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公开(公告)号：CN111526932A
公开(公告)日：2020-08-11
申请号：CN201880084610.0
申请日：2018-12-13
Applicant: 株式会社村田制作所
Abstract: 本发明使分离对象物的回收率提高。本发明的分离回收系统(1)是将流体(51)中的分离对象物(50)分离并回收的系统，具备：金属制多孔膜(10)，具有第1主面(PS1)以及与所述第1主面对置的第2主面(PS2)，并且具有多个贯通孔(13)；供给装置(30)，从所述金属制多孔膜的所述第1主面朝向所述第2主面供给包含所述分离对象物的流体；以及反洗装置(40)，从所述金属制多孔膜的所述第2主面朝向所述第1主面供给包含比所述金属制多孔膜的贯通孔的尺寸大的多个粒子(70)的流体(71)。
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公开(公告)号：CN105264356B
公开(公告)日：2017-10-27
申请号：CN201480019313.X
申请日：2014-03-25
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01N21/3581
CPC classification number: G01N21/51 , C12M33/14 , G01J3/453 , G01N1/405 , G01N1/4077 , G01N21/3586 , G01N2001/4088
Abstract: 一种测定方法，对由混合物构成的检测体中包含的至少1种被测定物的有无或被测定物的量进行测定，包含：第1捕捉工序，使用具有多个空隙部的第1空隙配置构造体，在所述第1空隙配置构造体对作为所述被测定物的1种的第1被测定物进行捕捉；第2捕捉工序，使用第2空隙配置构造体，对所述检测体中包含的夹杂物或者第2被测定物进行捕捉，所述第2空隙配置构造体具有多个空隙部，空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同；以及测定工序，在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后，向所述第1空隙配置构造体、或者所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体，照射电磁波，对进行了散射的电磁波的特性进行检测。
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公开(公告)号：CN104603599A
公开(公告)日：2015-05-06
申请号：CN201380046840.5
申请日：2013-08-09
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01N21/3581
CPC classification number: G01N21/59 , G01N21/01 , G01N21/03 , G01N21/3581 , G01N2021/0339 , G01N2201/02 , G01N2201/061 , G02B5/18 , G02B21/34 , H01J37/20 , H01J37/3178 , Y10T29/49
Abstract: 提供机械强度高、使用时难以产生弯曲和损坏的空隙配置结构体。空隙配置结构体(1)是通过电磁波的照射来测定被测定物的特性时使用的空隙配置结构体，空隙配置板(2)具有第1主面(2a)和与第1主面(2a)对置的第2主面(2b)，将从第1主面(2a)朝向第2主面(2b)贯通的多个空隙部(2c)设置在空隙配置板(2)，按照在该空隙配置板(2)的第1主面(2a)以及第2主面(2b)中的至少一方的主面具有使至少1个空隙部(2c)露出的开口部或缺口部的方式层叠支承基材(3、4)。
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公开(公告)号：CN104471372A
公开(公告)日：2015-03-25
申请号：CN201380037589.6
申请日：2013-07-22
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01S17/87 , G01N21/03 , G01N21/3581 , G01N21/4788 , G01N2021/0339 , G01S17/026
Abstract: 本发明是一种测定方法，其特征在于，所述测定方法是测定检体中的被测定物的有无或量的方法，其包括如下工序：过滤工序，将具有在垂直于主面的方向上贯通的多个空隙部的空隙配置结构体用作物理过滤器，从所述检体中过滤所述被测定物，将所述被测定物保持于所述空隙配置结构体；测定工序，对保持了所述被测定物的所述空隙配置结构体照射电磁波，检测因所述空隙配置结构体而被散射的电磁波的特性。
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公开(公告)号：CN104380083A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201380032034.2
申请日：2013-07-03
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01N21/3586
CPC classification number: G01N21/01 , G01N21/3586 , G02B5/005
Abstract: 本发明是一种空隙配置构造体，其被用于以下方法，即通过对保持有被测定物的空隙配置构造体照射电磁波，并对通过所述空隙配置构造体而散射的电磁波的频率特性进行检测，从而测定所述被测定物的特性，所述空隙配置构造体具有：第1主面、与所述第1主面对置的第2主面、以及在与所述第1主面以及所述第2主面垂直的方向上贯通的多个空隙部，所述第1主面上的所述空隙部的开孔面积比所述第2主面上的所述空隙部的开孔面积小。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103180716A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201180050825.9
