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公开(公告)号：CN115904826A
公开(公告)日：2023-04-04
申请号：CN202110960321.6
申请日：2021-08-20
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F11/22 , G06F11/273
Abstract: 本发明公开了一种基于ATE的DSP测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有测试方法无法满足高性能DSP测试需求的问题。一种基于ATE的DSP测试方法，所述方法包括：编写适配于待测DSP芯片的测试项目的DSP配置程序，并将所述DSP配置程序下载到所述待测DSP芯片的外挂FLASH中；所述DSP配置程序包括与每一测试项目对应的测试配置子程序；ATE基于外挂FLASH中的DSP配置程序上电配置待测DSP芯片；ATE向所述DSP芯片发送所述测试项目对应的GPIO测试交互指令；所述待测DSP芯片基于接收到的所述GPIO测试交互指令，运行所述测试项目对应的测试配置子程序，并输出测试观测信号；ATE基于采集到的测试观测信号判断所述测试项目是否测试通过。该测试方法能够满足高性能DSP测试需求。
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公开(公告)号：CN111641544B
公开(公告)日：2021-11-30
申请号：CN202010575475.9
申请日：2020-06-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种CAN总线控制器并行测试系统，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有CAN总线控制器测试无法实现真实工作状态考量、调试和编写测试PATTERN繁琐、难度大的问题。系统包括：测试机台、多个CAN节点、通道控制组件；每个CAN节点均包括一个CAN总线控制器和一个CAN总线收发器，多个CAN总线收发器的CANL和CANH分别相连形成CAN总线；测试机台基于不同的测试模式配置多个CAN总线控制器，并监控其状态，得到测试结果；CAN总线控制器的配置端口与测试机台的数字通道相连；通道控制组件基于不同的测试模式控制第一通道和第二通道的切换；第一通道中CAN总线控制器的TX、RX端口与CAN总线收发器相连；第二通道中CAN总线控制器的TX、RX端口与测试机台的数字通道相连。
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公开(公告)号：CN112530508A
公开(公告)日：2021-03-19
申请号：CN201910873960.1
申请日：2019-09-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种NAND FLASH存储器并行测试及坏块回写方法，该方法包括：读取多个存储器ID并将存储器ID与预设ID进行比较，判断每个存储器是否初步合格；判断初步合格的存储器中每一个LUN的第0块是否为非坏块；分别确定每一个存储器中每一个LUN的初始坏块数量；判断每一个第0块为非坏块的存储器是否为空片；识别出测试过程中新产生的坏块，分别确定为空片的存储器中每一个逻辑单元的新产生的坏块数量并按照预定规则对新产生的坏块进行回写；基于每一个LUN的初始坏块数量和新产生的坏块数量判断对应存储器是否合格。本发明的方法能够实现多个NAND FLASH存储器的并行测试，能够有效识别出坏块并进行回写，提升了测试效率，同时对预设的原有标志位进行了保护。
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公开(公告)号：CN110941218B
公开(公告)日：2021-02-26
申请号：CN201911258666.6
申请日：2019-12-10
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G05B19/042
Abstract: 本发明涉及一种CAN总线控制器测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有技术中缺少能够实现较为全面的CAN总线控制器测试的问题。CAN总线控制器测试方法，所述方法包括以下步骤：获取当前测试模式并进入相应的工作模式；所述当前测试模式为报文发送测试模式、报文接收测试模式、睡眠测试模式、滤波测试模式、仲裁失效测试模式；通过CAN总线控制器RX端构建对应该工作模式的CAN总线环境，在所述对应该工作模式的CAN总线环境下进行对所述CAN总线控制器在相应工作模式下的测试。该方法充分利用CAN总线控制器的RX端，为芯片营造CAN真实工作环境，以完成对芯片相应功能的测试。
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公开(公告)号：CN112241388A
公开(公告)日：2021-01-19
申请号：CN201910646937.9
申请日：2019-07-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F15/78 , G06F11/22 , G01R31/3185
Abstract: 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法。该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试。由此，可以通过继电器的切换控制配置FLASH芯片的数据装载，实现FPGA测试的多重实时配置。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112241388B
