-
公开(公告)号：CN105492929A
公开(公告)日：2016-04-13
申请号：CN201480048230.3
申请日：2014-08-04
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明的目的在于提供一种放射线检测装置、放射剂量测量处理方法、以及放射剂量测量处理程序，即使利用受光面积较小且光检测灵敏度较低的简易受光元件也能提高光检测灵敏度，从而能提高放射线检测灵敏度。为此，采用如下结构，具备：放射线检测部(2)，该放射线检测部(2)根据所入射的放射线(R)的能量生成放射线检测信号；随机共振部(7)，该随机共振部(7)使放射线检测部(2)所生成的放射线检测信号产生随机共振现象来对所述放射线检测信号进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及运算部(8)，该运算部(8)基于随机共振部(7)所生成的波形恢复信号测量放射剂量。
-
公开(公告)号：CN104736995A
公开(公告)日：2015-06-24
申请号：CN201380051775.5
申请日：2013-10-17
Applicant: 富士电机株式会社 , 国立大学法人东京大学
CPC classification number: G01N15/0211 , G01N15/0255 , G01N21/4788 , G01N2015/0216 , H01J49/04
Abstract: 本发明提供一种能够形成粒子束，并对形成的粒子束的空间分布进行评价且控制的粒子束形成装置。一种粒子束形成装置，其从粒子分散于气体的粒子源形成线状或者圆锥状的粒子束，其具有减压容器(12)、粒子束生成装置(3)及粒子束评价装置，其中，所述减压容器(12)的内部被减压；所述粒子束生成装置(3)的一端配置在减压容器(12)外，另一端配置在减压容器(12)内，获取减压容器(12)外的粒子源(2)，将粒子束导入减压容器(12)内；所述粒子束评价装置对减压容器(12)内的粒子束的空间分布进行评价。优选地，该粒子束评价装置具备光照射装置、散射光检测装置(14)及信号处理装置(15)，其中，所述光照射装置对粒子束照射光；所述散射光检测装置(14)检测向粒子束照射的光与粒子接触而产生的散射光；所述信号处理装置(15)对散射光检测装置(14)输出的与该散射光的强度及/或频率相对应的信号进行记录并处理。
-
公开(公告)号：CN108351304B
公开(公告)日：2021-12-07
申请号：CN201780003869.3
申请日：2017-02-23
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 利用简易的结构来兼具荧光检测功能和散射光检测功能，高精度地测定试样水的荧光强度。水质分析仪(1)具有：激发光照射光学系统(10)，其向作为测定对象的试样水照射激发用的光源光(L1)；荧光检测光学系统(21)，其对通过激发用的光源光的照射而激发出的试样水中的特定成分的荧光(L2)进行检测；散射光照射光学系统(30)，其向试样水照射散射光检测用的光源光(L3)；以及散射光检测光学系统(40)，其对因所照射的散射光检测用的光源光被试样水中的微粒散射而产生的散射光(L4)进行检测。能够检测激发光照射光学系统的光量和散射光照射光学系统的光量。
-
公开(公告)号：CN106525673B
公开(公告)日：2021-04-06
申请号：CN201610592004.2
申请日：2016-07-26
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定，但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析，包括：气体分析器；以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部，该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。
-
公开(公告)号：CN105026915B
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201380074284.2
申请日：2013-04-03
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N21/61 , G01N21/3504 , G01N33/0037 , G01N33/0042 , Y02A50/245 , Y02A50/248
Abstract: 提供一种能够以简单的结构来对试样气体所包含的在以往不易分析的一氧化氮气体(NO气体)和二氧化氮气体(NO2气体)这两种成分的气体浓度进行分析或者对一氧化氮气体(NO气体)、二氧化氮气体(NO2气体)及二氧化硫气体(SO2)这三种成分的气体浓度进行分析那样对多成分的气体浓度进行分析的气体分析仪。为如下的气体分析仪：使用气体调整部(41)为氧化输出时的来自透过光接收部(31)和基准光接收部(32)的信号来计算NO2和SO2的气体浓度，使用气体调整部(41)为通常输出时的来自透过光接收部(31)和基准光接收部(32)的信号来计算NO2和SO2的气体浓度，另外，从氧化输出时的NO2的气体浓度减去通常输出时的NO2的气体浓度来计算NO的气体浓度。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104736995B
公开(公告)日：2017-07-25
申请号：CN201380051775.5
申请日：2013-10-17
Applicant: 富士电机株式会社 , 国立大学法人东京大学
