开口部,并且位于第一遮光层的上方;第四遮光层,其包含第二遮光性材料,并且位于至少部分包围第三遮光层的区域内且第二遮光层的上方。
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公开(公告)号:CN102483353A
公开(公告)日:2012-05-30
申请号:CN201080038886.9
申请日:2010-08-25
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: H.H.P.戈曼斯 , M.P.C.M.克里恩 , H.J.科内利森
CPC classification number: G01J3/36 , G01J1/04 , G01J1/0411 , G01J1/0437 , G01J1/0488 , G01J1/32 , G01J1/4228 , G01J2003/1213 , G01S3/784
Abstract: 本发明描述了一种光传感器(1),其包括:滤波器设置(11),所述滤波器设置(11)包括多个用于对入射光(L)进行滤波的光谱滤波器(F1,F2,…,Fn),其中光谱滤波器(F1,F2,…,Fn)被实现为令入射光(L)的不同分量通过;用于准入入射光(L)的一部分的孔径设置(12);以及被实现来收集所准入的经过滤波的光(L’)的传感器设置(13),所述传感器设置(13)包括用于生成图像相关信号(S,S1,S2,…,Sn)的传感器元件(130)的阵列,所述传感器阵列被细分成多个区段(R1,R2,…,Rn),其中所述传感器阵列的区段(R1,R2,…,Rn)被分配给相应的光谱滤波器(F1,F2,…,Fn),从而使得由特定区段(R1,R2,…,Rn)的传感器元件(130)生成的图像相关信号(S)包括关于由相应的光谱滤波器(F1,F2,…,Fn)通过的光的发源方向和/或光谱构成的信息。本发明还描述了一种光传感器设备(10),其用于确定所述光传感器设备(10)处入射的光(L)的发源方向和/或光谱构成,本发明还涉及一种确定入射光(L)的发源方向和/或光谱构成的方法。
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公开(公告)号:CN102449449A
公开(公告)日:2012-05-09
申请号:CN200980159509.8
申请日:2009-05-29
Applicant: 丰田自动车株式会社
IPC: G01J3/28
CPC classification number: G01J3/0229 , G01J3/02 , G01J3/021 , G01J3/0235 , G01J3/0294 , G01J3/04 , G01J3/32 , G01J3/36
Abstract: 本发明提供一种针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象,能够缩短测定来自各测定部分的光的光谱测定所需的测定时间的光谱测定装置。光谱测定装置具备:具有两条以上的狭缝(12b)的狭缝组(12G);分光器(14),该分光器按照各条狭缝(12b)对由狭缝组(12G)提取出的光进行分光;以及测定器(15),该测定器测定由分光器(14)分光后的各条狭缝(12b)的光的各成分的强度。针对含有两个以上的互不相同的测定部分的测定对象(20),各狭缝(12b)从来自该测定对象(20)的光中提取来自各测定部分的光。
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公开(公告)号:CN102362160A
公开(公告)日:2012-02-22
申请号:CN201080012927.7
申请日:2010-03-11
Applicant: 日本电气株式会社
Inventor: 小熊健史
CPC classification number: H04J14/0221 , G01J3/36 , G01J9/00 , H04B10/07955
Abstract: 一种光信道监测器包括:波长解复用器,用于对输入信号光进行解复用;光电检测器,该光电检测器布置在波长解复用器的解复用侧上,并且接收比信号光的波段更宽的波段中的光;以及计算器,用于根据在所述光电检测器上所接收到的在信号光的波段中的光的光级以及所接收到的在信号光的波段之外的波长的光的光级,借助于线性补全来计算每个波长的信号光的光级。
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公开(公告)号:CN101688808B
公开(公告)日:2012-01-25
申请号:CN200880023561.6
申请日:2008-07-30
Applicant: 日本电信电话株式会社
IPC: G01J3/06
CPC classification number: G01J3/14 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01J3/0237 , G01J3/06 , G01J3/18 , G01J3/36 , G01J2003/064
