公开(公告)号：CN112902899B

公开(公告)日：2022-08-02

申请号：CN202110074497.1

申请日：2017-06-23

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： S.E.亨明斯 ,  A.帕茨瓦尔德

IPC: G01B21/04

Abstract: 公开了一种用于操作坐标测量机(CMM)的方法，所述坐标测量机CMM包括CMM控制系统、表面扫描探头、以及探头测量定时子系统，该方法包括：操作CMM控制系统以在可预测的时间输出测量同步触发信号；操作探头测量定时子系统以确定所述可预测的时间，并确定探头工件测量采样周期的当前持续时间；操作探头测量定时子系统以确定预触发提前时间；操作探头测量定时子系统以开始探头工件测量采样周期的当前实例和确定探头工件测量的相关联的当前实例；操作CMM控制系统以在下一个可预测的时间输出当前的测量同步触发信号，并锁存与当前的测量同步触发信号相关联的CMM位置坐标值的当前集合；以及操作表面扫描探头以输出探头工件测量的当前实例。

公开(公告)号：CN107543484B

公开(公告)日：2020-09-15

申请号：CN201710492854.X

申请日：2017-06-26

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： S.E.亨明斯 ,  A.帕茨瓦尔德

IPC: G01B7/012

Abstract: 公开了一种用于操作包括工件扫描测头的坐标测量机(CMM)的方法。该方法在扫描测头中提供两个不同的测量采样周期持续时间：第一较短的采样周期持续时间提供具有第一精度的较快测量，第二较长的采样周期持续时间提供具有第二(更好)精度的较慢测量。较短的采样持续时间可与较长的采样持续时间重复交错或交替，以便在CMM的正在进行的操作期间为运动控制目的提供足够的精度和响应时间。较长的采样持续时间可以提供高精度的测头测量，以与来自位于CMM的运动轴上的编码器(位于扫描测头外部)的位置坐标值相组合，以在期望的频率或按要求提供高精度的工件测量。测头测量定时子系统可以确定第一和第二采样持续时间的启动时间。

公开(公告)号：CN109211155B

公开(公告)日：2020-08-04

申请号：CN201810695030.7

申请日：2018-06-29

Applicant: 株式会社三丰

Inventor： S.E.亨明斯

IPC: G01B21/00

Abstract: 公开了一组相应的自配置探针接口电路板(SC‑MPIC)，用于与包括主电子器件和相应可互换的测量探针的测量系统一起使用。每个构件SC‑MPIC包括：用于探针识别、信号处理和板间信号控制的本地电路(LS)；以及分别“指向”和远离测量探针的上方和下方连接器。构件SC‑MPIC通过在其上方连接器上产生较低板存在信号、在其下方连接器上产生较高板存在信号并且基于从相邻SC‑MPIC接收那些信号来确定它们是否是最高和/或最低SC‑MPIC来建立处理层级。它们可以使用来自兼容和不兼容探针的探针识别数据独立地执行探针识别匹配操作，且最高SC‑MPIC首先完成。根据层级、各种接收到的信号以及内部处理，构件SC‑MPIC有利地传递或隔离来自组中其他构件的信号。