测定方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN105264356B

    公开(公告)日:2017-10-27

    申请号:CN201480019313.X

    申请日:2014-03-25

    Abstract: 一种测定方法,对由混合物构成的检测体中包含的至少1种被测定物的有无或被测定物的量进行测定,包含:第1捕捉工序,使用具有多个空隙部的第1空隙配置构造体,在所述第1空隙配置构造体对作为所述被测定物的1种的第1被测定物进行捕捉;第2捕捉工序,使用第2空隙配置构造体,对所述检测体中包含的夹杂物或者第2被测定物进行捕捉,所述第2空隙配置构造体具有多个空隙部,空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同;以及测定工序,在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后,向所述第1空隙配置构造体、或者所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体,照射电磁波,对进行了散射的电磁波的特性进行检测。

    被测定物的测定方法
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN105264356A

    公开(公告)日:2016-01-20

    申请号:CN201480019313.X

    申请日:2014-03-25

    Abstract: 一种测定方法,对由混合物构成的检测体中包含的至少1种被测定物的有无或被测定物的量进行测定,包含:第1捕捉工序,使用具有多个空隙部的第1空隙配置构造体,在所述第1空隙配置构造体对作为所述被测定物的1种的第1被测定物进行捕捉;第2捕捉工序,使用第2空隙配置构造体,对所述检测体中包含的夹杂物或者第2被测定物进行捕捉,所述第2空隙配置构造体具有多个空隙部,空隙部的大小以及表面的修饰状态中的至少任一者与所述第1空隙配置构造体不同;以及测定工序,在所述第1捕捉工序以及所述第2捕捉工序之后,向所述第1空隙配置构造体、或者所述第1空隙配置构造体及所述第2空隙配置构造体,照射电磁波,对进行了散射的电磁波的特性进行检测。

Patent Agency Ranking