公开(公告)号：CN103207328B

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201310004911.7

申请日：2013-01-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菊池裕之 ,  相泽光范

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R1/0433 ,  G01R1/0466 ,  G01R31/01 ,  G01R31/02 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2874 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。

公开(公告)号：CN104950245A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201410497125.X

申请日：2014-09-25

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菊池有朋 ,  山下毅 ,  相泽光范 ,  堀野浩光 ,  山田祐也 ,  小野泽正贵

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01C11/00 ,  G01R1/0441 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：调整用插座，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与器件保持器嵌合；调整用插座位置检测部，检测在调整用插座与器件保持器相嵌合的状态中被测器件相对于调整用插座的相对位置；执行器，基于检测到的被测器件的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。

公开(公告)号：CN104950244A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201410495996.8

申请日：2014-09-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山田祐也 ,  相泽光范

IPC: G01R31/28 ,  G01R1/04

CPC classification number: G01R1/0416 ,  G01R1/0441 ,  G01R1/0466 ,  G01R31/043 ,  G01R31/2891 ,  G01R31/2893 ,  Y10T403/32557

Abstract: 本发明提供一种固定单元、固定工具、分选装置及测试装置，其中的固定单元是包括在具有相对的第一壁面及第二壁面的间隙部的被固定单元中与间隙部相嵌合的嵌合针脚的固定单元；嵌合针脚包括：固定针脚，插入间隙部并与第一壁面相接触；移动针脚，插入间隙部并抵压于第二壁面上；以及基体，固定固定针脚；移动针脚具有以移动的中心轴为中心的圆弧状的底部，该底部相对于基体上设置的凹部被可滑动地嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。固定单元在包括具有相对的第一壁面及第二壁面的间隙部的被固定单元上切实地嵌合。

公开(公告)号：CN104950242A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201410495944.0

申请日：2014-09-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山下毅 ,  相泽光范 ,  堀野浩光 ,  山田祐也 ,  小野泽正贵

IPC: G01R31/28

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01C11/00 ,  G01R1/0441 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种分选装置及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：插座嵌合单元，在将保持被测器件的器件保持器嵌合到测试用插座之前，与测试用插座相嵌合；测试用插座位置检测部，检测在测试用插座与插座嵌合单元相嵌合的状态中插座嵌合单元相对于测试用插座的相对位置；执行器，基于检测到的插座嵌合单元的相对位置，调整器件保持器上的被测器件的位置；运送部，运送被测器件的位置被调整后的器件保持器并使其与测试用插座相嵌合。使被测器件与测试用插座准确电连接。

公开(公告)号：CN104941927A

公开(公告)日：2015-09-30

申请号：CN201410495997.2

申请日：2014-09-24

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 山下毅 ,  相泽光范 ,  堀野浩光 ,  山田祐也 ,  小野泽正贵

IPC: B07C5/344 ,  B07C5/02 ,  G01R31/00

CPC classification number: G01R31/2891 ,  G01C11/00 ,  G01R1/0441 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种分选装置、分选装置的调整方法及测试装置，其中的分选装置是将被测器件运送到测试用插座分选装置，其中包括：执行器，在将保持被测器件的器件保持器嵌合于测试用插座之前与器件保持器相嵌合，调整器件保持器上的被测器件的位置；以及执行器调整部，将执行器嵌合于执行器嵌合单元，调整执行器的驱动量。调整执行器的位置从而提高被测器件的位置精度。