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公开(公告)号：CN119714373A
公开(公告)日：2025-03-28
申请号：CN202411178762.0
申请日：2024-08-27
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种抑制受光波形中的谐波的影响的编码器。该编码器是检测电动机的旋转位置的光学式编码器，包括：发光元件；缝隙板，使从所述发光元件射出的光透过或反射而生成明部和暗部的图案；受光元件，将来自所述缝隙板的光转换为电信号；以及信号处理单元，对来自所述受光元件的电信号进行处理，所述缝隙板具有：基本图案，在圆周上以第一间距将明部和暗部交替地等间隔配置而成；以及谐波抑制图案，在所述基本图案上，以第二间距将明部和暗部交替地等间隔配置而成，所述第二间距是所述第一间距的N分之一，其中，N是2以上的整数。
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公开(公告)号：CN108693084A
公开(公告)日：2018-10-23
申请号：CN201810117262.4
申请日：2018-02-06
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N15/06
CPC classification number: G01N15/0272 , G01N33/0032 , G01N2015/0046 , G01N15/06
Abstract: 本发明提供一种能高精度地分析与产生源有关的信息的分析装置。提供一种产生源分析装置，包括：对多个测定对象成分各自的浓度获取测定地点处的时间序列的测定值的测定值获取部；对于至少一组测定对象成分计算时间序列的测定值的相关值的相关计算部；以及基于相关计算部算出的相关值来对与至少一个测定对象成分的产生源有关的信息进行分析的产生源分析部。
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公开(公告)号：CN106813949A
公开(公告)日：2017-06-09
申请号：CN201610929695.0
申请日：2016-10-31
Applicant: 富士电机株式会社
CPC classification number: H01J49/0422 , B23P19/04 , G01N1/2214 , G01N1/2273 , G01N1/44 , G01N2001/2223 , H01J49/0495 , G01N1/2202 , G01N1/4077 , G01N15/0606
Abstract: 在颗粒组成分析装置中，存在以下课题，即一旦在更换时将减压室开放到大气压力下，则要再次对整个减压室实施抽真空，花费时间使其恢复到减压状态，测定的空载时间会延长。一种捕集器更换机构，其具有：杆，其保持用来捕捉颗粒的捕集器；以及连接部，其具有与设置捕集器的减压空间连接的辅助空间的至少一部分，通过使杆移动，能够在保持减压空间的减压状态的状况下，使捕集器从减压空间退避至辅助空间侧，而在大气压中开放。
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公开(公告)号：CN105556284A
公开(公告)日：2016-05-04
申请号：CN201480050835.6
申请日：2014-05-27
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/33
CPC classification number: G01N21/33
Abstract: 提供能以简单结构测量样品气体中包含的一氧化氮气体(NO气体)及二氧化氮气体(NO2气体)这2种成分、或者追加了二氧化硫气体(SO2气体)的3种成分的气体浓度的气体分析仪。气体分析仪中，基于从所提供的臭氧气体(O3气体)的气体浓度c0减去所测定的臭氧气体(O3气体)的气体浓度c3而计算得到的反应消耗时的气体浓度等于对测定对象气体中的一氧化氮气体(NO气体)的气体浓度c1再加上五氧化二氮气体(N2O5气体)的气体浓度(c1+c2-cm)/2后得到的气体浓度这一情况，根据计算出的c0、cm、c3、c2，计算一氧化氮气体(NO气体)的气体浓度c1。
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公开(公告)号：CN105531580A
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201480050816.3
申请日：2014-05-30
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01N21/39 , G01N21/3504
CPC classification number: G01N21/3504 , G01N21/39
Abstract: 本发明提供一种用一台装置同时、高速、高精度、高灵敏度、高稳定性地对O2气体浓度和CO气体浓度进行测定的激光式气体分析计。提出一种多成分用激光式气体分析计，宽频带受光元件在某个期间内接受经由带发光部孔抛物柱面镜的贯通孔和宽频带聚焦透镜的第一检测光，并且，宽频带受光元件在其它期间内接受经由带发光部孔抛物柱面镜和宽频带聚焦透镜的第二检测光，基于在不同期间内从宽频带受光元件所接受到的第一、第二检测信号来分别单独地对O2气体浓度和CO气体浓度进行测定。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109975240B
公开(公告)日：2023-10-10
申请号：CN201811250399.3
申请日：2018-10-25
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，能够降低干涉噪声。该气体分析装置分析待测气体中包含的成分，具备：向待测气体照射激光的发光部；接收通过待测气体后的激光的光接收部；使配置在激光通过的光路上的至少一个光学元件移动从而改变激光的光路长度的驱动部；以及基于光学元件的位置相差激光波长的n/2(n为整数)的2个状态下由光接收部检测出的各个信号，计算待测气体的浓度的计算部。
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公开(公告)号：CN109975240A
公开(公告)日：2019-07-05
申请号：CN201811250399.3
申请日：2018-10-25
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 本发明提供一种气体分析装置，能够降低干涉噪声。该气体分析装置分析待测气体中包含的成分，具备：向待测气体照射激光的发光部；接收通过待测气体后的激光的光接收部；使配置在激光通过的光路上的至少一个光学元件移动从而改变激光的光路长度的驱动部；以及基于光学元件的位置相差激光波长的n/2(n为整数)的2个状态下由光接收部检测出的各个信号，计算待测气体的浓度的计算部。
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公开(公告)号：CN106483546A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610460924.9
申请日：2016-06-23
Applicant: 富士电机株式会社
IPC: G01T1/02
Abstract: 本发明提供一种信号处理装置及放射线测定装置。第一信号处理装置包括：第一检测部，其获取包含作为测定对象的微弱信号在内的输入信号，对该输入信号与噪声相加而得的噪声相加信号以第一阈值进行阈值处理，输出第一阈值处理信号，该第一阈值处理信号包含超过所述第一阈值且为脉冲波形的所述微弱信号；第二检测部，与所述第一检测部并行地获取所述输入信号，以第二阈值对该输入信号进行阈值处理，输出第二阈值处理信号，该第二阈值处理信号包含超过所述第二阈值且为脉冲波形的所述微弱信号；以及判别部，对所述第一阈值处理信号、所述第二阈值处理信号所包含的脉冲波形分量是否为与所述微弱信号对应的信号进行判别。
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公开(公告)号：CN106353239A
公开(公告)日：2017-01-25
申请号：CN201610405269.7
申请日：2016-06-08
Applicant: 富士电机株式会社
Abstract: 提供一种不失去单一粒子中的散射光与白炽光的同一性、并且不会过大评价粒子数的粒子检测装置。构成本发明的粒子检测装置的信号处理部(105)的特征在于，具有：第一峰值保持电路强度的峰值；第二峰值保持电路(4)，其保持从白炽光检测部(2)获取到的白炽光强度的峰值；以及阈值比较电路(7)，其将来自第一峰值保持电路的信号值与阈值进行比较，在信号值超过阈值时向第二峰值保持电路发送复位信号。(3)，其保持从散射光检测部(1)获取到的散射光
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