Abstract: 本发明提供一种响应速度快、体积小的分光计。本发明的一个实施方式的分光计包括:光束偏转器,该光束偏转器包含具有电光效应的电光晶体、以及用于对该电光晶体的内部施加电场的电极对;对来自所述光束偏转器的出射光进行分光的分光装置,和从用该分光装置分离出的出射光中选择任意波长的光的波长选择装置。
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公开(公告)号:CN101589302B
公开(公告)日:2011-04-06
申请号:CN200780000861.8
申请日:2007-03-05
Applicant: RIC投资有限公司
Inventor: 詹姆斯·T·拉塞尔
CPC classification number: G01J3/36 , A61B5/0803 , A61B5/0833 , A61B5/0836 , G01J3/02 , G01J3/0205 , G01N21/314 , G01N21/3504 , G01N21/77 , G01N33/004 , G01N2021/6432 , G01N2021/7786
Abstract: 本发明的气体测量系统(100)包括适于设置在气道接合器(adapter)上的罩(250)和设置在罩内的发光猝灭气体测量组件(236)。该发光猝灭气体测量组件包括设置于第一平面内的源(243),也设置在第一平面内的至少一个检测器(238,239)。在该至少一个检测器上提供滤波器(233)以通过关于发光猝灭的射线波长并基本上阻挡其它波长。在至少一部分源周围设置光遮蔽物(234)。
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公开(公告)号:CN101010574B
公开(公告)日:2010-12-22
申请号:CN200580028717.6
申请日:2005-08-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: W·伦森
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/04 , G01J2003/047 , G01J2003/1278
Abstract: 本发明提供一种用于确定光信号的主分量的振幅的光学分析系统。该主分量表示经历光谱分析的物质的各个化合物中特殊化合物的浓度。该光信号经历波长选择加权。优选借助于空间光操纵装置与色散光学元件相结合来进行光谱加权。本发明的校准机构和方法有效地允许空间光操纵装置的精确定位。校准是基于在空间光操纵装置上的校准段与参考光源和检测器的结合。
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公开(公告)号:CN101903208A
公开(公告)日:2010-12-01
申请号:CN200880121933.9
申请日:2008-10-31
Applicant: 罗伯特·博世有限公司
Inventor: A·帕克
CPC classification number: G01J3/4412 , B60Q1/1423 , B60Q2300/312 , B60Q2300/314 , G01J3/36
Abstract: 本发明涉及一种辐射分析装置,其具有一个第一辐射探测器(15)、一个第二辐射探测器(16)和一个分析装置(17),其中该分析装置(17)设置用于根据该第一辐射探测器(15)的一个第一信号和该第二辐射探测器(16)的一个第二信号来为照明装置(1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11)输出一个分析信号。为了识别雾并根据雾来控制汽车照明装置(1,2,3,4,5,6,7,8,9,10,11),该第一辐射探测器(15)对高频电磁波敏感,而对低频电磁波不敏感。
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公开(公告)号:CN101287976B
公开(公告)日:2010-09-29
申请号:CN200680035794.9
申请日:2006-10-04
Applicant: 佐勒技术公司
Inventor: 詹姆斯·豪厄尔
CPC classification number: G01J3/42 , G01J3/02 , G01J3/0286 , G01J3/0291 , G01J3/108 , G01J3/36 , G01N21/15 , G01N21/274 , G01N21/3504 , G01N21/39 , G01N2021/151 , G01N2021/399
Abstract: 一种用于校准吸收光谱测量的方法,其中校准方法包括投射激光通过包含第一数量待测气体和第二数量光谱相同或类似气体(10)的样本。在特定的第一吸收谱线和第二吸收谱线上分别测量激光的第一光谱吸收和第二光谱吸收。确定第一测量的吸收谱线和第二测量的吸收谱线与两个未知变量之间的函数关系。然后,同时求解该函数关系以确定一个或两个未知变量,从而得到与第一数量待测气体有关的测量,校准第二不相干数量的气体。
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