CPC classification number: G01N15/0211 , G01N15/0255 , G01N21/4788 , G01N2015/0216 , H01J49/04
Abstract: 本发明提供一种能够形成粒子束，并对形成的粒子束的空间分布进行评价且控制的粒子束形成装置。一种粒子束形成装置，其从粒子分散于气体的粒子源形成线状或者圆锥状的粒子束，其具有减压容器(12)、粒子束生成装置(3)及粒子束评价装置，其中，所述减压容器(12)的内部被减压；所述粒子束生成装置(3)的一端配置在减压容器(12)外，另一端配置在减压容器(12)内，获取减压容器(12)外的粒子源(2)，将粒子束导入减压容器(12)内；所述粒子束评价装置对减压容器(12)内的粒子束的空间分布进行评价。优选地，该粒子束评价装置具备光照射装置、散射光检测装置(14)及信号处理装置(15)，其中，所述光照射装置对粒子束照射光；所述散射光检测装置(14)检测向粒子束照射的光与粒子接触而产生的散射光；所述信号处理装置(15)对散射光检测装置(14)输出的与该散射光的强度及/或频率相对应的信号进行记录并处理。
-
公开(公告)号：CN106872399A
公开(公告)日：2017-06-20
申请号：CN201610929693.1
申请日：2016-11-23
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: G01N21/39 , G01J3/0208 , G01J3/0243 , G01J3/10 , G01J3/427 , G01N21/274 , G01N21/314 , G01N21/85 , G01N2021/0314 , G01N2021/151 , G01N2021/399 , G01N2021/536 , G01N2021/8521 , G01N2021/8578 , G01N21/01 , G01N21/55 , G01N2021/0112 , G01N2021/391
Abstract: 过去的激光分析仪需要在烟道的侧壁设置2处开口。如对已有的烟道附加设置激光分析仪，则要在烟道侧壁大费周章地进行安装加工。激光式气体分析装置具备：照射部，其从烟道的侧壁的外部通过设置于侧壁的开口部向侧壁的与开口部相向的内表面照射激光；受光部，其接收由内表面反射的激光；计算部，其根据照射部输出的激光的强度以及受光部接收的激光的强度，计算通过烟道的对象气体的浓度。
-
公开(公告)号：CN105492929B
公开(公告)日：2017-06-13
申请号：CN201480048230.3
申请日：2014-08-04
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01T1/17
CPC classification number: G01T1/17
Abstract: 本发明的目的在于提供一种放射线检测装置、放射剂量测量处理方法、以及放射剂量测量处理程序，即使利用受光面积较小且光检测灵敏度较低的简易受光元件也能提高光检测灵敏度，从而能提高放射线检测灵敏度。为此，采用如下结构，具备：放射线检测部(2)，该放射线检测部(2)根据所入射的放射线(R)的能量生成放射线检测信号；随机共振部(7)，该随机共振部(7)使放射线检测部(2)所生成的放射线检测信号产生随机共振现象来对所述放射线检测信号进行波形恢复，并输出由此获得的波形恢复信号；以及运算部(8)，该运算部(8)基于随机共振部(7)所生成的波形恢复信号测量放射剂量。
-
公开(公告)号：CN106525673A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201610592004.2
申请日：2016-07-26
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: H01J49/0463 , G01N15/00 , G01N33/0004 , G01N33/0006 , G01N33/0016 , G01N33/0026 , G01N33/007 , G01N33/0073 , G01N2015/0046 , G01N2033/0019 , G01N2033/0072 , H01J49/0422 , G01N15/06 , G01N1/44 , G01N5/00
Abstract: 虽然希望对作为测定对象的气体试料中包含的微粒子的组成和浓度进行测定，但存在由于分析装置的例如捕捉微粒子的捕捉体上吸附的气体试料以外的物质的影响而无法准确测定的问题。本发明的微粒子组成分析装置对气体试料中包含的微粒子的组成进行分析，包括：气体分析器；以及将试料气体和比较气体依次导入气体分析器的控制部，该试料气体是由于对气体试料照射激光而生成的微粒子而产生的。
-
公开(公告)号：CN106501192A
公开(公告)日：2017-03-15
申请号：CN201610810763.1
申请日：2016-09-08
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/31
CPC classification number: G01N21/31 , G01N2021/3155
Abstract: 提供一种气体分析仪，该气体分析仪降低由于光源部的经时变化而产生的因漂移引起的光量变动的影响，由此能够高精度地测定气体浓度。设为如下的气体分析仪：使用考虑因漂移引起的光量变动来预测规定的时间点下的光源部的基准输出强度以及照射光的受光输出强度，来计算试样气体所包含的测定对象气体(例如NO2气体、SO2气体)的气体浓度。(10)的基准输出强度的预测校正式，根据预测出
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
40
records
(took 0.035 seconds)
