用于对散射光测量仪进行校准的装置

    公开(公告)号:CN104053981A

    公开(公告)日:2014-09-17

    申请号:CN201380005961.5

    申请日:2013-01-14

    Abstract: 建议一种用于对散射光测量仪进行校准的校准装置(30),所述散射光测量仪尤其构造用于测量在机动车的废气中的颗粒浓度。所述校准装置(30)具有至少一个散射体(34),该散射体在用光束(17a)照射时发出具有所定义的强度和分布状况的散射光(20’a、20’b),其中所述散射体(34)具有用于所述散射光的发射面(35),为所述发射面分配了至少一个用于对在所述发射面(35)上发出的散射光(20’a、20’b)进行检测的光敏元件(15a、15b)。为所述散射体(34)的发射面(35)分配了一个具有至少一个滤光口(38)的滤光体(37),通过所述滤光口(38)朝所述至少一个光敏元件(15a、15b)的方向发出所述散射光(20’a、20’b)。

    一种超分辨显微方法和装置

    公开(公告)号:CN102735617B

    公开(公告)日:2014-06-04

    申请号:CN201210227898.7

    申请日:2012-06-29

    Applicant: 浙江大学

    Abstract: 本发明公开了一种超分辨显微方法和装置,其中方法包括:将激光器发出的激光光束准直后转换为线偏振光;线偏振光经第一次相位调制后进行光路偏转;偏转后的光束经聚焦和准直后转换为圆偏振光投射到待测样品上,收集待测样品各扫描点发出的信号光,得到第一信号光强;切换调制函数,对线偏振光进行第二次相位调制后投射到待测样品上,收集待测样品各扫描点发出的信号光,得到第二信号光强;计算有效信号光强,并得到超分辨图像。本发明装置简单,操作方便;可以在较低的光功率条件下实现超衍射极限的分辨率;成像速度快,在每一帧图像的扫描点数为512×512的情况下,帧频可达到每秒15帧以上。

    采用气体参考腔反馈补偿的半导体激光器气体检测系统

    公开(公告)号:CN103499545A

    公开(公告)日:2014-01-08

    申请号:CN201310479226.X

    申请日:2013-10-14

    CPC classification number: G01N21/3504 G01N2201/06113 G01N2201/13

    Abstract: 本发明提供了一种采用气体参考腔补偿的半导体激光器气体检测系统,所述系统包括发出不同波长光束的第一光源和第二光源和与其连接的第一波分复用器,将载有不同波长的光束合成一束并输出到宽带耦合器进行功率分束,分束后的光束分别通入到参考气室和检测气室,连接参考气室的第二波分复用器以及连接检测气室的第三波分复用器,用于将经过参考气室和检测气室的光束按照所述波长不同进行分束;第一和第二光电检测器,连接至所述第二波分复用器;第三和第四光电检测器,连接至所述第三波分复用器,生成第一至第四光强度信号;反馈控制单元,接收第一至第四光强度信号,并将比较结果作为反馈信号调节第一和第二光源。

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