半导体器件
    12.
    发明公开
    半导体器件 审中-实审

    公开(公告)号:CN116960163A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310453556.5

    申请日:2023-04-25

    Abstract: 一种半导体器件可以包括:第一半导体层,包括第一半导体材料;金属层,面对第一半导体层并具有导电性;2D材料层,在第一半导体层和金属层之间;以及第二半导体层,在第一半导体层和2D材料层之间。第二半导体层可以包括不同于第一半导体材料的第二半导体材料。第二半导体层和2D材料层可以彼此直接接触。第二半导体材料可以包括锗。

    包括扩散阻挡层的多层结构体、包括其的器件和电子器件

    公开(公告)号:CN106410002A

    公开(公告)日:2017-02-15

    申请号:CN201610601246.3

    申请日:2016-07-27

    Abstract: 本发明涉及包括扩散阻挡层的多层结构体、包括其的器件和电子器件。所述多层结构体包括第一材料层、第二材料层、和扩散阻挡层。所述第二材料层连接至所述第一材料层。所述第二材料层与所述第一材料层隔开。所述扩散阻挡层在所述第一材料层和所述第二材料层之间。所述扩散阻挡层可包括二维(2D)材料。所述2D材料可为非基于石墨烯的材料,如具有2D晶体结构的基于金属硫属化物的材料。所述第一材料层可为半导体或绝缘体,且所述第二材料层可为导体。所述多层结构体的至少一部分可构成用于电子器件的互连。

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