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    電場ベクトル検出方法及び電場ベクトル検出装置
    185.
    发明专利
    電場ベクトル検出方法及び電場ベクトル検出装置 有权
    电场矢量检测方法和电场矢量检测装置

    公开(公告)号：JP2016099309A

    公开(公告)日：2016-05-30

    申请号：JP2014238686

    申请日：2014-11-26

    Applicant: 浜松ホトニクス株式会社

    Inventor： 河田 陽一 ,  安田 敬史 ,  高橋 宏典

    IPC: G01N21/21 ,  G01R29/08 ,  G01N21/3581

    CPC classification number: G01J1/44 ,  G01J1/0429 ,  G01J1/4228 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0262 ,  G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01J3/4338 ,  G01J4/04 ,  G01J2001/4242 ,  G01N21/3581 ,  G01R15/241 ,  G01R29/0871

    Abstract: 【課題】信号処理を複雑化させることなくテラヘルツ波の電場ベクトルを精度良く検出できる電場ベクトル検出方法及び電場ベクトル検出装置を提供する。 【解決手段】この電場ベクトル検出方法では、テラヘルツ波検出素子3として光学的等方媒質の(111)面を切り出した電気光学結晶を用い、超短パルス光であるプローブ光Laの偏光状態を円偏光とし、円偏光となったプローブ光Laをテラヘルツ波検出素子3に入射してテラヘルツ波Tをプローブし、テラヘルツ波Tをプローブした後のプローブ光Laを回転検光子9で変調し、変調したプローブ光Laを光検出器4で検出し、回転検光子9の回転周波数に基づく周波数を参照信号とし、光検出器4からの検出信号をロックイン検出器12でロックイン検出し、ロックイン検出器12からの検出信号に基づいてテラヘルツ波Tの電場ベクトルを検出する。 【選択図】図1

    Abstract translation: 要解决的问题：提供可以精确地检测太赫兹波的电场矢量而不使信号处理复杂化的电场矢量检测方法和电场矢量检测装置。解决方案：电场矢量检测方法使用电光 通过切割出作为太赫兹波检测元件3的光学各向同性介质（111）的小面而得到的晶体，将探测光La的偏振状态，超短脉冲光成为圆偏振，将探测光La注入圆偏振 进入太赫兹波检测元件3以探测太赫兹波T，用旋转分析仪9探测太赫兹波T后调制探测光La，通过光学检测器4检测调制的探测光La，使用基于旋转的频率 旋转分析器9的频率作为参考信号，通过锁定检测器执行来自光学检测器4的检测信号的锁定检测 基于来自锁定检测器12的检测信号，检测太赫兹波T的电场矢量。图示：图1

    電磁放射の合成のための方法及び装置
    186.
    发明专利
    電磁放射の合成のための方法及び装置 审中-公开
    对于电磁辐射的合成方法和装置

    公开(公告)号：JP2016502685A

    公开(公告)日：2016-01-28

    申请号：JP2015545995

    申请日：2013-12-04

    Applicant: トプティカ フォトニクス アクチエンゲゼルシャフトTOPTICA Photonics AG ,  トプティカ フォトニクス アクチエンゲゼルシャフトTOPTICA Photonics AG

    Inventor： ザック，アルミン ,  アー プッペ，トーマス ,  アー プッペ，トーマス ,  ヘレラー，トーマス

    IPC: G02F1/05

    CPC classification number: H01S3/0085 ,  G01J3/10 ,  G01J3/433 ,  G02F1/01 ,  H01S3/0078 ,  H01S3/1307

    Abstract: 本発明は、2つ以上のスペクトル成分を含むスペクトルを有する電磁放射が発生され、電磁放射の位相設定が実施される、電磁放射の合成のための方法に関する。本発明は位相設定が、スペクトル成分の相対位相関係が事前決定可能である、電磁放射のスペクトル成分の位相シフトを含むことを提案する。さらに、本発明は電磁放射の合成のための装置に関し、装置は、一連の時間的に等間隔の光パルスを発生するパルスレーザ(1)を有し、パルスレーザ(1)の電磁放射のスペクトルは、オフセット周波数及び繰り返し周波数を特徴とする、光周波数コムのスペクトルである。さらに、装置はパルスレーザ(1)の電磁放射の位相設定を実施する位相設定器(5)を有する。本発明によれば、光周波数コムのスペクトル線のオフセット周波数は位相設定器(5)を用いる時間比例位相設定によって調節可能である。

    Abstract translation: 本发明中，与含有两个或更多个频谱分量的频谱产生的电磁辐射，所述电磁辐射的相位设定的情况下，涉及用于电磁辐射的合成的方法。 本发明是一种相位设定，频谱分量的相对相位关系可以是预先确定的，所以建议以包括电磁辐射的频谱分量的相位偏移。 此外，本发明涉及用于电磁辐射的合成装置，该装置具有一系列时间脉冲激光的用于产生等间隔的光脉冲（1），脉冲激光的电磁辐射的光谱（1） 它的特征在于偏移频率和重复频率，光频率梳状的频谱。 此外，该装置具有用于实现所述脉冲激光（1）的电磁辐射的相位设置到（5）相位调节器。 根据本发明，光学频率梳的谱线的频率偏移可以通过使用相位调节器（5）时间比例相位设定来调整。

