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公开(公告)号：CN103033143A
公开(公告)日：2013-04-10
申请号：CN201210366993.5
申请日：2012-09-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2518 , G06K9/2036
Abstract: 一种光学探测器，包含：激光光源，发射激光；准直透镜，将从所述激光光源发射的激光转换成平行光；光变形部件，允许所述平行光变化形状为线激光；辐射部件，采用所述线激光的被选部分照射待测量的物体；图像拾取部件，基于从所述物体表面反射的激光，拾取所述物体的像，该物体被所述线激光的被选部分照射；以及控制器，通过所述辐射部件控制所述线激光的辐射。所述线激光由多个部分构成，该多个部分包括一个端部分和另一端部分；并且所述控制器控制所述辐射部件，使得所述辐射部件采用所述线激光的部分，从所述一个端部分至另一端部分顺序地照射所述物体。
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公开(公告)号：CN102749040A
公开(公告)日：2012-10-24
申请号：CN201210113006.0
申请日：2012-04-17
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/03 , G01B11/2518
Abstract: 本发明公开了一种形状测量设备，其通过探测器以非接触方式扫描工件的表面并测量所述工件的表面形状。所述探测器包括：光照射单元，其将线状光照射到所述工件上；以及成像单元，其使从所述光照射单元照射的光的反射光成像，所述反射光由所述工件反射。所述成像单元包括：成像元件，其使所述工件的像成像；成像透镜，其在所述成像元件的成像平面上形成由所述工件反射的反射光的像；以及透镜更换单元，其使得所述成像透镜可更换。
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公开(公告)号：CN114746716B
公开(公告)日：2024-06-04
申请号：CN202080082861.2
申请日：2020-11-26
Applicant: 机械视觉照明有限公司 , 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
Abstract: 照明装置110具有：光源部112；透镜部116，其将照明光以特定的照射立体角IS向被测定物W照射；滤光部114，其将特定的照射立体角IS内分离为具有彼此不同的光的波长区域R、G，B的多个立体角区域IS1、IS2、IS3；拍摄装置CM以规定的观察立体角DS接收照明光产生的被测定物W的物体光，拍摄装置CM的各像素能够彼此识别不同的光的波长区域R、G、B，处理装置120具备：计算部124，其从构成物体光的多个立体角区域RS1、RS2、RS3与规定的观察立体角DS之间的包含关系求出与各像素对应的被测定物W各点的法线向量Vn；形状复原部128，其对被测定物W的形状进行复原。由此，能够迅速地复原对被测定物进行了拍摄的图像内的被测定物各点的信息。
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公开(公告)号：CN104457609B
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN201410478687.X
申请日：2014-09-18
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 山县正意
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种坐标测量设备，包括探测器，所述探测器具有：照射光学系统，用于向工件照射沿着预定平面的光；摄像设备，其具有配置在摄像面上的摄像元件，并且用于从与所述预定平面上的位置不同的位置对所述工件进行摄像；以及控制器，用于控制所述照射光学系统。所述控制器进行以下操作：判断摄像面上的摄像区域中所配置的摄像元件是否检测到由于来自所述照射光学系统的光而入射到所述工件上的入射光；在所述摄像区域内所配置的摄像元件检测到所述入射光的情况下，使从所述照射光学系统所照射的光点亮；以及在所述摄像区域内所配置的摄像元件没有检测到所述入射光的情况下，使从所述照射光学系统所照射的光按预定周期闪烁。
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公开(公告)号：CN103033143B
公开(公告)日：2016-01-06
申请号：CN201210366993.5
申请日：2012-09-28
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/2518 , G06K9/2036
Abstract: 一种光学探测器，包含：激光光源，发射激光；准直透镜，将从所述激光光源发射的激光转换成平行光；光变形部件，允许所述平行光变化形状为线激光；辐射部件，采用所述线激光的被选部分照射待测量的物体；图像拾取部件，基于从所述物体表面反射的激光，拾取所述物体的像，该物体被所述线激光的被选部分照射；以及控制器，通过所述辐射部件控制所述线激光的辐射。所述线激光由多个部分构成，该多个部分包括一个端部分和另一端部分；并且所述控制器控制所述辐射部件，使得所述辐射部件采用所述线激光的部分，从所述一个端部分至另一端部分顺序地照射所述物体。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104457609A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201410478687.X
