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公开(公告)号：CN107453756A
公开(公告)日：2017-12-08
申请号：CN201710706615.X
申请日：2017-08-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 一种用于流水线ADC的前端校准方法，属于模拟集成电路技术领域。本发明从流水线ADC的第一级增益开始校正，直到依次校正完流水线ADC的前N-1级增益为前端校准一次，当得到第一级增益至第N-1级增益后可得还原后的信号与原信号的误差；具体基于MATLAB程序搜索流水线ADC每级增益，进而通过对流水线ADC输出数据进行还原，对还原后信号进行快速傅立叶变换分析，当有效位数等指标满足要求时即可认为增益查找正确，从而实现流水线ADC校准。本发明改善了高速高精度流水线ADC中传统校准精度低的缺点，具有高效快速准确的特点，比较适用于高速高精度流水线ADC校准。
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公开(公告)号：CN106533443A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201611024728.3
申请日：2016-11-16
Applicant: 电子科技大学
CPC classification number: H03M1/1023 , H03M1/125 , H03M1/462
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体涉及一种高速动态比较器失调电压校准电路。该电路包括：脉冲调制器、数模转换器、比较器、寄存器逻辑单元以及失调电压校准电路，电路采用上级板采样，比较器输入端连接数模转换器输出端或共模电平，失调电压校准电路的输出端连接数模转换器的输入端。本发明的比较器失调电压是通过校准电路及数模转换器来补偿的。本发明为数字校准，硬件要求低、可靠性高、功耗低、校准精确。
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公开(公告)号：CN106160743A
公开(公告)日：2016-11-23
申请号：CN201610529376.0
申请日：2016-07-06
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/12
CPC classification number: H03M1/1245 , H03M2201/847
Abstract: 本发明属于模拟集成电路技术领域，具体涉及一种用于采样保持电路的栅压自举开关电路。本发明结构在传统栅压自举电路的基础上添加了自举电压增大电路，从而进一步增大采样自举电压，不仅减小了采样开关的导通电阻，加快了响应速度，而且更是降低了阈值电压VTH中由于Vin所带来的非线性失真，提高了开关的线性度和采样精度。本发明的目的是提供一种新型的栅压自举开关电路，适用于低电源电压、高精度、高速采样的应用。
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公开(公告)号：CN109150182B
公开(公告)日：2021-10-26
申请号：CN201810988892.9
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种适用于比较器的亚稳态检测电路，属于模拟集成电路技术领域。包括异步逻辑模块、亚稳态检测模块和亚稳态标志位产生模块，异步逻辑模块用于产生比较器逻辑信号，亚稳态检测模块用于产生第一输出信号，当第一输出信号为1时表示比较器未出现亚稳态，当第一输出信号为0时表示比较器可能出现亚稳态，此时利用亚稳态标志位产生模块进一步检测比较器是否真的出现亚稳态，当亚稳态标志位产生模块输出的第二输出信号为1时表示亚稳态真实，当第二输出信号为0时表示亚稳态不真实。本发明用于检测比较器是否出现亚稳态，避免比较器出现比较时间过长或比较出错的情况，能够适用于高速高精度SAR ADC电路中。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109120268B
公开(公告)日：2021-09-24
申请号：CN201810987111.4
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 一种动态比较器失调电压校准方法，属于模拟集成电路技术领域。本发明适用于下极板采样形式的逐次逼近模数转换器，通过在逐次逼近模数转换器的数模转换器中设置一个与量化电容阵列相同结构的校准电容阵列实现对比较器失调电压的校准；逐次逼近模数转换器的数模转换器的量化过程包括校准模式和正常工作模式，校准模式时利用逐次逼近模数转换器对0量化得到失调码字，正常工作模式时根据失调码字控制校准电容阵列中电容的切换，得到消除了比较器失调电压的输出量化码字。本发明能够消除逐次逼近模数转换器得到的输出量化码字中的比较器失调电压的相关影响，逻辑简单易于实现，校准精度高且不需要实时刷新。
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公开(公告)号：CN108988859B
公开(公告)日：2021-09-07
申请号：CN201810987975.6
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/06
Abstract: 基于冗余位的比较器失调电压校准方法，属于模拟集成电路技术领域。本发明基于DAC电容阵列包括冗余位电容的SAR ADC，首先利用DAC电容阵列对0采样并量化得到第一量化码字，然后利用DAC电容阵列中的量化电容对输入电压采样并量化得到第二量化码字，将第二量化码字减去第一量化码字与理想量化码字的差值，即可得到经过校准比较器失调电压之后的SAR ADC的输出量化码字，最后将输出量化码字的位数转换为正确位数即完成校准。本发明具有灵活性高、可校准的失调电压范围大和完全保证了SAR ADC的量化范围的特点。
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公开(公告)号：CN109150182A
公开(公告)日：2019-01-04
申请号：CN201810988892.9
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
CPC classification number: H03M1/1095 , H03M1/14
Abstract: 一种适用于比较器的亚稳态检测电路，属于模拟集成电路技术领域。包括异步逻辑模块、亚稳态检测模块和亚稳态标志位产生模块，异步逻辑模块用于产生比较器逻辑信号，亚稳态检测模块用于产生第一输出信号，当第一输出信号为1时表示比较器未出现亚稳态，当第一输出信号为0时表示比较器可能出现亚稳态，此时利用亚稳态标志位产生模块进一步检测比较器是否真的出现亚稳态，当亚稳态标志位产生模块输出的第二输出信号为1时表示亚稳态真实，当第二输出信号为0时表示亚稳态不真实。本发明用于检测比较器是否出现亚稳态，避免比较器出现比较时间过长或比较出错的情况，能够适用于高速高精度SAR ADC电路中。
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公开(公告)号：CN108988859A
公开(公告)日：2018-12-11
申请号：CN201810987975.6
申请日：2018-08-28
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/06
Abstract: 基于冗余位的比较器失调电压校准方法，属于模拟集成电路技术领域。本发明基于DAC电容阵列包括冗余位电容的SAR ADC，首先利用DAC电容阵列对0采样并量化得到第一量化码字，然后利用DAC电容阵列中的量化电容对输入电压采样并量化得到第二量化码字，将第二量化码字减去第一量化码字与理想量化码字的差值，即可得到经过校准比较器失调电压之后的SAR ADC的输出量化码字，最后将输出量化码字的位数转换为正确位数即完成校准。本发明具有灵活性高、可校准的失调电压范围大和完全保证了SAR ADC的量化范围的特点。
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公开(公告)号：CN107359878A
公开(公告)日：2017-11-17
申请号：CN201710706638.0
申请日：2017-08-17
Applicant: 电子科技大学
IPC: H03M1/10
Abstract: 一种用于流水线ADC的前端校准方法，属于模拟集成电路技术领域。本发明从流水线ADC的第一级增益开始校正，直到依次校正完流水线ADC的前N-1级增益为前端校准一次，当得到第一级增益至第N-1级增益后可得还原后的信号与原信号的误差；在校准之前先利用闪存式ADC的数字输出得到流水线ADC前N-1级的模拟输出；在校准过程中具体基于MATLAB程序搜索流水线ADC每级增益，进而通过对流水线ADC输出数据进行还原，对还原后信号进行快速傅立叶变换分析，当有效位数等指标满足要求时即可认为增益查找正确，从而实现流水线ADC校准。本发明改善了高速高精度流水线ADC中传统校准精度低的缺点，具有高效快速准确的特点，比较适用于高速高精度流水线ADC校准。
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