公开(公告)号：CN112255251B

公开(公告)日：2024-07-30

申请号：CN202010626211.1

申请日：2020-07-02

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 岩井厚司 ,  万木太 ,  冨永浩太 ,  牧広祥

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明涉及检查装置。X射线检查装置(1)具有：存储部(21)，存储多种图像处理算法；获取部(22)，获取通过使电磁波透射附有异物(F)的物品(A)得到的透射图像(P11)或者合成透射图像(P13)作为基准透射图像(P1)；评价部(24)，根据利用存储部(21)中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像(P1)进行处理得到的评价图像(P3)，评价各种图像处理算法对异物(F)的检测精度；以及设定部(25)，根据评价部(24)的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。

公开(公告)号：CN116735626A

公开(公告)日：2023-09-12

申请号：CN202310226308.7

申请日：2023-03-09

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 岩川健 ,  万木太 ,  吉田圭佑

IPC: G01N23/04 ,  G01V5/00

Abstract: 本申请提供X射线检查装置及其调整方法。X射线检查装置具备：输送部，输送物品；X射线源，向物品照射X射线；X射线检测部，能够通过光子计数方式检测X射线，并且，基于任意的阈值将检测到的X射线的光子能量辨别到两个以上的能量区域；阈值设定部，设定任意的阈值；X射线图像生成部，基于X射线检测部对X射线的检测结果，生成与两个以上的能量区域对应的两个以上的X射线透射图像；以及检查部，基于由X射线检测部所检测的透过物品后的X射线，实施物品的检查，其中，阈值设定部基于两个以上的X射线透射图像的浓淡来设定任意的阈值。

公开(公告)号：CN112255251A

公开(公告)日：2021-01-22

申请号：CN202010626211.1

申请日：2020-07-02

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 岩井厚司 ,  万木太 ,  冨永浩太 ,  牧広祥

IPC: G01N23/04

Abstract: 本发明涉及检查装置。X射线检查装置(1)具有：存储部(21)，存储多种图像处理算法；获取部(22)，获取通过使电磁波透射附有异物(F)的物品(A)得到的透射图像(P11)或者合成透射图像(P13)作为基准透射图像(P1)；评价部(24)，根据利用存储部(21)中存储的多种图像处理算法分别对基准透射图像(P1)进行处理得到的评价图像(P3)，评价各种图像处理算法对异物(F)的检测精度；以及设定部(25)，根据评价部(24)的评价将图像处理算法中至少一种图像处理算法设定为预先选择的图像处理算法。

公开(公告)号：CN112070991A

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN202010499016.7

申请日：2020-06-04

Applicant: 株式会社石田

Inventor： 岩渕瑞生 ,  万木太 ,  野野原靖也 ,  府中谷洸介 ,  堤弘法

IPC: G07G1/00 ,  G07G1/06 ,  G07G1/12 ,  G06K9/62 ,  G06N3/04 ,  G06N3/08

Abstract: 一种物品识别系统以及具备物品识别系统的结账处理系统，能够根据物品图像精确推断物品的种类。物品识别系统具备摄像机、推断部和设定部。摄像机拍摄物品并获取物品图像。推断部根据物品图像获取用于推断物品的种类的第一信息，并基于所获取的第一信息，从物品种类组中推断一个或多个物品的种类。设定部在物品种类组中设定在经营种类的物品和未经营种类的物品中的至少一种。推断部优先于未经营种类的物品，将在经营种类的物品推断为对应于物品图像的物品的种类。