-
公开(公告)号：CN110114957B
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN201780081053.2
申请日：2017-12-20
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明的课题在于提高无线供电中的、供电线圈与受电线圈之间的金属异物的检测精度。无线供电装置(10)是通过以规定的电力传输频率振动的交变磁场以无线进行电力传输的无线供电装置(10)，其具备：供电线圈(L1)；天线线圈(L3)；与天线线圈(L3)一起形成谐振电路(RC)的电容器(C3)；检测以比电力传输频率高的频率振动的噪声的噪声检测部(15A)；基于谐振电路(RC)中产生的电压或电流的变化和噪声检测部(15A)的噪声的检测结果，检测金属异物的有无的异物检测部(140)。
-
公开(公告)号：CN106487100B
公开(公告)日：2020-08-07
申请号：CN201610798136.0
申请日：2016-08-31
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明提供一种线圈装置及无线电力传输装置，其能够可靠地检测在构成电容器电路的多个电容器元件的任一个上发生了断路故障或短路故障。线圈装置(Lu1)具备电力传输用线圈(L1)、与电力传输用线圈(L1)连接且具有多个电容器元件(CAP1)的电容器电路(X1)、接近地配置于电力传输用线圈(L1)的导电性的金属部(SD)、测量在金属部(SD)产生的电压或电流的测量部(VSG1)。
-
公开(公告)号：CN104682573A
公开(公告)日：2015-06-03
申请号：CN201410714380.5
申请日：2014-11-28
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: H01F27/346 , B60L11/00 , B60L11/182 , B60L11/1824 , B60L2230/10 , B60L2270/147 , H01F5/00 , H01F27/24 , H01F27/28 , H01F27/38 , H01F27/42 , H01F37/00 , H01F38/00 , H01F38/14 , H02J5/005 , H02J7/0042 , H02J7/025 , H02J17/00 , H02J50/10 , H02J50/40 , H02J50/70 , Y02T10/7005 , Y02T10/7088 , Y02T90/12 , Y02T90/121 , Y02T90/122 , Y02T90/14
Abstract: 本发明公开了一种送电线圈单元以及无线电力传输装置，该送电线圈单元(Ltu1)具备送电线圈(Lta、Ltb)和辅助线圈(Lca、Lcb)，辅助线圈(Lca、Lcb)被配置为不与和受电线圈(Lr)交链的磁通相交链，该受电线圈(Lr)当传输电力时与送电线圈(Lta、Ltb)相对置，辅助线圈(Lca、Lcb)的轴向与送电线圈(Lta、Ltb)和受电线圈(Lr)的对置方向不平行，由辅助线圈(Lca、Lcb)产生的磁通(Bc1a至Bc1d)的环绕方向和由送电线圈(Lta、Ltb)产生的磁通(Bt1a至Bt1d)的环绕方向相反。
-
公开(公告)号：CN100373484C
公开(公告)日：2008-03-05
申请号：CN200480018848.1
申请日：2004-06-29
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/252 , G11B7/2403 , G11B7/24065 , G11B7/258 , G11B2007/24308 , G11B2007/2431 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 一种光学记录介质(10)包括支撑基板(11)、透光层(12)、和插入到所述透光层(12)和所述支撑基板(11)之间的第一电介质层(31)、贵金属氧化物层(23)、第二电介质层(32)、光吸收层(22)、第三电介质层(33)、和反射层(21)。所述支撑基板(11)的厚度为0.6mm到2.0mm；所述透光层(12)的厚度为10μm到200μm；所述贵金属氧化物层(23)的厚度为2nm到50nm；所述第二电介质层(32)的厚度为5nm到100nm；所述光吸收层(22)的厚度为5nm到100nm；并且所述第三电介质层(33)的厚度为10nm到140nm。因此，在采用针对下一代光学记录介质的光学系统进行超解析记录和再现时可获得优良的特性。
-
公开(公告)号：CN100358031C
公开(公告)日：2007-12-26
申请号：CN200480018577.X
申请日：2004-06-30
Applicant: TDK株式会社
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/00452 , G11B7/24 , G11B7/252 , G11B2007/24308 , G11B2007/2431 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316
Abstract: 本发明的目的是提供一种光学记录盘，包括：衬底(2)，第三介电层(3)，光吸收层(4)，第二介电层(5)，含有氧化铂作为主要成分的分解反应层(6)，第一介电层(7)，和光透射层(8)，其中第二介电层具有20nm至100nm的厚度，并且构成该光学记录盘，使得在从光透射层(8)这一侧用激光束(20)照射光学记录盘时，在分解反应层(6)中作为主要成分所含的氧化铂被分解成铂和氧，因此通过由此产生的氧气在分解反应层(6)中形成泡状凹坑，并且贵金属的细小颗粒沉淀在泡状凹坑内，由此在分解反应层(6)中形成了记录标志。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1846254A
