Abstract:
PURPOSE: A testing system for data and address signal is provided to monitor the board in test in real time from the exterior. CONSTITUTION: A testing system for a printed circuit board by microcomputer controller using a central processing unit, an address bus, a data bus and a control bus comprises: a latch; a first gate; and a second gate. The latch coupled to the address bus, data bus and control bus respectively latches a predetermined information by being activated by the signal through the control bus. The first gate coupled to the latch and control bus is activated by the signal through the control bus to feedback the latched information to the data bus. Finally, the second gate coupled to the latch and control bus is activated by the signal through the control bus to the latched information to the exterior system.
Abstract:
병렬형(NOR-type) 플래시 인터페이스를 지원하는 직렬형(NAND-type) 플래시 메모리 장치를 이용한 시스템 부팅 방법을 제공한다. 시스템 부팅 방법은 마이크로 프로세서 안에 있는 내부 롬의 루틴에 따라, 전원이 턴온될 때 직렬형 플래시 메모리 버퍼에 로딩된 부트 코드 로더를 실행하는 단계와, 부트 코드 로더에 따라, 직렬형 플래시 메모리에 저장된 부트 코드를 마이크로 프로세서의 내부 버퍼로 전달하는 단계와, 부트 코드에 따라, 직렬형 플래시 메모리에 저장된 어플리케이션 코드를 메인 메모리에 전달하는 단계, 및 어플리케이션 코드를 실행하는 단계를 포함한다. OneNAND, 내부 롬, 부팅, 부트 코드, 부트 코드 로더
Abstract:
A pickup inspection apparatus has a machine unit, spindle and feed motors, a servo unit, a position detection unit, a measurement unit and a control unit. In the machine unit, a pickup module to be inspected and a test disc for inspection are installed. The spindle motor is installed in the machine unit to rotate the test disc. The feed motor is installed in the machine unit to perform a tracking operation. The servo unit drives the spindle and the feed motors. The position detection unit detects a tracking position by the feed motor. The measurement unit processes signals outputted from the pickup module. The control unit controls the servo unit and the measurement unit and determines the state of the pickup module according to a measurement result of the measurement unit.
Abstract:
PURPOSE: A device for inspecting pickup units is provided to inspect characteristics of the various models of pickup units, without transforming the inspecting device according to models of the pickup units. CONSTITUTION: An inspected pickup unit(22) is separated from an optical disk(D). A signal amplifier(23) amplifies a signal detected by the pickup unit, for outputting. A pickup signal measurer(24) measures and analyzes a detection signal amplified by the signal amplifier, and outputs an analyzed result. A spindle motor rotates the optical disk. A feed motor(21) adjusts a position of the optical disk. The spindle motor and the feed motor are driven by driving signals amplified to an appropriate size by the signal amplifier. An inspecting computer(25) includes an inspection unit(26), an input unit(27) and a display unit(28). The display unit displays the analyzed result by the pickup signal measurer. The inspection unit is composed of a servo controller(26a), a ROM(Read Only Memory,26b) and a RAM(Random Access Memory,26c). The RAM stores reference data inputted by the input unit and corresponding to a model of the inspected pickup unit. The ROM stores a program to control a series of inspection processes. And the servo controller reads the program from the ROM to perform the inspection processes.
Abstract:
PURPOSE: An apparatus for inspecting a pickup is provided to reduce an inspection time by realizing various types of inspection for the various pickups, and reduce the manufacturing cost. CONSTITUTION: An apparatus part(80) is provided from mounting a pickup module(91) to be tested and a test disc(92) for inspection. A spindle motor(71) is installed at the apparatus part for rotating the test disc. A feed motor(72) is provided for tracking. A servo unit(60) drives the spindle motor and the feed motor. A location sensing unit(100) detects a tracking position by the feed motor. A measuring unit(110) processes a signal output from the pickup module. A control unit(50) controls the servo unit and the measuring unit, and judges the state of the pickup module according to the measurement result of the measuring unit.
Abstract:
본 발명은 데이터 및 어드레스 신호점검 시스템에 관한 것으로서, CPU(21) 및 이에 접속되는 어드레스 버스(25), 데이터 버스(26), 컨트롤 버스(27)를 이용한 마이컴 제어로 인쇄회로 기판의 검사 등 소정의 알고리즘을 수행하는 장치에 있어서: 상기 어드레스 버스(25)·데이터 버스(26)·컨트롤 버스(27)와 각각 연결되고, 상기 컨트롤 버스(27)를 통한 신호에 의해 액티브되어 소정의 정보를 저장하는 래치(22); 상기 래치(22) 및 컨트롤 버스(27)와 연결되고, 컨트롤 버스(27)를 통한 신호에 의해 액티브되어 래치(22)의 정보를 상기 데이터 버스(26)로 피드백하는 제 1 게이트(23); 그리고 상기 래치(22) 및 컨트롤 버스(27)와 연결되고, 컨트롤 버스(27)를 통한 신호에 의해 액티브되어 래치(22)의 정보를 외부 시스템(30)에 전달하는 제 2 게이트(24)를 포함하여 이루어지는 것을 특징으로 한다. 이에 따라 인쇄회로 기판의 검사장비에서 각 검사보드가 정상적인 동작을 수행하는지 외부에서 실시간으로 감시할 수 있도록 하는 효과가 있다.
Abstract:
개시된 고속 스위칭 회로는 집적소자의 동작 상태를 테스트하는 보드 테스터의 드라이브 출력단 등에 사용되는 것으로 응답 속도가 빠르고, 입력신호의 주파수가 높을수록 빠른 속도로 구동신호를 출력하여 집적소자를 빠른 속도로 테스트할 수 있도록 하는 것이다. 본 발명은 입력단자의 입력신호에 따라 선택적으로 동작하는 제 1 스위칭 소자 및 제 2 스위칭 소자를 구비함과 아울러 입력단자와 제 1 스위칭 소자 및 제 2 스위칭 소자의 사이에는, 콘덴서 및 저항을 병렬 연결하여 입력신호에 따라 고속으로 응답하는 제 1 고속 응답 수단 및 제 2 고속 응답 수단을 구비한 것으로서 입력신호의 주파수가 높을수록 제 1 고속 응답 수단 및 제 2 고속 응답 수단의 임피던스가 감소되면서 입력신호를 빠른 속도로 제 1 스위칭 소자 및 제 2 스위칭 소자에 전달하여 제 1 스위칭 소자 및 제 2 스위칭 소자가 빠른 속도로 동작하게 하고, 제 1 스위칭 소자 및 제 2 스위칭 소자는 PNP형 트랜지스터 및 NPN형 트랜지스터를 한 쌍으로 사용하여 입력신호에 따라 선택적으로 포화 상태 및 차단 상태로 동작하면서 안정된 구동신호를 출력� �으로써 입력신호에 따라 빠른 응답 속도로 구동신호를 출력하여 집적소자를 고속으로 안정하게 테스트할 수 있고, 또한 높은 임피던스로 안정되게 구동신호를 출력한다.