半导体存储装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN1499526A

    公开(公告)日:2004-05-26

    申请号:CN200310114843.6

    申请日:2003-11-07

    Inventor: 滨口弘治

    Abstract: 本发明涉及半导体存储装置及其制造方法。该半导体存储器装置(2)具备由通过施加电应力使电阻值变化的非易失性电阻变化存储器元件(23B)和选择晶体管(23A)组成的存储器单元(23),以及将字线电压提供给连接到所述存储器单元的字线的字线电压提供设备(22),在进行存储器单元的程序操作和验证所述存储器单元(23)的程序状态的校验操作的场合,所述字线电压提供设备(22)对于所述程序操作和所述校验操作的互为前后的2个操作,将相同的电压的字线电压提供给连接到写入对象的所述存储器单元(23)。

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