公开(公告)日：2006-10-11
申请号：CN200480025272.1
申请日：2004-09-01
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00452 , G11B7/0901 , G11B7/24065
Abstract: 根据本发明的一种光学记录介质(10)，包括：其上形成有凹槽(11a)的支撑基板(11)、透光层(12)，在支撑基板(11)与透光层(12)之间设置的贵金属氧化物层(23)，其中，凹槽(11a)的深度设定为大于λ/8n但小于等于60nm，此处，n是透光层(12)对波长为λ的光的折射率。因此，通过将激光束照射在贵金属氧化物层(23)上，在进行超分辨率记录和超分辨率读取时，可获得良好的信号特性，尤其是有足够幅值的推挽信号。此外，因为凹槽的深度设定为60nm或更小，在生产用于制造基板的模片时不会出现较大的困难。
-
公开(公告)号：CN1816455A
公开(公告)日：2006-08-09
申请号：CN200480018578.4
申请日：2004-06-30
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: G11B7/2433 , B82Y10/00 , G11B7/2403 , G11B7/24065 , G11B7/252 , G11B7/2534 , G11B7/2542 , G11B2007/24314 , G11B2007/24316 , G11B2007/25706 , G11B2007/25708 , G11B2007/2571 , G11B2007/25713 , G11B2007/25715 , G11B2007/25716 , G11B2007/25718
Abstract: 本发明的目的是提供一种光学记录盘，包括：衬底(2)，反射层(3)，第三介电层(4)，光吸收层(5)，第二介电层(6)，含有氧化铂作为主要成分的分解反应层(7)，第一介电层(8)，和光透射层(9)，并且构成该光学记录盘，使得在从光透射层(9)这一侧用激光束(20)照射光学记录盘时，在分解反应层(7)中作为主要成分所含的氧化铂被分解成铂和氧，使得通过由此产生的氧气在分解反应层(7)中形成泡状凹坑，并且贵金属的细小颗粒沉淀在泡状凹坑内，由此在分解反应层(7)中形成了记录标志。
-
公开(公告)号：CN110114697B
公开(公告)日：2021-10-08
申请号：CN201780081093.7
申请日：2017-12-20
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明的课题在于，提高金属异物的检测精度。金属异物检测装置(14A)具备：具有接受磁场或电流而产生振动信号(Vb)的至少一个天线线圈(L3)的传感器部(S)；得到与振动信号(Vb)对应的信号(Vd)的波形的积分值(IV)的积分电路(144)；基于该积分值(IV)和没有接近的金属异物时的积分值(IV)即基准积分值(CIV)，判定与天线线圈(L3)接近的金属异物的有无的判定电路(145)。积分值(IV)和基准积分值(CIV)通过将相同波数的量的波形进行积分而得到。
-
公开(公告)号：CN110114697A
公开(公告)日：2019-08-09
申请号：CN201780081093.7
申请日：2017-12-20
Applicant: TDK株式会社
Abstract: 本发明的课题在于，提高金属异物的检测精度。金属异物检测装置(14A)具备：具有接受磁场或电流而产生振动信号(Vb)的至少一个天线线圈(L3)的传感器部(S)；得到与振动信号(Vb)对应的信号(Vd)的波形的积分值(IV)的积分电路(144)；基于该积分值(IV)和没有接近的金属异物时的积分值(IV)即基准积分值(CIV)，判定与天线线圈(L3)接近的金属异物的有无的判定电路(145)。积分值(IV)和基准积分值(CIV)通过将相同波数的量的波形进行积分而得到。
-
公开(公告)号：CN104682573B
公开(公告)日：2018-05-04
申请号：CN201410714380.5
申请日：2014-11-28
Applicant: TDK株式会社
CPC classification number: H01F27/346 , B60L11/00 , B60L11/182 , B60L11/1824 , B60L2230/10 , B60L2270/147 , H01F5/00 , H01F27/24 , H01F27/28 , H01F27/38 , H01F27/42 , H01F37/00 , H01F38/00 , H01F38/14 , H02J5/005 , H02J7/0042 , H02J7/025 , H02J17/00 , H02J50/10 , H02J50/40 , H02J50/70 , Y02T10/7005 , Y02T10/7088 , Y02T90/12 , Y02T90/121 , Y02T90/122 , Y02T90/14
Abstract: 本发明公开了一种送电线圈单元以及无线电力传输装置，该送电线圈单元(Ltu1)具备送电线圈(Lta、Ltb)和辅助线圈(Lca、Lcb)，辅助线圈(Lca、Lcb)被配置为不与和受电线圈(Lr)交链的磁通相交链，该受电线圈(Lr)当传输电力时与送电线圈(Lta、Ltb)相对置，辅助线圈(Lca、Lcb)的轴向与送电线圈(Lta、Ltb)和受电线圈(Lr)的对置方向不平行，由辅助线圈(Lca、Lcb)产生的磁通(Bc1a至Bc1d)的环绕方向和由送电线圈(Lta、Ltb)产生的磁通(Bt1a至Bt1d)的环绕方向相反。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
40
records
(took 0.046 seconds)
