公开(公告)号：CN103207328B

公开(公告)日：2016-01-13

申请号：CN201310004911.7

申请日：2013-01-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菊池裕之 ,  相泽光范

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R1/0433 ,  G01R1/0466 ,  G01R31/01 ,  G01R31/02 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2874 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。

公开(公告)号：CN104597296A

公开(公告)日：2015-05-06

申请号：CN201510039062.8

申请日：2013-01-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菊池裕之 ,  相泽光范

IPC: G01R1/04 ,  G01R31/26

CPC classification number: G01R1/0433 ,  G01R1/0466 ,  G01R31/01 ,  G01R31/02 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2874 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。

公开(公告)号：CN103207328A

公开(公告)日：2013-07-17

申请号：CN201310004911.7

申请日：2013-01-07

Applicant: 爱德万测试株式会社

Inventor： 菊池裕之 ,  相泽光范

IPC: G01R31/00

CPC classification number: G01R1/0433 ,  G01R1/0466 ,  G01R31/01 ,  G01R31/02 ,  G01R31/2867 ,  G01R31/2874 ,  G01R31/2893

Abstract: 本发明提供一种处理装置，用于传送多个被测器件并使其与设置于测试装置的测试头上的多个插座相连，其中包括：位置调整部，用于在多个被测器件装载的测试盘上使各个被测器件移动，并调整相对于各个插座的位置；以及，器件装设部，用于将由位置调整部进行位置调整后的多个被测器件装设于多个插座上。所述处理装置能够高速且低耗电地将被测器件连接于测试装置的插座中。