半导体器件处理机中的测试温度偏差补偿装置

    公开(公告)号:CN1471150A

    公开(公告)日:2004-01-28

    申请号:CN03121841.5

    申请日:2003-04-21

    CPC classification number: G01R31/2877 G01R31/2862 G01R31/2867

    Abstract: 本发明提供了一种半导体器件处理机,其中可对由于在测试过程中半导体器件自身产生热量而造成半导体器件的测试温度的偏差进行补偿,允许在准确的温度或准确的温度范围内对半导体器件进行测试。半导体器件处理机包括:至少一个封闭室;加热/冷却装置,被配置以使至少一个室的内部达到低温状态或高温状态;设置在至少一个室内的推动单元,被配置以将装配在测试托盘上的多个半导体器件推到位于至少一个室内测试板上的测试插座上以备测试;冷却流体供应装置,被配置以提供冷却流体;喷嘴部件,被配置以将从冷却流体供应装置接收的冷却流体喷射到装配在测试插座的半导体器件上;以及控制单元,被配置以测试过程中控制喷射到半导体器件上的冷却流体,以补偿测试过程中半导体器件所发生的温度变化。

    用于检测USB存储器的装置及其方法

    公开(公告)号:CN1673760A

    公开(公告)日:2005-09-28

    申请号:CN200510005298.6

    申请日:2005-02-04

    Inventor: 宋在明

    CPC classification number: G01R31/31905 G11C29/56 G11C29/56016

    Abstract: 本发明公开了一种用于检测多个USB存储器的装置,包括:托盘,通过托盘装载/卸载装置而水平移动;装载/卸载拾取装置,用于传送多个USB存储器的壳体;往复移动送件装置,通过往复传送装置在多个USB存储器的上部表面被柱塞支撑的状态下水平移动;以及检测板,通过检测插座安装,包括多个USB插口,其可以如下方式电连接,即,突出的USB插头可插入到通过往复传送装置而水平移动的往复移动送件装置中。

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