申请日：2014-09-18
Applicant: 株式会社三丰
Inventor： 山县正意
IPC: G01B11/24
Abstract: 一种坐标测量设备，包括探测器，所述探测器具有：照射光学系统，用于向工件照射沿着预定平面的光；摄像设备，其具有配置在摄像面上的摄像元件，并且用于从与所述预定平面上的位置不同的位置对所述工件进行摄像；以及控制器，用于控制所述照射光学系统。所述控制器进行以下操作：判断摄像面上的摄像区域中所配置的摄像元件是否检测到由于来自所述照射光学系统的光而入射到所述工件上的入射光；在所述摄像区域内所配置的摄像元件检测到所述入射光的情况下，使从所述照射光学系统所照射的光点亮；以及在所述摄像区域内所配置的摄像元件没有检测到所述入射光的情况下，使从所述照射光学系统所照射的光按预定周期闪烁。
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公开(公告)号：CN102749039B
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201210113003.7
申请日：2012-04-17
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/03 , G01B11/2518 , G06T7/521 , G06T2207/30164
Abstract: 本发明公开了一种形状测量设备，包括：光照射单元，其将线状光照射到工件上；成像元件，其使由所述工件反射的反射光成像；以及成像透镜，其将由所述工件反射的反射光的像形成在所述成像元件的成像平面上，并且，所述光照射单元的光照射平面、包括所述成像透镜的主点的主平面、以及所述成像元件的成像平面满足沙姆普弗鲁克原理。所述形状测量设备还包括：像获取区域选择单元，其将所述成像元件的成像平面划分为多个区域，并响应于测量精度和测量范围的大小中的至少一个，从所述多个区域中选择用于在测量中使用的区域作为像获取区域。
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公开(公告)号：CN104034276A
公开(公告)日：2014-09-10
申请号：CN201410084250.8
申请日：2014-03-07
Applicant: 株式会社三丰
IPC: G01B11/24
CPC classification number: G01B11/24 , G01B11/005 , G01B11/25
Abstract: 一种形状测量设备，包括：照射部，用于利用线状的线激光来照射工件，所述照射部包括：光源，用于生成激光；第一光学构件，用于使来自所述光源的激光线状地散开，并且生成所述线激光；以及第二光学构件，其设置在所述光源和所述第一光学构件之间，用于调整所述工件上的线激光的照射面积；第一传感器，用于接收所述工件所反射的线激光，并且拍摄所述工件的图像；透镜，用于在所述第一传感器的摄像面上形成所述工件所反射的线激光的图像；以及控制部，用于通过所述第二光学构件来对所述工件上的线激光的照射面积的调整进行控制。
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公开(公告)号：CN101908266A
公开(公告)日：2010-12-08
申请号：CN201010194700.0
申请日：2010-06-07
Applicant: 株式会社三丰
CPC classification number: G06F13/4045 , G06F2213/0042
Abstract: 本发明提供一种信号转换装置、信号处理装置以及信号转换传送系统。输入工具(30)具备：输入输出单元(31)，其具有数显I/F；第一信号转换单元(351)，其将测量信号转换为能够由HID驱动器进行处理的基于HID键盘协议的信号形式；第二信号转换单元(352)，其将测量信号转换为能够由VCP驱动器(254)进行处理的基于虚拟串行端口协议的信号形式；转换控制单元(353)，其使第一信号转换单元(351)和第二信号转换单元(352)中的某一方实施测量信号的转换处理；以及USB通信单元(32)，其具有能够与PC(20)进行连接的USB I/F，并且实施测量信号的输出处理。
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公开(公告)号：CN1924521B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200610126498.1
申请日：2006-09-01
Applicant: 株式会社三丰
Abstract: 本发明提供一种表面形状测量装置，包括：测量部(210)，由具有检测作用于接触部(212)的测量力的测量力检测电路(219)的振荡式接触探头构成；移动单元(三维驱动机构(300)、上下驱动机构(220))，使测量部(210)相对于被测量物表面(S)进行移动；以及驱动控制部(400)，根据从测量力检测电路(219)输出的测量力的大小控制移动单元。驱动控制部(400)，包括：仿形测量控制部(410)，使接触部沿着被测量物表面(S)进行仿形移动，使得测量力成为仿形指定测量力；和触碰测量控制部(420)，连续地进行触碰测量被测量物表面(S)的动作，以使接触部(212)以触碰检测测量力断续地接触被测量物表面(S)。
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