公开(公告)日：2024-11-12
申请号：CN201910646937.9
申请日：2019-07-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F15/78 , G06F11/22 , G01R31/3185
Abstract: 本发明涉及电子元器件检测技术领域，公开了一种基于FLASH和继电器的FPGA配置测试系统及方法。该系统包括：配置测试板；FLASH芯片，设置在所述配置测试板上，用于在测试过程中向FPGA芯片装载对应的配置文件；继电器，设置在所述配置测试板上与所述FLASH芯片连接，用于根据接收的配置指令执行切换操作来控制所述FLASH芯片的配置文件的装载；测试装置，用于对装载有配置文件的FPGA芯片进行测试。由此，可以通过继电器的切换控制配置FLASH芯片的数据装载，实现FPGA测试的多重实时配置。
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公开(公告)号：CN118860752A
公开(公告)日：2024-10-29
申请号：CN202310465226.8
申请日：2023-04-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种用于ACTEL公司SOPC器件的测试方法，该SOPC器件的测试方法包括：根据SOPC器件内部的总体架构，按模块统计SOPC器件的内部资源；对SOPC器件的内部资源按模块进行资源配置，生成相应的配置文件；根据配置文件对SOPC器件按模块进行测试程序的编写和编译，生成相应的测试工程文件；下载SOPC器件内部资源及相应的测试工程文件；根据测试工程文件对SOPC器件内部资源按模块进行功能测试。应用本发明的技术方案，能够解决现有技术中缺少对ACTEL公司SOPC器件的测试方法的技术问题。
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公开(公告)号：CN118277231A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211709109.3
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 中国人民解放军96901部队
Abstract: 本发明涉及一种基于ATE的大规模FPGA测试方法，属于FPGA测试技术领域，解决了大规模FPGA测试过程中存在的硬件测试系统速度不够、软件配置方法不成熟的问题。该方法包括：编写适配于待测FPGA的功能模块的配置程序，并固化在配置FLASH中；待测FPGA和配置FLASH上电，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件，并进行前置配置；ATE选定功能模块，向待测FPGA发送该功能模块的配置指令，控制待测FPGA在主SPI模式下执行：从配置FLASH中载入该功能模块的可执行BIT流文件，并执行该功能模块的配置；ATE向待测FPGA发送该功能模块的测试指令，控制待测FPGA执行该功能模块的测试，并输出测试观测信号；ATE基于采集到的该功能模块的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
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公开(公告)号：CN118277168A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211709132.2
申请日：2022-12-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所 , 中国人民解放军96901部队
Abstract: 本发明涉及一种Virtex‑7系列FPGA的配置和测试方法，属于FPGA测试技术领域，解决了现有Virtex‑7系列FPGA测试过程中存在的软件配置方法不成熟的问题。该方法包括：编写适配于待测FPGA的功能模块的配置程序，并将所述配置程序固化在所述待测FPGA的配置FLASH中；所述配置程序包括前置BIT流文件、以及每一功能模块的可执行BIT流文件；待测FPGA和配置FLASH上电，待测FPGA从配置FLASH中载入前置BIT流文件，并进行前置配置；ATE选定功能模块，向待测FPGA发送该功能模块的配置指令及测试指令，控制待测FPGA在主SPI模式下执行该功能模块的配置和测试过程，并输出该功能模块的测试观测信号；ATE基于采集到的测试观测信号判断该功能模块是否测试通过。
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公开(公告)号：CN111796977B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202010640997.2
申请日：2020-07-06
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G06F11/26
Abstract: 本发明涉及一种基于测试台的多端口UART功能测试方法，属于电子元器件检测技术领域，解决了现有技术难以实现准确、简单的UART通用功能测试的问题。该方法包括如下步骤：连接待测UART芯片与所述测试台，并进行连接测试，若连接测试通过，则利用所述测试台初始化所述待测UART芯片；利用所述测试台对初始化后的待测UART芯片进行功能测试，其中所述功能测试包括自动软件流量控制功能；以及所述功能测试还包括接收功能测试、数据发送功能测试和输出高低电平功能测试中的一个或多个。
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