图像形成设备和处理盒
    11.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105339848A

    公开(公告)日:2016-02-17

    申请号:CN201380077822.3

    申请日:2013-06-27

    CPC classification number: G03G15/0233 G03G9/09716 G03G9/09725

    Abstract: 提供了借此能够防止由于清洁不良而造成的具有纵向条纹的图像生成的图像形成设备和处理盒。所述图像形成设备和所述盒具有:充电构件,在其表面上具有源自碗形树脂颗粒的开口的凹部,和源自碗形树脂颗粒的开口的边缘的凸部;和调色剂,对于其当调色剂的表面上的二氧化硅细颗粒的覆盖率(X1)是50.0-75.0面积%的面积比,且二氧化硅细颗粒的理论覆盖率是X2时,由式1表示的扩散指数满足式2。式1:扩散指数=X1/X2式2:扩散指数≥-0.0042×X1+0.62。

    活性氧供给装置
    14.
    发明公开

    公开(公告)号:CN118510719A

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202280086546.6

    申请日:2022-12-26

    Abstract: 提供一种活性氧供给装置,其配备有具有第一开口和与第一开口相对侧的第二开口的筒状壳体、配置在壳体内的等离子体激励器、和臭氧分解装置,其中等离子体激励器通过施加电压而产生电介质阻挡放电以吹出诱导流,等离子体激励器以如下方式配置:使得诱导流的吹出方向面向第二开口,通过诱导流的作用在壳体中生成从第一开口流向第二开口的气流,臭氧分解装置分解气流中包含的臭氧以在气流中生成活性氧,并且等离子体激励器和臭氧分解装置以如下方式配置:使得包含活性氧的气流可以通过第二开口流出至活性氧供给装置的外部。

    导电性构件、其制造方法、处理盒以及电子照相图像形成设备

    公开(公告)号:CN114556231A

    公开(公告)日:2022-05-27

    申请号:CN202080072915.7

    申请日:2020-10-09

    Abstract: 提供一种即使在高速化的主体中也能够抑制重影的产生并且提供高品质图像的导电性构件。所述导电性构件具有导电性支承体和导电层。所述导电层具有包括第1橡胶的交联产物的基质和分散在所述基质中的多个域。所述域各自包括第2橡胶的交联产物和导电性颗粒。所述第1橡胶和所述第2橡胶彼此不同。所述导电性构件的外表面具有多个凹部,并且至少一部分所述域的表面在所述凹部的底部露出所述导电性构件的外表面。所述基质的体积电阻大于1.0×1012Ωcm,并且所述导电层的体积电阻率为1.0×105~1.0×108Ωcm。如果在使用原子力显微镜的悬臂施加80V的直流电压时,导电性支承体和导电性构件的表面基质之间的电流值为A1,并且导电性支承体和导电性构件的表面域之间的电流值为A2,则A2为A1的20倍以上。

    电子照相用辊、处理盒和电子照相设备

    公开(公告)号:CN108983562B

    公开(公告)日:2022-05-03

    申请号:CN201810553015.9

    申请日:2018-05-31

    Abstract: 本发明涉及电子照相用辊、处理盒和电子照相设备。电子照相用辊具有在导电性基体上包含导电形弹性层的表面层。碗形状树脂颗粒的开口在电子照相用辊的表面上露出。在正方形区域中凸部与玻璃板的接触部的个数为8以上,所述正方形区域中在沿着通过以施加的特定的负荷将辊按压在玻璃板上而形成的辊隙的电子照相用辊的圆周方向的方向上辊隙的长度作为一边的长度,且正方形区域位于辊隙中。接触部的面积的平均值为10μm2至111μm2。接触部的面积的变动系数和各自包括接触部的沃罗诺伊区域的面积的变动系数D满足特定关系。

    图像形成设备和处理盒
    20.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105339848B

    公开(公告)日:2018-07-20

    申请号:CN201380077822.3

    申请日:2013-06-27

    CPC classification number: G03G15/0233 G03G9/09716 G03G9/09725

    Abstract: 提供了借此能够防止由于清洁不良而造成的具有纵向条纹的图像生成的图像形成设备和处理盒。所述图像形成设备和所述盒具有:充电构件,在其表面上具有源自碗形树脂颗粒的开口的凹部,和源自碗形树脂颗粒的开口的边缘的凸部;和调色剂,对于其当调色剂的表面上的二氧化硅细颗粒的覆盖率(X1)是50.0‑75.0面积%的面积比,且二氧化硅细颗粒的理论覆盖率是X2时,由式1表示的扩散指数满足式2。式1:扩散指数=X1/X2式2:扩散指数≥‑0.0042×X1+0.62。

Patent Agency Ranking