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公开(公告)号：CN107107122B
公开(公告)日：2019-07-23
申请号：CN201580045277.9
申请日：2015-06-19
Applicant: TSI公司
CPC classification number: G01N21/718 , B07C5/3425 , B07C5/365 , B07C2501/0018 , B07C2501/0036 , G01J3/443
Abstract: 文中描述了一种LIBS测量系统，该LIBS测量系统提供了位于大致V形的斜槽或套管中的孔口、孔或开口，所述孔口、孔或开口允许从所述斜槽的底部接近待分析的材料。激光束穿过所述孔对准，光电探测器组件收集穿过所述孔而返回的光（信号）。在收到启动信号之后，位于所述斜槽的输出端处的分流器设备使某些颗粒从所述斜槽分流。
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公开(公告)号：CN108766881A
公开(公告)日：2018-11-06
申请号：CN201810331134.X
申请日：2018-04-13
Applicant: 东京毅力科创株式会社
IPC: H01L21/3065 , G01R31/26
CPC classification number: H01L22/26 , C23C16/45542 , C23C16/511 , C23C16/52 , G01J3/443 , H01J37/32972 , H01L21/02274 , H01L21/3065 , G01R31/26
Abstract: 本发明的等离子体处理装置和控制方法的目的在于，监视等离子体生成空间中的多个区域各自的等离子体点火的状态。提供一种等离子体处理装置，具有将从微波输出部输出的微波向处理容器的内部辐射的微波辐射机构，其中，所述微波辐射机构具有：天线，其用于辐射微波；电介质构件，其使从所述天线辐射的微波透过，且形成用于通过该微波来生成表面波等离子体的电场；传感器，其设置于所述微波辐射机构或者该微波辐射机构的附近，且监视生成的等离子体的电子温度；以及控制部，其基于由所述传感器监视到的等离子体的电子温度，来判定等离子体点火的状态。
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公开(公告)号：CN107690576A
公开(公告)日：2018-02-13
申请号：CN201680033014.0
申请日：2016-04-07
Applicant: 雷神公司
CPC classification number: G01N21/63 , B64F1/32 , B64F1/368 , B66C1/101 , B66C13/18 , B66C19/002 , G01J3/0291 , G01J3/443 , G01N1/2226 , G01N1/24 , G01N15/1459 , G01N21/25 , G01N21/6404 , G01N21/718 , G01N33/004 , G01N33/0057 , G01N2015/0046 , G01N2021/6406 , G01N2201/06113 , G01V5/0091 , G06Q10/083 , B66C13/16
Abstract: 提供了检测器设备(10)，检测器设备(10)包括可取得气态流体的样品的收集器(20)；以及耦接至收集器(20)并设置成远离收集器(20)的测试器(40)。测试器(40)包括：样品从收集器(20)导入其中的测试室(41)；激发元件43如激光器，用于激发测试室(41)中的样品；和光谱分析装置(44)如光谱仪，其耦接至测试室(41)以分析经激发的样品，优选地产生等离子体或细丝，以获得气态流体中的关注颗粒如同位素分子的浓度超过阈值浓度的证据。阈值浓度根据关注颗粒的类型和样品的停留时间来限定。特别地，所述设备用于在港口(运输集装箱在该处通过起重机系统装载或卸载)或者在检查点处(当集装箱在移动或通过检查点的货车上时)对运输集装箱中的隐藏或屏蔽的特殊核材料(SNM)或走私的核武器进行放射性异常检测。
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公开(公告)号：CN105008878B
公开(公告)日：2017-09-19
申请号：CN201380063826.6
申请日：2013-12-05
Inventor： 雨果·勒米厄 , 塞巴斯蒂安·夏德莱纳 , 大卫·贝利沃-维尔 , 让-弗朗索瓦·格拉韦尔
CPC classification number: G01N21/6486 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/443 , G01J2003/102 , G01N21/6408 , G01N21/6445 , G01N21/645 , G01N21/763 , G01N2021/6419 , G01N2021/6471 , G01N2021/6484 , G01N2201/061
Abstract: 一种探询器件，用于探测样品中分析物产生的发光光线，该样品中的分析物被多种激发光束激发，每一光束具有各自的光谱成分，该探询器件包括多个光源，每个光源产生激发光束；至少一个探测器，用于探测由样品产生的发光光线；以及光学组件，为每个激发光束限定从光源到样品上的共用激发位置的不同的且固定的激发光路并且为发光光线限定从样品上的激发位置到至少一个探测器的共用的发光光路，激发光路径和发光光路在样品的相同侧上，光学组件包括样品侧光学系统，其朝样品投射激发光并收集来自样品的发光光线。
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公开(公告)号：CN103376158B
公开(公告)日：2017-08-11
申请号：CN201310111452.2
申请日：2013-04-01
Applicant: 安捷伦科技有限公司
IPC: G01J3/443
CPC classification number: G01J3/10 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/12 , G01J3/443 , G01J2003/1217