申请日：2011-08-25
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/01 , G01N21/3581
Abstract: 本发明是一种在平板状的周期性结构体（1）上保持被测量物、对所述周期性结构体（1）照射线性偏振的电磁波并基于通过所述周期性结构体（1）而前方散射或后方散射的电磁波的变化对被测量物的物性进行测量的测量方法，其中，所述周期性结构体（1）是将同一形状的单位结构体在1个基准面的方向上二维且周期性地连接多个而成的结构体，所述单位结构体具有在与所述基准面垂直的方向上贯通的至少1个空隙部（11），所述电磁波从相对于所述基准面垂直的方向进行照射，所述单位结构体的形状是相对于与所述电磁波的偏振方向正交的假想面而不成为镜像对称的形状。
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公开(公告)号：CN105074425A
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201480010245.0
申请日：2014-01-24
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01N21/01 , G01N21/3581
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/03 , G01N21/3581 , G01N2021/0339 , Y10T428/24298 , Y10T428/24306
Abstract: 本发明提供一种能够调整波谷波形、波峰波形的频率位置的空隙配置构造体以及使用该空隙配置构造体的测定方法。空隙配置构造体(1)，其被用于通过电磁波的照射来测定被保持的被测定物，多个空隙部(1c)从第1主面(1a)向第2主面(1b)贯通，空隙部(1c)的开口形状具有至少一个角部(C1)，在角部(C1)，位于该角部(C1)的两侧的直线部分(L1、L2)彼此通过曲线部分(2)来连接。
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公开(公告)号：CN103562707B
公开(公告)日：2015-10-21
申请号：CN201280026077.5
申请日：2012-04-09
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01N21/3586 , G01N21/03
CPC classification number: G01N21/3586 , G01J3/42 , G01N21/03 , G01N21/3577 , G01N2021/035 , G01N2021/3595
Abstract: 本发明是一种测定方法，其中，在具有空隙部(10)的空隙配置结构体(1)保持被测定物(2)，向所述空隙配置结构体(1)照射电磁波，并对从所述空隙配置结构体(1)反射出的电磁波的频率特性进行检测，由此对所述被测定物(2)的特性进行测定，该测定方法的特征在于，包括在作为所述空隙配置结构体(1)的一方主面的第一主面的至少一部分上直接或者间接地附着液体(3)，并从作为所述空隙配置结构体(1)的另一方主面的第二主面侧照射电磁波的步骤，所述空隙配置结构体(1)的空隙部(10)为所述液体(3)不会从所述第一主面侧向所述第二主面侧泄漏那样的大小，所述液体(3)在开放为存在气压的气氛下的状态下，附着在所述空隙配置结构体(1)的第一主面上。
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公开(公告)号：CN103180716B
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201180050825.9
申请日：2011-08-25
Applicant: 株式会社村田制作所
IPC: G01N21/3581 , G01N21/01 , G01N21/47
CPC classification number: G01N21/47 , G01N21/01 , G01N21/3581
Abstract: 本发明是一种在平板状的周期性结构体（1）上保持被测量物、对所述周期性结构体（1）照射线性偏振的电磁波并基于通过所述周期性结构体（1）而前方散射或后方散射的电磁波的变化对被测量物的物性进行测量的测量方法，其中，所述周期性结构体（1）是将同一形状的单位结构体在1个基准面的方向上二维且周期性地连接多个而成的结构体，所述单位结构体具有在与所述基准面垂直的方向上贯通的至少1个空隙部（11），所述电磁波从相对于所述基准面垂直的方向进行照射，所述单位结构体的形状是相对于与所述电磁波的偏振方向正交的假想面而不成为镜像对称的形状。
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公开(公告)号：CN104114997A
公开(公告)日：2014-10-22
申请号：CN201280070089.8
申请日：2012-10-25
Applicant: 株式会社村田制作所
CPC classification number: G01N21/359
Abstract: 本发明是用于测定被测定物的特性的测定装置，特征在于，该测定装置具备：至少一个光源，用于照射具有规定的频率分布的电磁波；空隙配置结构体，配置在被所述电磁波照射的位置，用于在测定时在该空隙配置结构体的表面保持所述被测定物；检测器，用于检测作为透过了所述空隙配置结构体的所述电磁波的透过光、或作为由所述空隙配置结构体反射的所述电磁波的反射光；和壳体，用于容纳所述光源、所述空隙配置结构体以及所述检测器。
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