    光学測定装置および光学測定方法
    187.
    发明专利
    光学測定装置および光学測定方法 审中-公开
    光学测量装置和光学测量方法

    公开(公告)号：JP2015087385A

    公开(公告)日：2015-05-07

    申请号：JP2014191427

    申请日：2014-09-19

    Applicant: 塚田 敏秋 ,  国立大学法人電気通信大学

    Inventor： 塚田 敏秋 ,  瀬戸 啓介 ,  小林 孝嘉

    IPC: G01N21/65 ,  G01N21/41

    CPC classification number: G01N21/65 ,  G01J3/433 ,  G01N21/59 ,  G01J2001/4242 ,  G01N2021/655 ,  G01N2201/0691 ,  G01N2201/0696

    Abstract: 【課題】 光源の出力光の強度変化や受光器の感度変化の影響を受けることなく高速高感度で高精度の安定した測定が行える光学測定技術を提供する。 【解決手段】 光学測定装置は、光源と、前記光源からの出力光の一部の光成分を他の光成分に対してπ/2遅延させるπ/2位相加算器と、前記π/2位相加算器を介した光と、試料に導かれ、前記試料で透過または反射された光を検出する受光器と、前記受光器で検出された検出光と、前記光源に同期する同期信号とを入力とし、前記同期信号を用いて前記検出光に生じた位相変化を検出する位相変化検出器と、を有し、前記位相変化により前記試料の特性を取得する。 【選択図】図2

    Abstract translation: 要解决的问题：提供能够以高速，高灵敏度和高精度执行稳定测量的光学测量技术，而不受光源的输出光的强度变化的影响和光接收器的灵敏度变化的影响。解决方案： 光学测量装置包括：光源; 一个相位/相位加法器，其相对于其它光学部件将来自光源的输出光的光学分量的一部分延迟＆amp; 一个光接收器，通过＆pgr / / 2相位加法器检测光，并将光引导到样品并传输或反射在样品上; 以及相变检测器，其接受由光接收器检测的检测光的输入和与光源同步的同步信号，并且利用同步信号检测在检测光中产生的相位变化。 光学测量装置通过相变获得样品的特性。

    System and method for magnitude and phase retrieval by path modulation
    189.
    发明专利
    System and method for magnitude and phase retrieval by path modulation 审中-公开
    用于通过路径调制进行磁场和相位检测的系统和方法

    公开(公告)号：JP2011174929A

    公开(公告)日：2011-09-08

    申请号：JP2011039897

    申请日：2011-02-25

    Applicant: Goodrich Corp ,  グッドリッチ コーポレイション

    Inventor： MAJEWSKI ALEXANDER ,  ABREU RENE

    IPC: G01N21/41 ,  G01N21/35 ,  G01N21/39

    CPC classification number: G01J3/42 ,  G01J3/433 ,  G01N21/3581 ,  G01N21/41

    Abstract: PROBLEM TO BE SOLVED: To design a system and a method for control and modulate the length of path to eliminate influences of undesirable fluctuations such as thermal and mechanical disturbance of undesired wave (spurious). SOLUTION: The spectrometer system 10 includes a transmitter 12 configured to transmit an electromagnetic signal through a sample cell 26 to a receiver 30, which is configured to receive the electromagnetic signal and another electromagnetic signal for mixing therewith. Propagation paths of the signals to the transmitter and receiver include a first propagation path 18 of the electromagnetic signal to the transmitter, and a second propagation path 32 of the other electromagnetic signal to the receiver. The system also includes a path length modulating device 40 to alter the length of respective propagation paths. A processor 38 is configured to recover an amplitude and phase of the transmitted electromagnetic signal, and calculate a complex index of refraction of the sample medium as a function of the amplitude and phase of the transmitted electromagnetic signal. COPYRIGHT: (C)2011,JPO&INPIT

    Abstract translation: 要解决的问题：设计用于控制和调制路径长度的系统和方法，以消除不期望的波动（例如不希望的波（杂散）的热和机械干扰）的影响。 解决方案：光谱仪系统10包括发射器12，其被配置为将电磁信号通过样品池26传送到接收器30，接收器30被配置为接收电磁信号和用于与其混合的另一个电磁信号。 信号到发射机和接收机的传播路径包括电磁信号到发射机的第一传播路径18和另一个电磁信号到接收机的第二传播路径32。 该系统还包括路径长度调制装置40，以改变各个传播路径的长度。 处理器38被配置为恢复所发送的电磁信号的幅度和相位，并且根据所发送的电磁信号的幅度和相位来计算样本介质的复合折射率。 版权所有（C）2011，JPO＆INPIT

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