Abstract: 提供了一种包括二向色性光束组合器的光学发射系统。一种光学发射光谱仪系统(100，200)包括光源(101)和二向色性光束组合器(130)。光源在第一方向上发射第一光(115)并且在不同于所述第一方向的第二方向上发射第二光(125)。二向色性光束组合器经由第一光路(110)接收所述第一光并且经由第二光路(120)接收所述第二光，反射一部分所述第一光进入光检测及测量装置(140)的入口孔(145)，并且透射一部分所述第二光进入所述入口孔，使得能够同时分析并且测量第一光和第二光两者的特性。被反射进入所述入口孔的所述第一光的部分主要具有第一波长范围内的波长，并且被透射进入所述入口孔的所述第二光的部分主要具有不同于所述第一波长范围的第二波长范围内的波长。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104422684B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410428721.2
申请日：2014-08-27
Applicant: 赛默电子制造有限公司
CPC classification number: G01J3/0297 , G01J3/28 , G01J3/443
Abstract: 一种用于获得测量的光学发射光谱的一个背景校正部分的方法，该方法包括从该测量的发射光谱的部分中鉴别出两个或多个背景校正点；获得与这些已鉴别的背景校正点拟合的一个背景校正函数，并且将该背景校正函数应用于该测量的发射光谱的部分上以便产生该发射光谱的一个背景校正部分，其中这些背景校正点通过考虑在这些测量数据点之间的梯度而从这些测量数据点中被鉴别出。
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公开(公告)号：CN106461560A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201580026653.X
申请日：2015-05-20
Applicant: 原子能和替代能源委员会 , 皮埃尔-玛丽-居里大学(巴黎第六大学)
CPC classification number: G01N21/718 , G01J3/443 , G01N21/8507 , G01N33/20 , G01N33/206 , G01N21/85
Abstract: 本发明的主体是一种用于使用LIBS技术分析至少一种可氧化的熔融金属(2)的设备(1)，该设备包括LIBS分析装置(3)，其特征在于，该设备还包括用于搅拌所述至少一种可氧化的熔融金属(2)的液池的机械旋转装置(4，5)，机械搅拌装置(4，5)包括：中央部分(4)，用于定位在所述至少一种可氧化的熔融金属(2)的液池上方，并包含形成分析室的内腔(6)，中央部分(4)包括连接到LIBS分析装置(3)的第一端部(4a)；以及多个机械搅拌桨(5)，用于部分地浸没在所述至少一种可氧化的熔融金属(2)的液池中，并连接到中央部分(4)的第二端部(4b)，该第二端部(4b)与中央部分(4)的第一端部(4a)相对，LIBS分析装置(3)配置为允许所述至少一种可氧化的熔融金属(2)位于与中央部分(4)的内腔(6)垂直的部分中的表面(S)被分析。
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公开(公告)号：CN106030289A
公开(公告)日：2016-10-12
申请号：CN201480068347.8
申请日：2014-10-15
Applicant: TSI公司
IPC: G01N21/71
CPC classification number: G01N21/718 , G01J3/0221 , G01J3/0272 , G01J3/0291 , G01J3/18 , G01J3/443 , G01J2003/1861 , G01N2201/0221 , G01N2201/0697
Abstract: 公开了一种管理手持式结构中的LIBS激光器部件和光谱仪的散热问题的新型装置、方法和系统，以及使用包括裸光纤的简化的光信号收集装置收集测试材料附近（或接触测试材料）的发射光。在手持式LIBS装置的一个示例实施例中，使用频率为4 kHz的突发脉冲，产生脉冲之间的时间约250µs，这是现有技术中其他装置中的10倍以上的因数。在相关实施例中，主动调Q OPO激光器模块与使用透射光栅的紧凑型光谱仪模块一起使用，以改进LIBS测量，同时大幅减小手持式分析仪的尺寸。
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公开(公告)号：CN105938103A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201510915185.3
申请日：2015-12-10
Applicant: 馗鼎奈米科技股份有限公司
CPC classification number: G01J3/443 , G01J3/28 , G01J3/2803 , G01N21/84 , G01N27/62
Abstract: 一种等离子放电辉光的光学监控方法，其包含下列步骤。利用侦测器侦测等离子放电辉光，以取得数个光信号。利用感测电路撷取这些光信号，并将这些光信号转换成数个电信号。利用运算单元根据这些电信号来进行计算步骤，以获得对应等离子放电辉光的数个位置的数个光强度。利用影像重建单元根据等离子放电辉光的这些位置与对应的光强度重建等离子放电辉光的影像。运用此方法，可以非接触的方式，有效侦测出等离子放电辉光的形状、大小、温度分布、颜色分布与闪烁行为，以及相对强度、绝对强度与强度分布，因此可达到即时监控等离子处理的区域的效果。
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公开(公告)号：CN103153516B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201180048947.4
申请日：2011-10-26
Applicant: 关东冶金工业株式会社 , 古河SKY株式会社
IPC: B23K1/19 , B23K1/00 , B23K31/02 , B23K101/14 , B23K103/10 , G01N21/67
CPC classification number: B23K1/19 , B23K1/0012 , B23K1/008 , B23K35/002 , B23K35/284 , B23K35/286 , B23K35/383 , B23K2101/006 , B23K2101/14 , B23K2103/10 , B32B15/016 , F28F21/084 , F28F21/089 , G01J3/443 , G01N21/67
Abstract: 本发明涉及铝合金的钎焊方法及其使用的钎焊装置,所述铝合金的钎焊方法的特征在于,钎焊片材包括由铝或铝合金构成的心材,以及包层在该心材的单面或两面上的由铝合金构成的钎料,在上述心材以及钎料的至少一方含有Mg,将所述钎焊片材在含有氩气气氛的炉内,不使用焊剂,进行加热钎焊。通过本发明的铝合金的钎焊方法及其使用的钎焊装置,提供具有良好且稳定的钎焊性、能适用工业的钎焊方法。
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